「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(30ページ目) - Weblio英語例文検索

ABRASION TESTING DEVICE AND ABRASION TEST METHOD例文帳に追加

擦傷試験装置および擦傷試験方法 - 特許庁

WATER QUALITY TESTING DEVICE AND ITS CLEANING METHOD例文帳に追加

水質検査装置及びその洗浄方法 - 特許庁

CONTINUITY TEST SYSTEM AND ATM TESTING DEVICE例文帳に追加

導通試験システム及びＡＴＭ試験装置 - 特許庁

HEAT CYCLE TESTING DEVICE FOR SHAPE MEMORY ALLOY例文帳に追加

形状記憶合金の熱サイクル試験装置 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING ACARICIDE AND MITE EXTERMINATION MEMBER例文帳に追加

ダニ駆除剤試験装置及びダニ駆除部材 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF TESTING CHARACTERISTICS THEREOF例文帳に追加

半導体素子及びその特性検査方法 - 特許庁

PROGRAM PRODUCTION SYSTEM OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のプログラム作成方式 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEQUENCER PROGRAM例文帳に追加

シーケンサプログラムの試験装置および試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, DIAGNOSIS PROGRAM AND DIAGNOSIS METHOD例文帳に追加

試験装置、診断プログラムおよび診断方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体検査方法および半導体装置 - 特許庁

SPRING PROBE APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

スプリングプローブ装置及び半導体試験装置 - 特許庁

PROGRAM EXECUTION SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のプログラム実行方式 - 特許庁

ELECTRODE PART SUPPORT STRUCTURE OF TRACKING TESTING DEVICE例文帳に追加

トラッキング試験装置の電極部支持構造 - 特許庁

BURN-IN TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のバーンイン試験装置 - 特許庁

DATA TRANSFER CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

データ転送回路および半導体試験装置 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING CUP MEMBER FOR ARTIFICIAL HIP JOINT例文帳に追加

人工股関節用カップ部材の試験装置 - 特許庁

VIDEO MEMORY TESTING AND DIAGNOSING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

ビデオメモリ試験診断方法およびその装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TESTING PROCEDURES例文帳に追加

半導体記憶装置およびその検査手法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING QUALITY OF CONCRETE AND SENSING DEVICE例文帳に追加

コンクリートの品質試験方法と検知装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SELF-EXCITED CONVERTER例文帳に追加

自励式変換器の試験方法および装置 - 特許庁

TESTING DEVICE, OPTICAL CONNECTION PART AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

試験装置、光接続部、及び製造方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR DIFFERENTIAL DISTRIBUTION TYPE HEAT SENSOR例文帳に追加

差動式分布型熱感知器の試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE, CONTROL METHOD, AND CONTROL PROGRAM例文帳に追加

試験装置、制御方法、および制御プログラム - 特許庁

IMPACT TESTING DEVICE AND METHOD OF CONVEYOR BELT例文帳に追加

コンベヤベルトの衝撃試験装置および方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING MOBILE DEVICE例文帳に追加

移動機試験装置及び移動機試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING HARD DISK DRIVE例文帳に追加

ハードディスクドライブのテスト装置及びその方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置及びそのテスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING MATERIAL例文帳に追加

材料試験装置及び材料試験方法 - 特許庁

CRITICALITY ALARMING DEVICE AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

臨界警報装置およびその試験方法 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING FOLDABLE STATIC CONE PENETRATION例文帳に追加

折りたたみ式静的コーン貫入試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD OF TESTING WAFER-LEVEL例文帳に追加

ウェハレベル試験装置及びウェハレベル試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR ELEVATOR EMERGENCY CALL DEVICE例文帳に追加

エレベーター用非常通話装置の試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD FOR DRUG ELUTION例文帳に追加

薬物溶出試験装置及び試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置及びその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置およびその試験方法 - 特許庁

TESTING TOOL AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のテスト用治具とテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体試験装置及びその制御方法 - 特許庁

PUSHER, PUSHER UNIT AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

プッシャ、プッシャユニットおよび半導体試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置の検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING MODE SETTING METHOD例文帳に追加

半導体装置及び試験モード設定方法 - 特許庁

WAVEFORM GENERATOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

波形発生装置および半導体試験装置 - 特許庁

PRINTED WIRING BOARD AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

プリント配線基板、及び、半導体試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD FOR INSTALLATION OF OVERCURRENT ALARM DEVICE例文帳に追加

過電流警報装置の設置試験方法 - 特許庁

WAVEFORM GENERATING CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

波形発生回路及び半導体試験装置 - 特許庁