test vectorsとは 意味・読み方・使い方

Regarding the plurality of good samples, static power supply current (IDDQ) for each test vector is measured while a plurality of test vectors are switched over (S102).例文帳に追加

複数の良品サンプルについて、複数のテストベクタを切り換えながら、テストベクタごとの静的電源電流（ＩＤＤＱ）を測定する（Ｓ１０２）。 - 特許庁

The outputted verification suite 5 is generated by deleting unnecessary test vectors regarding unnecessary parts of the RTL description 3 from test vectors included in the inputted verification suite 4.例文帳に追加

この出力される検証スイート５は、入力された検証スイート４に含まれるテストベクトルのうち、ＲＴＬ記述３の冗長な部分に関する不要なものを削除することによって生成する。 - 特許庁

To reduce man-hours concerning a circuit for testing a gate array provided in a one-chip ASIC microcomputer and automatically convert test vectors for the gate array to test vectors for a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

ゲート・アレイ部を備えたワンチップＡＳＩＣマイコンにおいて、ゲート・アレイ部の試験のための回路についての工数を削減し、ゲート・アレイ部のテストベクタを半導体集積回路装置のテストベクタに自動で変換する。 - 特許庁

To solve the problem that it has been difficult to determine whether test vectors are as sufficient as they need to be or not in a method for verifying semiconductor integrated circuits for performing function simulation through the use of test vectors.例文帳に追加

テストベクタを用いて機能シミュレーションを行う半導体集積回路の検証方法では、テストベクタが必要十分であるかの判断が困難である。 - 特許庁

A test pattern conversion part 7 converts the test patterns and test vectors selected by the selection part 5 into test patterns for the LSI tester.例文帳に追加

そして、テストパターン変換部７は、変換テストパターン選択部５によって選択されたテストパターンおよびテストベクタをＬＳＩテスタ用テストパターンに変換する。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit is equipped with a plurality of memory circuits and the BIST circuit 140 for output test vectors, wherein one or more register circuits 150 for transferring the test vectors output from the BIST circuit 140 to adjacent macro-cells according to a common clock signal, are provided on signal lines supplying the test vectors to respective memory circuits from the BIST circuit 140.例文帳に追加

複数のメモリ回路とテストベクタを出力するＢＩＳＴ回路１４０とを備える半導体集積回路であって、ＢＩＳＴ回路１４０からそれぞれのメモリ回路へテストベクタを供給する信号線路上に、ＢＩＳＴ回路１４０から出力されるテストベクタを、共通のクロック信号に応じて隣接するマクロセルへ転送する１以上のレジスタ回路１５０を有することを特徴とする。 - 特許庁

A logic simulator part 4 performs logic simulation of an object LSI through the use of circuit data, test vectors, and special cell data.例文帳に追加

論理シミュレータ部４は、回路データ、テストベクタおよび特殊セルデータを用いて、対象ＬＳＩの論理シミュレーションを行う。 - 特許庁

Original test vectors stored in an ROM 4 are shifted alternately into two shift registers SR-A2 and SR-B3 on a vector basis.例文帳に追加

ＲＯＭ４に格納されたもととなるテストベクトルはベクトル単位で交互に２つのシフトレジスタＳＲ＿Ａ２及びＳＲ＿Ｂ３にシフトインされる。 - 特許庁