「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a technique for testing a filtering device appropriately.例文帳に追加

フィルタリング装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

LEAKAGE TESTING METHOD AND DEVICE USING SEALED STRUCTURE, AND SEALED STRUCTURE OF LEAKAGE TESTING DEVICE例文帳に追加

密閉構造体を用いた漏洩試験方法および漏洩試験装置ならびに漏洩試験装置用密閉構造体 - 特許庁

DURABILITY TESTING METHOD OF COATING MEMBER AND TEST DEVICE THEREFOR例文帳に追加

コーティング部材の耐久性試験方法および試験装置 - 特許庁

INFORMATION RECORDING/REPRODUCING DEVICE AND PERFORMANCE DETERMINATION TESTING MEDIUM例文帳に追加

情報記録再生装置及び性能判定試験媒体 - 特許庁

COMPONENT TRANSFER DEVICE, SURFACE MOUNTING APPARATUS, AND COMPONENT TESTING APPARATUS例文帳に追加

部品搬送装置、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING BENDING PROPERTY OF FLEXIBLE BOARD例文帳に追加

フレキシブル基板の折り曲げ性試験装置およびその方法 - 特許庁

VACUUM CHAMBER TESTING METHOD AND DEVICE FOR PIPELINE PENETRATION WELD ZONE例文帳に追加

配管貫通溶接部真空箱試験方法及び装置 - 特許庁

DEVICE PACKAGE, AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

デバイスパッケージ、ならびにその製造方法および試験方法 - 特許庁

OSCILLATION CIRCUIT, PLL CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CHIP, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

発振回路、ＰＬＬ回路、半導体チップ、および、試験装置 - 特許庁

MODULATION CIRCUIT, SIGNAL GENERATOR, TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

変調回路、信号発生器、試験装置、及び半導体チップ - 特許庁

DEVICE PACKAGE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD例文帳に追加

デバイスパッケージ、ならびにその製造方法および試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SIMULATION TESTING ON CENTRIFUGAL STRESS OF TURBINE BLADE例文帳に追加

タービン翼の遠心応力模擬試験方法及び装置 - 特許庁

CIRCUIT TESTING DEVICE, CIRCUIT TEST PROGRAM, AND CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加

回路試験装置、回路試験プログラムおよび回路試験方法 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁

CERAMIC HEATER AND SUPPOTING PIN FOR SEMICONDUCTOR MANUFACTURING AND TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体製造・検査装置用セラミックヒータおよび支持ピン - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND DELAYED FAULT TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置、及び、遅延故障試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD OF TESTING AUXILIARY BRAKE OF PASSENGER CONVEYOR例文帳に追加

乗客コンベアの補助ブレーキの試験装置及び試験方法 - 特許庁

BOLT TESTING MACHINE INSTALLING DEVICE FOR ROOF AND ITS INSTALLATION METHOD例文帳に追加

屋根用ボルト試験機取付装置及びその設置方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁

DSP BUS STRUCTURE OF CONTROL DEVICE IN VIBRATION TESTING MACHINE例文帳に追加

振動試験機における制御装置のＤＳＰバス構造 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験システム及び半導体デバイスの試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD THEREOF AND SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体装置およびその検査方法および半導体チップ - 特許庁

TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS MAINTENANCE METHOD例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置及びその管理方法 - 特許庁

SELF-TESTING APPARATUS AND METHOD FOR RECONFIGURABLE DEVICE LOADING BOARD例文帳に追加

リコンフィグラブルデバイス搭載ボードのセルフテスト装置および方法 - 特許庁

PROCESS TESTER AND TESTING METHODOLOGY FOR THIN-FILM PHOTOVOLTAIC DEVICE例文帳に追加

薄膜光電池装置のためのプロセステスタ及びテスティング技法 - 特許庁

To efficiently perform a test for calculating a J_1C value, in a material testing device.例文帳に追加

Ｊ_１Ｃ値を求めるための試験を効率よく行う。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ABRASION TESTING FOR COVERED ELECTRIC WIRE例文帳に追加

被覆電線の摩耗試験方法および摩耗試験装置 - 特許庁

To prevent a stop due to pulse noise in the testing device operation.例文帳に追加

パルス性ノイズによる試験機の運転停止を防止する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SEMICONDUCTOR COMPONENT TESTING例文帳に追加

半導体部品検査方法および半導体部品検査装置 - 特許庁

GAS-TANK-TYPE THERMAL SHOCK-TESTING DEVICE AND ITS OPERATION METHOD例文帳に追加

気槽式熱衝撃試験装置及びその運転方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SURFACE FLAW IN MAGNETIC DISK MEDIUM例文帳に追加

磁気ディスク媒体の表面欠陥試験方法および装置 - 特許庁

CHUCK MECHANISM OF DISCHARGE AND CHARGE TESTING DEVICE FOR THIN TYPE SECONDARY CELL例文帳に追加

薄型二次電池用充放電試験装置のチャック機構 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING AND TESTING SATELLITE例文帳に追加

衛星の調整及び試験を行うための方法及び装置 - 特許庁

ADHESIVE WEAR TESTING DEVICE AND ADHESIVE WEAR TEST METHOD例文帳に追加

凝着摩耗試験装置および凝着摩耗試験方法 - 特許庁

To provide an interface for an optical device for improving the coherent testing of the optical device.例文帳に追加

光学装置のコヒーレント測定を改善する光学装置へのインタフェース。 - 特許庁

To provide a device easy to be handled for driving/testing a picture pattern display device.例文帳に追加

取扱容易な図柄表示装置の駆動・試験装置を提供する。 - 特許庁

OPTICAL FIBER POSITION ADJUSTING DEVICE, SINGLE OPTICAL FIBER MOVING DEVICE, AND TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

光ファイバ位置調整装置、単一光ファイバ移動装置および試験装置 - 特許庁

UNEVEN SENSITIVITY REMOVER, IMAGE PICKUP DEVICE, AND UNEVEN DISPLAY TESTING SYSTEM OF DISPLAY DEVICE例文帳に追加

感度むら除去装置、撮像装置、表示装置の表示むら検査システム - 特許庁

STEP ATTENUATING DEVICE, TESTING DEVICE USING THE SAME, AND SIGNAL GENERATOR例文帳に追加

ステップ減衰装置およびそれを用いた試験装置および信号発生器 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE, SUBSTRATE TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

基板検査装置、基板検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

CONTROL DEVICE, BOARD-TESTING DEVICE, AND UNIQUE INFORMATION STORAGE-CONTROL METHOD例文帳に追加

コントロール装置およびボードテスト装置および固有情報保存制御方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SHORT CIRCUIT OF CONNECTING END IN SEMICONDUCTOR ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

半導体電子デバイスの接続端の短絡検査方法及びその装置 - 特許庁

FATIGUE TESTING DEVICE AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の疲労試験装置および半導体装置の疲労試験方法 - 特許庁

VARIABLE DELAY DEVICE, SIGNAL DELAYING METHOD AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

可変遅延装置、信号遅延方法、および半導体装置の試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, TEST PROGRAM, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置 - 特許庁