「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(47ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a technique for suitably testing a speed conversion device.例文帳に追加

速度変換装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING MULTI-STACK INTEGRATED CIRCUIT PACKAGE例文帳に追加

マルチ−スタック集積回路パッケージをテストする装置及び方法 - 特許庁

DISTRIBUTION GOODNESS-OF-FIT TESTING DEVICE, CONSUMABLE ITEM SUPPLY TIMING DETERMINATION DEVICE, IMAGE FORMATION APPARATUS, DISTRIBUTION GOODNESS-OF-FIT TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

分布適合度検定装置、消耗品補給タイミング判定装置、画像形成装置、分布適合度検定方法及びプログラム - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING LSI MIXED WITH RAM BUILT IN CPU例文帳に追加

ＣＰＵ内蔵ＲＡＭ混載ＬＳＩのテスト装置および方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING CORROSION CRACKING CAUSED BY WELDING RESIDUAL STRESS例文帳に追加

溶接残留応力の腐食割れ試験方法および装置 - 特許庁

ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE FOR TESTING OR TREATING SAMPLE例文帳に追加

試料を検査または処理するための荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体装置、その製造方法およびその検査方法 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a measuring device having high reliability of an electric characteristic test, capable of testing in a short time.例文帳に追加

電気的特性試験の信頼性が高く、短時間で試験可能な半導体試験装置および測定装置を提供する。 - 特許庁

CRASH TESTING DEVICE AND CRASH TEST METHOD FOR AUTOMOBILE BODY例文帳に追加

自動車車体の衝突試験装置及び衝突試験方法 - 特許庁

COMPRESSOR TESTING DEVICE AND COMPRESSOR TENTING METHOD THEREWITH例文帳に追加

圧縮機試験装置およびそれによる圧縮機の試験方法 - 特許庁

CALIBRATION BOARD SET, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, AND CALIBRATION METHOD例文帳に追加

キャリブレーションボードセット、半導体試験装置およびキャリブレーション方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置、及び該半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

DATA TRANSFER UNIT, DATA TRANSFER METHOD, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

データ転送装置、データ転送方法および半導体試験装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体装置のテスト方法及びシステム並びに記録媒体 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AND TESTING DEGREE OF DISPERSION例文帳に追加

分散度測定試験方法及び分散度測定試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE FOR SIMULTANEOUSLY TESTING PLURAL SEMICONDUCTOR ELEMENTS例文帳に追加

複数の半導体素子を同時にテストする半導体テスト装置 - 特許庁

SYSTEM FOR TESTING MAINTENANCE BETWEEN LAN CONNECTION DEVICES AND LAN CONNECTION DEVICE例文帳に追加

ＬＡＮ接続装置間の保守試験方式およびＬＡＮ接続装置 - 特許庁

CELL HOLDING METHOD, CELL TESTING METHOD AND CELL TREATING DEVICE例文帳に追加

細胞保持方法、細胞試験方法及び細胞処理装置 - 特許庁

WHEEL SUPPORT DEVICE OF VEHICLE TESTING MACHINE AND ITS WHEEL SUPPORT SYSTEM例文帳に追加

車両試験機の車輪支持装置及びその車輪支持システム - 特許庁

The method(200) includes a step(202) for deciding, if a first testing device or a second testing device is connected to the system.例文帳に追加

本方法(200)は、第１の試験装置または第２の試験装置がシステムに接続されているか否かを判定するステップ(202)を含む。 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE FOR TESTING WIRING DEFECTS IN PANEL例文帳に追加

パネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置 - 特許庁

INFORMATION-PROCESSING DEVICE, IMAGE-PROCESSING DEVICE, METHOD FOR TESTING SOFTWARE OPERATION, PROGRAM FOR TESTING SOFTWARE OPERATION, AND RECORDING MEDIUM WITH THE RECORDED PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、画像処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

The mobile phone testing system comprises a loop-back device connected to a telephone line network, and a mobile phone testing device.例文帳に追加

