「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(68ページ目) - Weblio英語例文検索

To smoothly perform the analysis and test of a testing object device by realizing the expansion of a testing case and facility of use by a higher harmonic generator with expanded versatility.例文帳に追加

汎用性を拡大させた高調波発生器により、試験ケースの拡大、使用方法の容易さを実現し、円滑に被試験装置の解析及び試験を実施することができる。 - 特許庁

To improve testing efficiency in an easy testing process without narrowing the power range of a device in which burn-in is possible, in a burn-in test method and burn-in system.例文帳に追加

本発明は、バーンイン試験方法及びバーンインシステムに関し、バーンイン可能なデバイスのパワー範囲を狭めることなく、簡単な試験工程で試験効率を向上することを目的とする。 - 特許庁

To provide a simple and compact device capable of testing accurately testing a tire even if an endless belt is run at high speed, and prolonging the service life of the endless belt.例文帳に追加

無端ベルトを高速走行させても正確に試験することができると共に無端ベルトの寿命を高めた簡素でコンパクトなタイヤ試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a testing method for egg capable of judging the deterioration of the lamp of a light source and precisely executing the internal test of an egg, and a testing device for egg used for the execution of this method.例文帳に追加

光源のランプの劣化の有無を判断し、精度良く卵の内部検査を実施することができる検卵方法及びその実施に使用する検卵装置を提供する。 - 特許庁

The hardness test device 10 comprises the sample stocker 2 for stocking a sample S before test, and a hardness testing machine 1 for testing the hardness of the sample S conveyed from the sample stocker 2.例文帳に追加

硬さ試験装置１０は、試験前の試料Ｓをストックしておく試料ストッカ２と、試料ストッカ２から搬送された試料Ｓの硬さ試験を行う硬さ試験機１と、を備える。 - 特許庁

To provide a motor evaluation device for improving the upper limits of both of measurable torque and rotation speed and evaluating both a testing motor generating a large torque power and a testing motor rotatable in high speed.例文帳に追加

モータ評価装置において、測定可能な最大トルクを増加させると捩れ共振点が低下し、測定可能なトルク及び回転速度の双方の向上に対応できない。 - 特許庁

To provide a density-testing device capable of optically testing a rod state material for tasting equipped with an aggregate of many small pieces or its part as a test piece in a high accuracy.例文帳に追加

多数の小片の集合体を具備する棒状の喫味用物品若しくはその部品を被検査として高精度で光学的に検査することが可能な密度検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method capable of testing the semiconductor storage device, which inputs an external command and an external address together en bloc very efficiently with high precision.例文帳に追加

外部コマンド及び外部アドレスを一括して取り込む半導体記憶装置ついて非常に効率がよくしかも精度の高い試験を行うことができる試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system capable of managing unitarily information of a cooling device provided in each semiconductor test unit, from a host computer for managing the semiconductor testing system.例文帳に追加

半導体試験システムを管理するホストコンピュータから、各半導体試験ユニットが備える冷却装置の情報を一元的に管理することを可能とした半導体試験システムを実現する。 - 特許庁

To provide a pitch converting jig capable of easily testing semiconductors having a narrow lead pitch by enlarging the pitch through the use of a testing device having a wide-pitch terminal.例文帳に追加

リードピッチの狭い半導体の試験を、ピッチを拡大することにより、ピッチの広い端末を有する試験装置を用いて容易に行うことができるピッチ変換治具を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which can perform a test of many device en bloc even in a test device testing a semiconductor integrated device in a state in which input/output pins are short-circuited.例文帳に追加

入出力ピンを短絡した状態で半導体集積回路装置をテストするテスト装置においても、多数個の一括テストが可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for transferring a semiconductor device between trays used for testing the semiconductor device, by using a buffer tray for storing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置を収納するためのバッファトレイを用いて前記半導体装置をテストするために用いられるトレイの間で、前記半導体装置を移送する方法と装置が開示される。 - 特許庁

