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testing deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5534件
OPTICAL SIGNAL OUTPUT DEVICE, ELECTRIC SIGNAL OUTPUT DEVICE, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
光信号出力装置、電気信号出力装置、および試験装置 - 特許庁
To provide a semiconductor device, a test substrate, a testing system of the semiconductor device, and to provide a testing method of the semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置、テスト基板、半導体装置のテストシステム及び半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁
TESTING DEVICE AND METHOD OF POWER CONVERTER例文帳に追加
電力変換器の試験装置および試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ERROR IN MICROPROCESSOR例文帳に追加
マイクロプロセッサのエラーをテストする方法および装置 - 特許庁
SUBSCRIBER TESTING DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加
加入者試験装置及び加入者試験方法 - 特許庁
TEST PIECE SUPPLY DEVICE OF IMPACT RESILIENCE TESTING MACHINE例文帳に追加
反発弾性試験機の試験片供給装置 - 特許庁
TEST METHOD AND TESTING DEVICE OF PRINTED WIRING BOARD例文帳に追加
プリント配線板の試験方法及び試験装置 - 特許庁
MANUFACTURING AND TESTING METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の製造方法及び試験方法 - 特許庁
LINE TEST SYSTEM AND ITS INTERMEDIATE TESTING DEVICE例文帳に追加
回線試験システム及びその中間試験装置 - 特許庁
LITHOGRAPHY METHOD AND METHOD FOR TESTING LITHOGRAPHY DEVICE例文帳に追加
リソグラフィ方法及びリソグラフィ装置の試験方法 - 特許庁
LOAD CALIBRATION JIG FOR INSTRUMENTATION IMPACT TESTING DEVICE例文帳に追加
計装化衝撃試験装置用荷重較正治具 - 特許庁
PROBE CARD AND IC TESTING DEVICE USING IT例文帳に追加
プローブカードおよびこれを用いたＩＣ試験装置 - 特許庁
SYSTEM TESTING DEVICE DIRECTED TO PLANT MONITORING AND CONTROL APPARATUS例文帳に追加
プラント監視制御装置向け系統試験装置 - 特許庁
UNDERWATER SEPARATION RESISTANCE TESTING DEVICE OF LIGHT-WEIGHT SOIL例文帳に追加
軽量土の水中分離抵抗性試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁
The measurement method comprises using the testing device.例文帳に追加
およびこの試験装置を利用した測定方法。 - 特許庁
DIGITAL/ANALOG CONVERSION APPARATUS, AND DC TESTING DEVICE例文帳に追加
デジタルアナログ変換装置及び直流試験装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR COMPONENT例文帳に追加
半導体部品の試験方法および試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING AND ADJUSTING MICROWAVE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
マイクロ波半導体装置の試験調整方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING ELECTROSTATIC BREAKDOWN OF ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
電子デバイスの静電破壊試験方法と装置 - 特許庁
PROBE CARD, ELEMENT TESTING DEVICE, AND ELEMENT TEST METHOD例文帳に追加
プローブカード、素子試験装置及び素子試験方法 - 特許庁
MATERIAL-TESTING DEVICE AND DATA DISPLAY METHOD例文帳に追加
材料試験装置およびそのデータ表示方法 - 特許庁
VEHICLE DEFLECTION PROPERTIES TESTING DEVICE, PROGRAM, AND METHOD例文帳に追加
車両偏向性試験装置、プログラム及び方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING MAGNETIC TAPE RECORDER例文帳に追加
磁気テープ記録装置の試験方法および装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ARRAY ELEMENT例文帳に追加
アレイ素子検査方法およびアレイ素子検査装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR IC例文帳に追加
半導体集積回路のテスト方法とその装置 - 特許庁
The thermostatic device for testing includes a sample placement section 2 and a trestle 3.例文帳に追加
試料配置部２と、架台３とからなる。 - 特許庁
TEMPERATURE TESTING DEVICE AND TEMPERATURE ADJUSTMENT METHOD THEREFOR例文帳に追加
温度試験装置およびその温度調整方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
半導体試験装置および半導体試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING RUBBING STRENGTH, AND TEST PIECE THEREFOR例文帳に追加
摺り強度試験方法及び装置、試験片 - 特許庁
METHOD FOR TESTING BURN-IN BOARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
バーンインボード及び半導体装置の試験方法 - 特許庁
PRESSURE LEAKAGE TESTING DEVICE OF REACTOR PRESSURE VESSEL例文帳に追加
原子炉圧力容器の耐圧漏洩試験装置 - 特許庁
HISTORY INFORMATION RECORDER FOR DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体試験装置の履歴情報記録装置 - 特許庁
HEAT CYCLE TESTING DEVICE AND HEAT CYCLE TEST METHOD例文帳に追加
熱サイクル試験装置及び熱サイクル試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
試験装置、試験方法、プログラム、及び記録媒体 - 特許庁
FACILITY AND DEVICE FOR TESTING SMOKE DETECTOR例文帳に追加
煙感知器の試験設備及びそのための装置 - 特許庁
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