「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(80ページ目) - Weblio英語例文検索

By utilizing a high-frequency module, using this connecting structure as a selection testing instrument of the device 1, improvement in device productivity and module assembling productivity, shortening of manufacture period by reducing testing processes, and improvement in efficiency of module development are carried out, and low cost manufacturing is realized.例文帳に追加

また、この接続構造を用いた高周波モジュールをデバイス１の選別試験用治具として用いることにより、デバイス歩留及びモジュール組立歩留の向上、検査工程の削減による工期短縮及びモジュール開発効率の向上が図られ、製造の低コスト化が実現する。 - 特許庁

To provide a reinforcing means of a wiring board for appropriately maintaining the contact between the wiring board and a probe needle when an electronic device is heated to a specific temperature or higher for testing its reliability, to provide a supporting tool of the wiring board, and to provide a method for testing reliability of the electronic device.例文帳に追加

電子装置を所定温度以上に加熱してその信頼性を試験する場合に、配線基板とプローブ針との接触を良好に維持できるようにした配線基板の補強手段及び、配線基板の支持具、電子装置の信頼性試験方法を提供する。 - 特許庁

The control device 20 of the IC testing device 1 performs a test time shortening processing by reading a test program 50 stored in an auxiliary storage device 10 and inputting the test program 50 to a time shortening device 22 in the control device 20 and stores it in a main storage device 21 in the control device 20.例文帳に追加

ＩＣ試験装置１の制御装置２０は、補助記憶装置１０に記憶されている試験プログラム５０を読み出した後、試験プログラム５０を制御装置２０内の時間短縮装置２２に入力することにより、試験時間短縮処理を行って、制御装置２０内の主記憶装置２１に格納する。 - 特許庁

To provide a scratch strength testing device and a method thereof for carrying out a scratch test while continuously varying a load at a high speed.例文帳に追加

高速で連続的に荷重を変化させながらスクラッチ試験を行うことが可能なスクラッチ強度試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can reduce a testing cost by carrying out a current leak test while constricting the number of input/output pads.例文帳に追加

入出力パッドの数を圧縮しながら、電流リーク試験を行って、試験コストの低減を図り得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a service life testing device capable of easily measuring a service life characteristic of electric equipment, insulation material or the like in a short time.例文帳に追加

電気機器あるいは絶縁材料など寿命特性を容易に、かつ、短時間で計測することのできる寿命試験装置を提供する。 - 特許庁

To test a medium reading device in its horizontal or upright posture on a testing stage of simple structure.例文帳に追加

媒体読み取り装置の試験用ステージに関し、簡単な構造で水平、起立姿勢での装置の試験ができるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To enhance accuracy and reduce the scale of installation of a zero gravity simulation testing device by reducing the effect of a component force in the horizontal direction.例文帳に追加

水平方向からの分力の影響を小さくし、これにより無重力模擬試験の高精度化および設備の小規模化を図る。 - 特許庁

In this friction testing device, two of four regular prism type test pieces are paired, and held in the test piece fixing means respectively so as to be tested.例文帳に追加

この摩擦試験機では、４つの正四角柱状の試験片の２つを一組とし、それぞれ試験片固定手段に保持し、試験する。 - 特許庁

To provide a vibration characteristics testing device and a vibration characteristic test method suitable for investigating a characteristic of vibration damping by an elastic member.例文帳に追加

弾性部材による振動減衰特性を調べるのに好適な振動特性試験装置および振動特性試験方法を提供する - 特許庁

To provide an environmental testing device capable of prolonging the time, when there is condensation, or controlling to some extent, the time condensation is generated.例文帳に追加

結露が存在する時間を長期化したり、結露が生じる時間をある程度制御することができる環境試験装置を提供する - 特許庁

To provide a rotational impact testing device capable of simulating accurately temporal transition of an acceleration applied to a test body in an environment used actually.例文帳に追加

実使用環境において被試験体に印加される加速度の時間推移を精度良く模擬可能な回転衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

The corrosion testing device includes a thermohygrostat bath 1, a salt water discharge mechanism 2, a cleaning mechanism 3, and a moving rack 4 to test a body 5 of which corrosion is tested.例文帳に追加