To provide a redundancy opperating method and a redundancy opperating device capable of shortening a period of time needed for the failure recovery of a memory device, and to provide a memory testing device with the redundancy opperating device.例文帳に追加

メモリデバイスの不良救済に要する時間を短縮することができるリダンダンシ演算方法及び装置並びに当該装置を備えるメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTER USING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD USING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR CLEANING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置用コンタクタ及び半導体装置用コンタクタを用いた試験装置及び半導体装置用コンタクタを用いた試験方法及び半導体装置用コンタクタのクリーニング方法 - 特許庁

To provide a semiconductor tester device for testing electronic devices with a fine electrode structure to be tested by keeping a good electric contact, and to provide a contact substrate for testing the semiconductor device, and a test method for the semiconductor device, the semiconductor device, and its manufacturing method.例文帳に追加

微細な電極構造を有する被試験電子部品の試験を良好な電気接触を保持して行うことが可能な半導体試験装置、半導体装置試験用コンタクト基板、半導体装置の試験方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

In addition, when the data value exceeds the testing threshold, as compared with the local protecting threshold that the local protection of the load device 60 acts, and the controller for testing 50 makes the feeding from the electric power unit 20, and the load device 30 to the local protection of the device for driving load device 60 interrupted.例文帳に追加

そして、試験用コントローラ５０は、負荷駆動装置６０のローカル保護が動作するローカル保護用しきい値よりも小さい試験用しきい値を上記のデータ値が超えたとき、電源装置２０および負荷装置３０から負荷駆動装置６０への給電を遮断させる。 - 特許庁

To provide a probe card and a testing device capable of easily coming into contact with electric terminals of an electric component.例文帳に追加

電気部品の電気的端子に容易に接触することができるプローブカード及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a compressor testing device capable of simulating a practical operation state while energy loss is reduced.例文帳に追加

エネルギーロスを少なくしながら、しかも実際の運転状態を模擬できる圧縮機試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a disk testing device capable of preventing an increase in temperature and preventing dust invasion.例文帳に追加

温度上昇を防ぐと共に、塵埃の入り込みを防止することが可能なディスク検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a smoke detector sensitivity test device for much more accurately testing the sensitivity of a smoke detector.例文帳に追加

煙感知器の感度試験をより正確に行うことのできる煙感知器感度試験装置を提供する。 - 特許庁

To realize an IC test device capable of attaining a high testing rate without any increase in the number of signal conductors.例文帳に追加

信号線の数を増大せずにテストレートの高速化を図るＩＣ試験装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus in which the timing accuracy of a testing device is calibrated during the test of an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路の試験中に試験装置タイミング精度を較正する方法および装置を提供する。 - 特許庁

A present fatigue testing device 1 is for grasping fatigue state of specimen elongated in a direction.例文帳に追加

本疲労試験装置１では、一方向に長い試験体の疲労を把握するための疲労試験装置１である。 - 特許庁

To provide a repulsion elasticity-testing device for drastically improving the accuracy in a repulsion elasticity test.例文帳に追加

従来の反発弾性試験の精度を飛躍的に向上可能とした反発弾性試験装置を提供する。 - 特許庁

To more enhance reaction efficiency in a biochemical testing device utilizing a microfluid.例文帳に追加

マイクロ流体を利用した生化学試験デバイスにおいて、反応効率をより高めた生化学試験デバイスを提供する。 - 特許庁

To introduce ultraviolet ray which is radiated to a photocurable resin in such condition as not contacting to a pressing member of a testing device.例文帳に追加

光硬化樹脂へ照射する紫外光を試験装置の押圧部材とは非接触状態で導入する。 - 特許庁

To easily perform a test for signal transmission of a transmitting/receiving apparatus without using any expensive testing device.例文帳に追加

送受信装置の信号伝送に関する試験を高価な試験装置を使用することなく簡易に実施する。 - 特許庁

To provide a substrate testing device and its control method wherein optical characteristics are superior and the structure is simplified.例文帳に追加

