「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(64ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a testing device that can test a semiconductor wafer without making any failures, especially by being used as a device for testing the characteristics of individual chips by bringing probes to both surfaces of the wafer.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、特にウエハの両面よりプローブを接触させて各チップの特性を試験する試験装置に適用して、確実に半導体ウエハを試験することができるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing method capable of quickly and surely setting a control voltage so as to be within the power range of target value of an RF device and a semiconductor testing device using this method.例文帳に追加

本発明は、ＲＦデバイスの目標値のパワー範囲となるように、制御電圧を早く確実に設定できる半導体試験方法及びその試験方法を用いた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method and testing device of precisely and efficiently performing a test even to a board having patterns aligned with high density, and a manufacturing method of electro-optical device.例文帳に追加

高密度に配列されたパターンを有する基板に対しても高精度且つ効率的に検査を行うことのできる検査方法及び検査装置並びに電気光学装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

This testing device 20 is connected to terminals 150, 152 connected electrically to an electric power supply line PL2 and a grounding line GL2, respectively, when testing the voltage fluctuation of an auxiliary device 130 mounted on a vehicle 10.例文帳に追加

試験装置２０は、車両１０に搭載された補機１３０の電圧変動試験時、電源ラインＰＬ２および接地ラインＧＬ２にそれぞれ電気的に接続される端子１５０，１５２に接続される。 - 特許庁

To provide a circuit testing device capable of selectively testing any of a plurality of circuits to be tested.例文帳に追加

本発明は回路の試験装置に関し、複数の被試験回路の何れかを選択して試験することができる回路の試験装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an IC testing device and an IC testing method capable of acquiring data in a short time, judging a necessary portion, and displaying the result of an accurate SHMOO plot.例文帳に追加

データ取得時間を短時間に行い、必要な部分の判定が行われ正確なSHMOOプロットの結果を表示することが可能なIC試験装置及びIC試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a dust testing device and dust testing method for a electronic apparatus, whereby the adhering state of dust in the electronic apparatus used for a long time can be suitably reproduced.例文帳に追加

長期間使用した電子機器における埃の付着状況を適切に再現可能な、電子機器用の埃試験装置および埃試験方法を提供する。 - 特許庁

To evade damage of a test pad caused by contact of a defective probe needle by a simple mechanism, with respect to a vertically-movable type probe card, testing method and testing device.例文帳に追加

上下可動式プローブカード、試験方法及び試験装置に関し、簡単な機構により不具合のあるプローブ針のコンタクトによるテストパッドの損傷を回避する。 - 特許庁

To provide a relaxation test method, testing device and a testing tool capable of measuring stress relaxation of a material efficiently and highly accurately by a simple method.例文帳に追加

材料の応力緩和を簡便な方法で、効率よく、高精度に測定することができるリラクゼーション試験方法及び試験装置、並びに試験治具を提供すること。 - 特許庁

Then, the core 5 is installed in triaxial testing cell 25 of a water permeable testing device 7 by flow velocity control, and side pressure is applied to the core 5 to be restricted at restriction pressure σc equivalent to rock pressure.例文帳に追加

次に、流速制御による透水試験装置７の三軸試験セル２５内にコア５を設置し、コア５に側圧を印加して地圧相当の拘束圧σｃで拘束する。 - 特許庁

A test aid device for testing the digital circuit of the IC is disposed in the vicinity of the substrate of a testing circuit which communicates with a signal with the IC.例文帳に追加

半導体集積回路のディジタル回路を試験するテスト補助装置を、半導体集積回路と信号のやり取りを行なうテスト回路基板に近傍に配置する。 - 特許庁

To provide a method for water pressure testing of a steel pipe capable of drastically and efficiently improving a water pressure test by achieving a simple improvement in a conventional water pressure testing device.例文帳に追加

既存の水圧試験装置に簡単な改良を加えることによって、大幅に水圧試験の能率を向上できる鋼管の水圧試験方法を提供する。 - 特許庁

The testing device 1 includes a high temperature side temperature regulating part 20 for supplying a testing chamber 10 with air regulated in temperature, and a low temperature side temperature regulating part 21.例文帳に追加

試験装置１は、試験室１０に対して温度調整された空気を供給するための高温側温調部２０と、低温側温調部２１とを備えている。 - 特許庁

Laser power Pe for erasure and a defocus amount Δf of an optical head 3 are changed to each optical disk to perform testing erasure of data of each recording layer by an optical disk testing device.例文帳に追加