恒温恒湿槽１，塩水吐出機構２，洗浄機構３および移動架台４から構成され、被腐食試験体５を試験する。 - 特許庁

To provide a corrosion resistance evaluation method for a metal material that simulates an actual environment, the metal material, and a device for testing corrosion acceleration of the metal material.例文帳に追加

実環境を模擬した金属材の耐食性評価方法と金属材、並びに金属材の腐食促進試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scoring test device and a scoring test method capable of testing whether a screw scores in a vacuum environment.例文帳に追加

真空環境下において螺子がかじるかどうかの試験を行うことが可能なかじり試験装置及びかじり試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of detecting whether a block failure has occurred or not prior to the implementation of a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験を実施する前に、ブロック不良が発生しているか否かを検知することができる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an IC product testing device capable of rapidly processing test of an RF-ID medium in a single piece form such as an IC card.例文帳に追加

たとえばＩＣカードのような単片形態のＲＦ−ＩＤメディアの検査を迅速に処理することのできるＩＣ製品検査装置。 - 特許庁

To provide a test method of a semiconductor device capable of testing an analog element highly accurately by using a digital tester having wide versatility.例文帳に追加

汎用性の高いデジタル用テスタを用いて高精度にアナログ素子の試験を行うことができる半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, with which a CSP having no built-in interposer can be made into a MCP, and also to provide methods of manufacturing and testing the same.例文帳に追加

インターポーザーを内蔵しないＣＳＰにおいてＭＣＰ化が可能な半導体装置，その製造方法，その試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a multiaxial load testing device and method capable of carrying out an accurate load test in a multiaxial state.例文帳に追加

本発明は、多軸状態で精度のよい負荷試験を行うことができる多軸負荷試験装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an immunity testing device capable of suppressing cost required for an immunity test, and improving workability of the immunity test.例文帳に追加

イミュニティ試験にかかる費用を抑え、イミュニティ試験の作業性を向上することのできる妨害排除能力試験装置を提供する。 - 特許庁

This friction testing device is provided to measure a frictional characteristic between two or more of components rolling-contacting or sliding-contacting each other.例文帳に追加

互いに転がり接触あるいは滑り接触している二つ以上の成分間の摩擦特性を測定する試験装置が開示されている。 - 特許庁

To provide an acceptance-testing terminal device, an acceptance test support system, and a program, allowing an easy acceptance test of a component incorporated in a commodity.例文帳に追加

商品に組み込まれた部品を容易に検収することができる検収用端末装置、検収支援システム及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time.例文帳に追加

衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual testing device capable of easily and correctly selecting a current object to be tested from various types of objects to be tested.例文帳に追加

多品種の検査対象の中から現在の検査対象を容易かつ正確に選択できる外観検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To perform exact comparison between a flow rate measured by a flowmeter and an actual flow rate offered by a testing device.例文帳に追加

流量計によって測定された流量と試験装置によって提供される実際の流量との間で正確な比較を行うこと。 - 特許庁

To provide a protocol test device capable of testing a network using an optional protocol and to provide a protocol test method.例文帳に追加

本発明は、任意のプロトコルを用いてネットワーク試験を行うことができるプロトコル試験装置又はプロトコル試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To attain gas-insulation switching device, capable of performing repair work and withstand voltage test, by only stopping one overhead line and a withstand voltage testing method therefor.例文帳に追加

架空線１回線の停止のみで修理と耐電圧試験を行うことができるガス絶縁開閉装置と耐電圧試験方法を得る。 - 特許庁

To provide a photoreceptor testing device for electrophotography not generating a measuring error caused by a size change of an opening part forming a test area.例文帳に追加

試験領域を形成する開口部の大きさ変化による測定誤差を生じない電子写真用感光体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of checking whether or not a test state is correctly set inside in testing a redundant memory cell.例文帳に追加

冗長メモリセルの試験時に、内部に試験状態が正しく設定されているか否かをチェックできる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

