TEST VECTORとは 意味・読み方・使い方

MOTION VECTOR DETECTOR AND SELF-TEST METHOD FOR THE MOTION VECTOR DETECTOR例文帳に追加

動きベクトル検出装置および動きベクトル検出装置における自己テスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS DESIGNING DEVICE, DESIGNING METHOD, DESIGNING PROGRAM, TEST VECTOR VERIFICATION DEVICE, AND TEST VECTOR GENERATION DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路、その設計装置、設計方法、設計プログラム、テストベクタ検証装置、およびテストベクタ作成装置 - 特許庁

A score increase deciding means 4 compares the calculated score with a score before test vector addition and when the score is not sufficiently increased, an additional test vector abandoning means 6 is started to delete the added test vector from the test vector buffer 106.例文帳に追加

得点上昇分判定手段４は、この得点と、テストベクトル追加前の得点とを比較して、得点が十分に上昇しなかった場合は、上記追加されたテストベクトルをテストベクトルバッファ１０６から削除すべく追加テストベクトル破棄手段６を起動する。 - 特許庁

To suppress increase in a test vector making time and increase in a test time, when an evaluation test of a DRAM core circuit incorporated in a DRAM mixed logic LSI is performed by unnecessitating an exclusive test vector for each DRAM core circuit being an object of evaluation.例文帳に追加

DRAM混載ロジックLSI に内蔵するDRAMコア回路の評価テストを行う場合に、評価対象となるDRAMコア回路毎に専用のテストベクタを必要としなくなり、テストベクタ作成時間の増大やテスト時間の増大を抑制する。 - 特許庁

To shorten a required time for formation of a test vector used in a test device for executing a test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストを行うためのテスト装置で用いられるテストベクタの生成に要する所要時間を短縮する。 - 特許庁

To provide test equipment, testing method and program which can reduce dependency on measurements such as leak current for logic pattern of test vector in testing of devices under test.例文帳に追加

被試験デバイスの試験において、試験ベクタの論理パターンに対する、リーク電流等の測定値の依存性を低減する。 - 特許庁

By using the test environment that is found out, a predetermined test vector is propagated to acquire a system level test set.例文帳に追加

見つけられたテスト環境を使用して、所定のテストベクトルがシステムレベル・テストセットを獲得するため伝播させられる。 - 特許庁

A signal vector for an antenna under test is acquired when excited by an internal signal source, the signal vector including both signal and interference components (22).例文帳に追加

内部信号源により励起された際に、信号成分及び干渉成分の両方を含む被試験アンテナの信号ベクトルを取込む（２２）。 - 特許庁