光ディスク試験装置により、各光ディスクに対し、消去用レーザパワーＰｅと光ヘッド３のデフォーカス量Δｆを変えて、各記録層のデータの試し消去を行う。 - 特許庁

The testing device includes further the second movable support body constituted to approach to the first support body, and to move a testing material to contact with the towing face.例文帳に追加

試験装置はさらに、一番目の支持体に近接し、試験材料を牽引面に接触するように動かすように構成された、可動性の二番目の支持体を含む。 - 特許庁

The testing common electrode 39 of an operation checking device is connected to all testing resistors 38 connected to individual electrodes 32 connected to the collector of each driver 31.例文帳に追加

動作チェック装置のテスト用共通電極３９は個々のドライバ３１のコレクタに接続する個別電極３２に接続した全てのテスト用抵抗体３８に接続される。 - 特許庁

To provide a testing device for obtaining accurate test results by mounting a tire with a wheel without making it eccentric to a tire mounting shaft, and to provide a testing method.例文帳に追加

ホイール付きタイヤをタイヤ取り付け軸に対して偏心させることなく装着し、正確な試験結果を得ることを可能にした試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic testing system, capable of transmitting test result data by an automatic testing device from a transmitter and receiving the transmission at a receiver arranged at a required location.例文帳に追加

自動試験装置による試験結果データを送信機で送信させ、その送信を必要な場所に配置した受信機で受信できる自動試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a test sample mounting device, a bending testing apparatus, and a bending testing method, etc. which can accurately apply load to an object.例文帳に追加

当該対象物に正確に荷重を加えることができる試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置及び曲げ強さ試験方法等を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which activates power gating function, at the normal operation, and effectively activates a testing function at testing.例文帳に追加

本発明は、通常動作時にはパワーゲーティング機能が動作するとともに、試験時には試験機能が有効に動作する半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a material testing method and a material testing device capable of widening a loading rate range in which a strength evaluation of a material is possible.例文帳に追加

本発明は、材料の強度評価が可能な負荷速度範囲を広げることができる材料試験方法及び材料試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing device and testing method capable of performing the evaluation of wetting characteristic with respect to various solder pastes by use of the same index.例文帳に追加

種々のはんだペーストについて、当該はんだペーストのぬれ特性の評価を同一の指標によって行うことができる試験装置および試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing integrated circuits achieving reduction in time and cost, required for testing of an integrated circuit equipped with a plurality of logic circuits.例文帳に追加

複数個の論理回路を備える集積回路の試験に係る時間およびコストを低減することができる集積回路試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method capable of outstandingly reducing labor required for preparation of a test signal applied to a plurality of kinds of ECUs.例文帳に追加

複数種類のＥＣＵに印加する試験用信号の作成に要する手間を大幅に低減することができる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To reduce a testing cost and a manufacturing cost, by reducing a testing time in a device having a transmission/reception function like the physical layer of an IEEE 13394 interface.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４インターフェースの物理層デバイスのように送受信機能を有するデバイスにおいて、テスト時間を短縮し、テストコスト及び製造費用の低減を図ること。 - 特許庁

To provide a testing arrangement and testing method for semiconductor device capable of easily conducting strength evaluation of electromagnetic sensitivity of an LSI simple body against an electric wave.例文帳に追加

電波に対するＬＳＩ単体の電磁感受性の強度評価を容易に行うことができる半導体装置の試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for a human body detection sensor capable of testing whether there is a required detection region and sensitivity with respect to the human body detection sensor.例文帳に追加

人体検知センサに対して必要な検知領域及び感度を有しているか否かを検査することができる人体検知センサの検査装置を提供する。 - 特許庁

In the testing system 100, adjustment for measurement data obtained against a device 102 during testing is performed by a topology independent calibration system (TICS) 110.例文帳に追加

試験システム１００において、試験中の装置１０２に対して得られた測定データの調整は、トポロジー独立較正システム（ＴＩＣＳ）１１０によって行われる。 - 特許庁

To provide a tire testing device and a tire testing method capable of efficiently performing evaluation (generation amount evaluation, recovery evaluation) of a flat spot of a tire with high precision.例文帳に追加

タイヤのフラットスポットの評価(発生量評価、回復評価)を効率よく、高精度に行うことができるタイヤ試験装置及びタイヤ試験方法を提供する。 - 特許庁

CONNECTION TESTING APPARATUS FOR COMMUNICATION DEVICE, CONNECTION TEST SOFTWARE, COMPUTER READABLE STORAGE MEDIUM WITH THE SOFTWARE STORED THEREON, CONNECTION TESTING METHOD AND CONNECTION TEST COMPUTER SYSTEM例文帳に追加