With this structure, torque of a motor 5 to be required when testing emergency stop can be reduced, and furthermore, the motor 5 and the inverter device 6 can be miniaturized.例文帳に追加

これにより、非常止め試験時に必要な電動機５のトルクを小さくし、ひいては電動機５とインバータ装置６の小型化を可能とする。 - 特許庁

To realize a high speed operation without using any memory whose access time is fast or any high speed element in the sequence control circuit of a semiconductor testing device.例文帳に追加

半導体試験装置のシーケンス制御回路において、アクセス時間の速いメモリや高速素子を用いることなく高速動作を可能にする。 - 特許庁

To provide a testing method for a liquid crystal device with which positioning is excellently performed when performing an acceleration test and reliability of a test result can be maintained.例文帳に追加

加速試験する際の位置決めを良好に実行して、試験結果の信頼性を維持できる液晶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

This component testing device includes two conveyance hands 50A, 50B for conveying the electronic component T to the plurality of test sockets Sc of a component test part.例文帳に追加

部品試験装置は部品試験部の複数のテストソケットＳｃに電子部品Ｔを搬送する２つの搬送ハンド５０Ａ，５０Ｂを有する。 - 特許庁

The device with the overvoltage protection function has further impedance 17, the impedance 17 is connected between the second connection part 8 and the ground when testing a high voltage system.例文帳に追加

更なるインピーダンス１７を有し、このインピーダンス１７は、高電圧システムの試験時には第二の接続部８とアースとの間に接続される。 - 特許庁

This direct-current testing device has a power amplifying circuit 130 for supplying a current to DUT at the current application voltage measuring time.例文帳に追加

直流試験装置は、電流印加電圧測定時にＤＵＴに対して電流を供給する電力増幅回路１３０を有している。 - 特許庁

To obtain a PDS optical line supervisory system capable of specifying an abnormity point in a plurality of subscriber side transmission lines with one testing device.例文帳に追加

一台の試験装置により複数の加入者側伝送路中の異常点の特定を可能とするＰＤＳ光線路監視システムを得る。 - 特許庁

To provide a simulator for a semiconductor test device to allow maintenance for a soft ware used in a semiconductor testing system even when no actual equipment exists.例文帳に追加

実機がなくとも半導体試験システムで使用されるソフトウェアの保守を可能とする半導体試験装置用シミュレータを提供する。 - 特許庁

To provide a ZIF connector capable of connecting easily, precisely and surely to connection parts, and a semiconductor testing device using above.例文帳に追加

接続部品に対して容易、正確、かつ確実に接続することができるＺＩＦコネクタ及びこれを用いた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To verify the operation of a semiconductor integrated circuit device efficiently in a short time by verifying the operation of an IP itself by a testing program.例文帳に追加

テスト用プログラムによってＩＰそれ自体の動作検証を行い、短時間で効率よく半導体集積回路装置を動作検証する。 - 特許庁

Thus, the number of inverters for simultaneous load energization is suppressed to the number able to be covered by the power supply capacity of the testing device.例文帳に追加

これにより、負荷通電が同時に実行されるインバータの台数を、試験装置の電源容量でカバーできる台数に抑えることができる。 - 特許庁

INDUCTOR RECOGNIZING METHOD, LAYOUT TESTING METHOD, COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM RECORDED WITH LAYOUT TEST PROGRAM, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

インダクタ認識方法、レイアウト検査方法、レイアウト検査プログラムを記録したコンピュータ読取可能な記録媒体および半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide a test device capable of testing a digital filter easily and sufficiently by simple constitution, without increasing the number of test data.例文帳に追加

より簡単な構成で、テストデータ数を増加させることなく、デジタルフィルタのテストを簡単且つ十分に行うことができるテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of easily driving an internal circuit on the outside of a chip under the state of a package and a testing method.例文帳に追加

パッケージ状態においてチップの外部で容易に内部回路を駆動することができる半導体装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing protection of a power receiving and distributing facility system which can safely and efficiently test various electrical device of a power receiving and distributing facility.例文帳に追加

受配電設備の各種電気機器を安全で効率的に行える受配電設備系統保護試験装置を提供することである。 - 特許庁