「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(69ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a device and a method for testing friction for properly and reliably performing evaluation.例文帳に追加

適正且つ信頼性の高い評価を行えるようにした摩擦試験装置および摩擦試験方法を提供する。 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS METHOD AND METHOD FOR ADJUSTING TIMING AND METHOD FOR ADJUSTING TEST VECTOR ADDRESS例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置とその試験方法、タイミング調整方法、テストベクタアドレス調整方法 - 特許庁

To provide a testing apparatus which can efficiently detect faulty openings, in the wiring of a device under measurement.例文帳に追加

被測定デバイスにおける配線の開放不良を、効率よく検出することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method and a testing device which tests a viscoelastic body by an optional initial strain.例文帳に追加

任意の初期歪みで粘弾性体の試験を行うことが可能な試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an application testing device capable of improving the quality of an application and reducing development cost.例文帳に追加

アプリケーションの品質向上、および、開発コストを削減することができるアプリケーション検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of preventing crossing of a connection line for connecting to DUT.例文帳に追加

ＤＵＴとの間を接続する接続線の交差を防止することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of automating determination of an electromagnetic interference wave level and suspension of an experiment of an electrically-operated immunity test.例文帳に追加

電動イミュニティ試験の電磁妨害波レベルの決定と実験の停止を自動化した試験装置を得る。 - 特許庁

To provide a simple capillary-like conduit device for interconnecting a liquid reservoir to a testing element.例文帳に追加

液体貯留部と試験素子との間での連結を行う簡単なキャピラリー状の導管デバイスを提供する。 - 特許庁

To test an actual equipment connected to a power distribution system for use, by a space-saving and inexpensive testing device.例文帳に追加

配電系統に接続して使用される実機器を、小スペース，低コストの試験装置で試験できるようにする。 - 特許庁

To provide an electronic equipment drop testing device for reducing the working load of an operator and allowing manual operation.例文帳に追加

操作者の作業負担を軽減し、しかも、手動操作で実施できる電子機器落下試験装置を提供する。 - 特許庁

STRUCTURE OF EAR PIECE IN SPEECH UNIT, PORTABLE TELEPHONE, AND METHOD AND DEVICE FOR TESTING WATERPROOF PERFORMANCE OF THE PORTABLE TELEPHONE例文帳に追加

通話装置における受話口の構造、携帯電話機、およびその防水性能試験方法並びに装置 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of easily and speedily detecting a glitch which appears in a test signal.例文帳に追加

試験信号に現れるグリッジを容易かつ迅速に検出可能な半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

A light irradiating part 11 in the biological testing device applies light with a specified frequency to the inside of a living body.例文帳に追加

生体検査装置における光照射部１１は、生体内に特定周波数の光を照射する。 - 特許庁

To provide a test terminal and a test method capable of easily testing a circuit or operation of a protection relay device.例文帳に追加

保護継電装置の回路や動作の試験を容易に実施できる試験端子と試験方法を提供すること。 - 特許庁

A programmable voltage generator source 13 controls a power source unit and supplies power to a device under testing (DUT) 1.例文帳に追加

プログラマブル電圧発生源１３は電源ユニット１４を制御してＤＵＴ１へ電源を供給する。 - 特許庁

Since an exclusive drop testing device is used, the content and conditions of a drop test are standardized.例文帳に追加

専用の落下試験装置を使用するので、落下試験の内容や条件の画一化を図ることができる。 - 特許庁

VIDEO HEAD CLOGGING TESTING METHOD FOR VIDEO RECORDING/ REPRODUCING DEVICE AND RECORDING METHOD THEREFOR例文帳に追加

映像記録再生装置におけるビデオヘッドの目詰まり検査方法および映像記録再生装置における記録方法 - 特許庁

To provide a testing device which can conduct an environmental test with a plurality of modules under different test conditions.例文帳に追加

複数のモジュールの環境試験を異なる試験条件で行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To easily equalize the output timings of respective test modules, in a testing device of high general-purpose properties.例文帳に追加

汎用性の高い試験装置において、それぞれのテストモジュールの出力タイミングを容易に略同一にする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, METHOD OF FORMING AUXILIARY CIRCUIT FOR TESTING THE SAME, AND TEST VECTOR CONVERTING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路装置およびその試験用補助回路の生成方法およびそのテストベクタ変換方法 - 特許庁

Further, an inspection device is provided to the food testing system to test the test target positioned on the upstream side of the second belt conveyor 7.例文帳に追加

また、検査装置を備え、第２のベルトコンベア７より上流に位置する検査対象物を検査する。 - 特許庁

To provide a plate valve testing device capable of producing as much as possible a condition, where a plate valve is mounted on an engine.例文帳に追加

エンジンに取付けられた状態をできるだけ再現するようにした板状弁試験装置を提供する。 - 特許庁

To suppress the increase in necessary power of a driving machine to extend a rotating arm in a centrifugal load testing device.例文帳に追加