通信装置の接続試験装置、接続試験ソフトウエア、該ソフトウエアを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体、接続試験方法及び接続試験コンピュータシステム - 特許庁

The temperature control means 150, 180 preheat/precool the device on the testing tray, during the posture change of the testing tray, and during the sequential storage by the soaking chamber.例文帳に追加

温度制御手段１５０、１８０はテストトレーが姿勢変換される間及びソークチャンバーにより順次収納される間テストトレーのディバイスを持続的に予熱／予冷する。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer testing device which can easily test a semiconductor wafer owing to less number of components intervening between the semiconductor wafer and a testing board.例文帳に追加

半導体ウェハ及び検査ボード間に介装する部材点数が少なく、半導体ウェハの検査を簡易に行なうことができる半導体ウェハの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a compressor performance testing device to serve for an operating characteristics test of a centrifugal or an axial flow type compressor capable of enhancing the testing accuracy and decreasing the test time.例文帳に追加

遠心力式又は軸流式圧縮機の動作特性試験における試験精度の向上と試験時間の削減を図った圧縮機性能試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive and durable electronic part testing device for accurately controlling the temperature of an electronic part even when the electronic part self-heats at the time of test, and for testing the electronic part at a desired testing temperature.例文帳に追加

試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができ、しかも安価で耐久性に優れた電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing terminal for chip type electronic part capable of precisely measuring characteristic without exposing an internal electrode layer constituting the outer electrode of a chip type electronic part, and a testing method and testing device using it.例文帳に追加

チップ型電子部品の外部電極を構成する内部の電極層を露出させることなく、正確に特性を測定することができるチップ型電子部品の検査端子と、それを用いた検査方法および検査装置を得る。 - 特許庁

A vibration-testing apparatus 1 includes a waveform generating device 6, a hydraulic vibration exciting device 3, a sample 2, a measuring device 5, and a control device 4 for controlling the movement of the hydraulic vibration exciter 3.例文帳に追加

振動試験装置１は、波形発生装置６、油圧加振機３、供試体２、計測装置５、油圧加振機３の動きを制御する制御装置４を備える。 - 特許庁

To provide a reproduction device tester facilitating the quality decision of operation of a reproduction device, and to provide an information extraction device for testing the reproduction device.例文帳に追加

再生装置の動作の良否判定を容易にする再生装置試験装置、及び再生装置試験用情報抽出装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

The laser beam generating device 10 and the detector 20 form a transmissive testing device, positioned such that the laser beam generating device 10 and the detector 20 face each other with the semiconductor device 15 that is the test subject therebetween.例文帳に追加

ここでレーザ発生装置１０と検出器２０とは、検査対象となる半導体装置１５を挟んで対向して位置する透過型の検査装置を構成する。 - 特許庁

To provide a magnetic disk device executing a part of a function insertion step without connection to a dedicated testing device.例文帳に追加

専用の試験装置に接続しないで機能注入工程の一部を実施することができる磁気ディスク装置を提供する。 - 特許庁

The device and the holder permit analysis of the sample, wherein the device is substantially sealed during testing and detection of results.例文帳に追加

装置及びホルダによってサンプルの分析が可能となり、装置は、試験及び結果の検出中は実質的に封止される。 - 特許庁

Blades 53 for a helicopter are supported on a stand 54, rotated by a driving device in the testing device 11, and tested in relation to various items.例文帳に追加

スタンド５４にはヘリコプタ用のブレード５３が支持され、テスト装置１１の中で駆動装置により回転し、各種テストを行う。 - 特許庁

To provide a device testing equipment capable of constantly maintaining a contact pressure for a device as a test object at an optimal value.例文帳に追加

被試験対象のデバイスに対するコンタクト圧力を、常に最適値に維持することが可能なデバイス試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor laser device capable of suppressing the variation of dither effects, and a method of testing the semiconductor laser device.例文帳に追加

ディザ効果のばらつきを抑制することができる半導体レーザ装置および半導体レーザの試験方法を提供する。 - 特許庁

A 2nd testing device receives only processing data as a result of processing of the tested device for the target data to evaluate the result.例文帳に追加

第２の試験装置は、ターゲットデータに対する被試験装置における処理の結果である処理データのみを受信して評価する。 - 特許庁

To provide a testing process of a semiconductor device capable of confirming degradation of the semiconductor device after inspection.例文帳に追加

本発明は検査後の半導体装置の劣化を確認できる半導体装置の試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