光学特性に優れ、かつ、構造が簡略化された基板検査装置およびその制御方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR CONFIRMING OPERATION OF CRUSHER, METHOD FOR MANAGING ACCURACY OF PRETREATMENT DEVICE FOR TESTING GENE, AND SAMPLE ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加

破砕装置の動作確認方法、遺伝子検査用前処理装置の精度管理方法及び試料分析システム - 特許庁

To provide a device for testing performance of a contaminant treating material itself used in a circulation treating type.例文帳に追加

循環処理型で使用される汚染物質処理材そのものの性能を試験することができる装置とする。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING CATALYST DETERIORATION BY MEASURING EXHAUST FLOW RATE IN ACTUAL TRAVEL OF AUTOMOBILE例文帳に追加

自動車の実走行における排気流量計測による触媒劣化試験装置及び触媒劣化試験方法 - 特許庁

To provide a testing method and device for a welding wire high in a detecting rate of a welding wire of defective quality.例文帳に追加

品質不良の溶接ワイヤの検出率が高い溶接ワイヤ検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a rotor support device for a dynamic balance testing machine capable of supporting surely a rotor by inexpensive constitution.例文帳に追加

安価な構成で、確実に回転体を支持できる動釣合い試験機用の回転体支持装置を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INFORMATION COLLECTION SYSTEM AND RECORDING WITH RECORDING INFORMATION COLLECTION SYSTEM TEST PROGRAM RECORDED THEREIN例文帳に追加

情報収集システム試験装置および方法と情報収集システム試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To secure a vertical state when fitting a vessel into a vessel support structure provided in an elution testing device or the like.例文帳に追加

溶出試験装置等に具備する容器支持構造に容器を嵌め込む際の垂直状態を確保する。 - 特許庁

To provide a testing board for a semiconductor device allowing to highly accurately test in an inspection step.例文帳に追加

検査工程において高精度な試験を行うことが可能となる半導体装置の試験用ボードを提供する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus for a hybrid vehicle in an environment in which each single body of an engine, a motor, and a coupling device is dispersed.例文帳に追加

エンジン，モータ，連結装置の各単体が分散した環境で、ハイブリッド車用試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of reducing electric power consumption at testing and easily attaining compression scan test.例文帳に追加

テスト時の消費電力の低減と共に圧縮スキャンテストを容易に実現可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To avoid the complicatedness of work relevant to the mounting of a tire shaft to a tire testing device, and to secure safety.例文帳に追加

タイヤ試験装置に対するタイヤ軸の取り付けに係る作業の煩雑さを回避し且つ安全性を確保する。 - 特許庁

To provide a terminal capable of shortening a manufacturing period of an interface device for an electronic component testing apparatus.例文帳に追加

電子部品試験装置のインタフェース装置の製造期間の短縮化を図ることが可能な端子を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having high convenience in operation, capable of adjusting skew efficiently.例文帳に追加

運用上の利便性が高く効率的にスキュー調整を行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device 30 has a tester 36 for controlling a prober 32 and an illuminator 34 to acquire a test result.例文帳に追加

検査装置３０は、プローバ３２と照明部３４とを制御して検査結果を取得するテスタ３６を有する。 - 特許庁

TEST SAMPLE MOUNTING DEVICE, BENDING TESTING APPARATUS, BENDING TEST METHOD, BENDING TEST PROGRAM, AND TEST SAMPLE例文帳に追加

試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置、曲げ強さ試験方法、曲げ強さ試験プログラム及び試験試料 - 特許庁

Test pattern data are preliminarily stored in the test pattern memory means 130 of this semiconductor testing device 100.例文帳に追加

半導体試験装置１００のテストパターン記憶手段１３０には、予めテストパターンデータが記憶されている。 - 特許庁

This characteristic testing auxiliary device A is provided with a fitting tool 1, a contact terminal group 2, and the connection connector 3.例文帳に追加

特性試験用補助装置Ａは装着具１と接触端子群２と接続コネクタ３を備えている。 - 特許庁