電話回線網に接続されたループバック装置と、携帯電話試験装置と、からなる携帯電話試験システムを提供する。 - 特許庁

ANTIFOULING PROPERTY EVALUATING METHOD OF ANTIFOULING LAYER AND ABRASION TESTING DEVICE例文帳に追加

防汚層の防汚性評価方法および擦傷試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRICAL CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR MODULE例文帳に追加

半導体モジュールの電気的特性試験方法及びその装置 - 特許庁

SHEET CONNECTOR, SOCKET FOR ELECTRONIC COMPONENT, AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE例文帳に追加

シート状コネクタ、電子部品用ソケット及び電子部品試験装置 - 特許庁

HOSE CLOSURE MECHANISM AND HOSE PRESSURE RESISTANCE TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

ホース閉鎖機構およびこれを用いたホースの耐圧試験装置 - 特許庁

To prevent condensation in a testing device that performs low-temperature tests.例文帳に追加

低温試験を行う試験装置において、結露を防止する。 - 特許庁

POWER GENERATION TESTING DEVICE OF CELL FOR SOLID OXIDE FUEL CELL例文帳に追加

固体酸化物形燃料電池用セルの発電試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER AND TESTING METHOD OF FERROELECTRIC MEMORY DEVICE例文帳に追加

半導体ウエハ、および強誘電体メモリ装置の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置とそのテスト方法および半導体集積回路 - 特許庁

AUTOMATIC TESTING APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, CONVEYER, AND TEST BOARD例文帳に追加

半導体デバイスの自動試験装置、搬送装置、及びテストボード - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TESTING DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路、その試験装置、及びその試験方法 - 特許庁

NON-DESTRUCTIVE TESTING METHOD OF AUSTENITE STAINLESS STEEL AND ITS DEVICE例文帳に追加

オーステナイト系ステンレス鋼の非破壊検査方法及びその装置 - 特許庁

ELECTRON BEAM TESTER, TESTING METHOD, ELECTRON BEAM DEVICE AND OBSERVING METHOD例文帳に追加

電子ビームテスタ、試験方法、電子ビーム装置、及び観察方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTER, SEMICONDUCTOR TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法、及び半導体装置 - 特許庁

OPTIMIZATION METHOD AND PROGRAM FOR OPTIMIZING TIMING SET OF SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE, AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験装置のタイミングセットの最適化方法、半導体試験装置のタイミングセットの最適化プログラム、半導体試験装置 - 特許庁

To provide a testing method for semiconductor device suitable and more efficient for testing a mass-produced semiconductor device.例文帳に追加

大量生産された半導体装置を試験するときに好適な、より効率的な半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

OPTICAL MOSFET RELAY DRIVING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

光ＭＯＳＦＥＴリレー駆動回路および半導体試験装置 - 特許庁

HISTOGRAM CALCULATION SYSTEM, ELECTRONIC TESTING DEVICE AND HISTOGRAM CALCULATING METHOD例文帳に追加

ヒストグラム計算システム、電子試験装置及びヒストグラム計算方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing device for concurrently testing a plurality of semiconductor devices in a short test time.例文帳に追加

複数の半導体デバイスを同時に試験する装置であって、試験時間を短縮した半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

TESTING DEVICE OF HYBRID SYSTEM AND POWER SUPPLY UNIT THEREWITH例文帳に追加

ハイブリッドシステムの試験装置及びそれに用いられる電源装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, TESTING TECHNIQUE THEREOF, AND INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

集積回路およびそのテスト方法ならびに集積回路装置 - 特許庁

LEAD PIN PITCH/LEVELNESS TESTING DEVICE USING TWO- DIMENSIONAL LASER DISPLACEMENT SENSOR例文帳に追加

２次元レーザ変位センサによるリードピンピッチ・平面度検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板を試験する方法およびこの方法を実施する装置 - 特許庁