遠心力載荷試験装置において、駆動機の必要動力の増大を抑えて回転腕を長大化する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of identifying a defective optical module, with normal passage of test signal being allowed.例文帳に追加

不良品の光モジュールの特定が可能で、試験信号の正常通過も可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for a semiconductor device capable of measuring noise quantity without directly observing inside noise.例文帳に追加

内部のノイズを直接観察しなくてもノイズ量を測定できる半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

With this information, users can quickly grade a testing device (DUT) 12 to be selected.例文帳に追加

この情報を伴い、使用者は、選択される試験用装置（DUT）１２の等級を早急に付与することができる。 - 特許庁

The following individuals and businesses have generously contributed hardware for testing and device driver development/support: 例文帳に追加

次にあげる個人および企業からは、 テストやデバイスドライバの開発 / サポートのためのハードウェアの寄贈を頂いています。 - FreeBSD

The vein testing device tests the vein by mounting a pair of measurement electrodes 5b on the lower limb of a subject.例文帳に追加

静脈検査装置は、被検者の下肢に一対の計測用電極５ｂを装着して静脈を検査する。 - 特許庁

To measure the amount of wear of a coating material in vacuum accurately in real time in a coating material-testing device.例文帳に追加

コーティング材試験装置において、真空中でコーティング材の摩耗量をリアルタイムで正確に計測すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having a comparator of a high operation speed with low fluctuation of a leak current.例文帳に追加

動作速度が速く、リーク電流の変動が小さいコンパレータを有する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A load of the testing device is furthermore reduced by supplying the internal high-speed clock to a BIST circuit.例文帳に追加

また、内部高速クロックをＢＩＳＴ回路にも供給することで、試験装置の負担はさらに軽減される。 - 特許庁

RELAY LIFETIME PREDICTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, PROGRAM THEREFOR, AND STORAGE MEDIUM WITH PROGRAM STORED例文帳に追加

半導体試験装置のリレー寿命予測システム及びそのプログラム並びにそのプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

To provide a tire testing device and method capable of quantitatively evaluating drain performance of a tire.例文帳に追加

タイヤの排水性能を定量的に評価できるタイヤ試験装置およびタイヤ試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device for testing temperature change which can suitably perform a test for temperature change in a semiconductor chip.例文帳に追加

好適に半導体チップの温度変化試験を行うことができる温度変化試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of performing changeover of a testing mode, in a short time.例文帳に追加

本発明は、試験モードの切り替えを短時間で実行可能な半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A voice conduction testing apparatus of the present invention includes a base station simulator 101 and a voice identification device 106.例文帳に追加

本発明の音声導通試験装置は、基地局シミュレータ１０１及び音声識別装置１０６を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of generating the test patterns of test signals at faster speed.例文帳に追加

試験信号の試験パターンをより速い速度で発生することのできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a timing regulation circuit for fine delay resolution suitable for a semiconductor testing device using an FPGA.例文帳に追加

ＦＰＧＡを用いて半導体試験装置に適した細かい遅延分解能のタイミング調整回路を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of quantitatively evaluating the noise resistance of an apparatus to be connected to an inverter.例文帳に追加

インバータと接続される機器のノイズ耐性を定量的に評価することが可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test chamber capable of testing a semiconductor device efficiently under a more accurate temperature condition.例文帳に追加

半導体デバイスをより正確な温度条件の下で、効率的に試験することができるテストチャンバを提供する。 - 特許庁

DIFFERENTIAL TRANSMITTING CIRCUIT, PULSE WIDTH VARIABLE CIRCUIT USING THE SAME, VARIABLE DELAY CIRCUIT AND SEMI- CONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

差動伝送回路及びこれを用いるパルス幅可変回路及び可変遅延回路及び半導体試験装置 - 特許庁

A testing device 10 tests whether a plurality of electronic devices 2 formed on the same wafer 40 are appropriate or not.例文帳に追加

試験装置１０は、同一ウェハ４０上に形成された複数の電子デバイス４２の良否を試験する。 - 特許庁

The multilayer electric probe, suitable for testing a device to be tested, includes a first strip layer and a second strip layer.例文帳に追加

テスト予定の装置をテストするために適した多層電気プローブは、第１ストリップ層と第２ストリップ層とを含む。 - 特許庁

In addition, you can integrate third-party emulators and create device configurations for a robust testing environment.例文帳に追加

また、他社製のエミュレータを組み込んで、安定したテスト環境用のデバイス構成を作成することもできます。 - NetBeans

A plurality of adsorbing holes 14 is prepared on a mounting surface of a testing jig substrate 13 wherein a semiconductor device 11 is loaded.例文帳に追加

半導体装置１１が載置される検査治具基板１３の載置面に複数の吸着口１４を設ける。 - 特許庁