「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(84ページ目) - Weblio英語例文検索

The testing device 2 tests a signal S1 to be tested which is output from DUT 1 and makes the voltage level vary according to the value thereof.例文帳に追加

試験装置２は、ＤＵＴ１から出力される被試験信号Ｓ１であって、その値に応じて電圧レベルが変化する被試験信号Ｓ１を試験する。 - 特許庁

To provide a device for testing a semiconductor integrated circuit which generates test pattern data and writes the test pattern data into the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体集積回路の試験装置が試験パタンデータを生成して半導体集積回路へ書き込むことを目的とする。 - 特許庁

To provide a circuit test device capable of testing at a higher speed than change of a range through software by controlling the change of the range through hardware.例文帳に追加

レンジの変更をハードウェアで制御することで、ソフトウェアによるレンジの変更よりも高速にテストを行うことができる回路テスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing a plurality of built-in semiconductor chips in parallel by using only a part of data input/output terminals.例文帳に追加

一部のデータ入出力端子のみを用いて内蔵された複数の半導体チップを並列にテストすることのできる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device reducing overhead time and reducing test time, by reducing the traffic of a command of a system bus.例文帳に追加

システムバスのコマンドの通信量を軽減することでオーバーヘッド時間を短縮し、試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device having non-volatile memory elements with which testing at a high temperature is possible and shortening of the manufacturing process is realized.例文帳に追加

高温での試験が可能となり製造工程の短縮を実現する不揮発性記憶素子を有する半導体装置の製造方法の提供。 - 特許庁

CAVITATION-GENERATING DEVICE UNDER ELECTROMAGNETIC IMPACT FORCE, METHOD FOR EVALUATING/TESTING DAMAGE ON MATERIAL USING THE SAME, AND METHOD FOR REFORMING MATERIAL SURFACE例文帳に追加

電磁式衝撃加力によるキャビテーション発生装置、その装置による材料の損傷評価試験方法、及び材料の表面改質方法 - 特許庁

To provide light source equipment and imaging device text equipment having the same capable of testing phase shift characteristics with respect to the incident light of each pixel of a CCD.例文帳に追加

ＣＣＤの各画素の入射光に対する位相シフト特性検査を可能にする光源装置とこれを有する撮像素子検査装置を提供すること。 - 特許庁

Also, by passing wiring from the metal bump 43 to an external electrical testing device between elastic layers, correspondence to a group of pads arranged on a plane can be attained.例文帳に追加

また、金属バンプから外部の電気的試験装置までの配線を弾性層の間を通すことにより、平面配列したパッド群に対応することができる。 - 特許庁

To provide a testing device capable of conducting communication tests in multiple different communication methods, without having to change the existing hardware and rewrite the FPGA program.例文帳に追加

既存のハードウェアの変更や、ＦＰＧＡのプログラムの書き換えを行うことなく、複数の異なる通信方式における通信試験を可能とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor-device testing method for executing high-reliability determination of a non-defective product and a defective product of semiconductor devices.例文帳に追加

信頼性の高い半導体デバイスの良品／不良品判定を行うことができる半導体デバイス試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

Further more the test device 1 is capable of testing the surface degradation promotion test while heating the sample W by heating with the heating means 5.例文帳に追加

さらに、試験装置１は、加熱手段５によって試料Ｗを加熱した状態で表面状態劣化促進試験を実施することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of resuming a sequence for connection of each unit without using information stored in a memory.例文帳に追加

各ユニットを接続するシーケンスを再開するときに、メモリに記憶された情報を使用することなく、シーケンスを再開できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To realize a semiconductor device in which a plurality of electronic components can be mounted in lower height with higher density after the testing without reduction of the manufacturing yield.例文帳に追加

製造歩留まりを低下せずにテスト終了後の複数の電子部品を高密度に薄く実装することができる半導体装置を実現する。 - 特許庁

To provide an auxiliary test device for an electrical installation capable of simply switching the connection structure of wiring when testing the electrical installation including a plurality of relay elements.例文帳に追加

複数のリレー要素を含む電気設備の試験において、配線の接続構成を簡単に切り換えられる電気設備の試験補助装置を得る。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device, in which the optimal drive performance can be selected at testing and at normal usage time, to realize low power consumption at normal usage time.例文帳に追加

テスト時と通常使用時で最適なドライブ能力を選択でき、通常使用時に低消費電力化を図る半導体装置を得ることである。 - 特許庁

To provide semiconductor wafer reduced in the manufacturing cost thereof and the testing method of a ferroelectric memory device which is capable of reducing the manufacturing cost of the same.例文帳に追加

製造コストが低減された半導体ウエハ、ならびに製造コストを低減することができる強誘電体メモリ装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

A device equipped with a distributed testing system including: a logical agent; a server communicating with the logical agent; and a graphical user interface (GUI) communicating with the server is provided.例文帳に追加

論理エージェント、論理エージェントと通信するサーバ、サーバと通信するグラフィカルユーザインタフェース（ＧＵＩ）を備える分散テストシステムを備える装置を提供する。 - 特許庁

First diagnostic information is exchanged between the remote testing device 2 and the devices 1 to be diagnosed to perform remote diagnosis (S3, S8, S11-S16).例文帳に追加

遠隔試験装置２と被診断装置１との間では、遠隔診断を行うために第１の診断情報が交信される（Ｓ３、Ｓ８、Ｓ１１〜Ｓ１６）。 - 特許庁

This testing device energizes the specimen at zero voltage, keeping the voltage between the terminals of the voltage accumulating circuit constant by the switching on/off of the switching element for bias stabilization.例文帳に追加

バイアス安定化スイッチング素子のオン，オフによって該電圧蓄積回路の端子間電圧を一定に保持してゼロ電圧被試験体を通電する。 - 特許庁

To provide an electromigration evaluation device that allows simple and efficient electromigration reliability testing of a via in an LSI to be performed.例文帳に追加

ＬＳＩにおけるビアのエレクトロマイグレーション信頼性試験を簡単にかつ効率的に行なうエレクトロマイグレーション評価装置を提供することを主要な目的とする。 - 特許庁

To provide the precise concentration measurement of visual smoke in a wind tunnel testing device and provide a reliable data with high text precision.例文帳に追加

風洞実験装置において、可視煙の正確な濃度計測を行い、実験精度が高く、信頼性の高いデータを得ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device realizing a good test in both of a terminal mode and a high resistance mode of driver.例文帳に追加

本発明の目的は、ドライバが終端モード、高抵抗モードのどちらであっても、良好な試験を実現する半導体試験装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide the accurate and efficient adjustment testing method and device of digital communication equipment using a quadrature modulation signal.例文帳に追加

通信機器の調整試験に関し、特に直交変調信号を用いるデジタル通信機器の正確で効率的な調整試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a data analysis system capable of quickly and easily transferring data even when a testing device is away from a test data analyzer in distance.例文帳に追加

試験装置から試験データ解析装置までが距離的に離れていても、迅速かつ容易にデータ転送の可能なデータ解析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which applies test pattern data to many DUTs without complicating a layer constitution of a printed board.例文帳に追加

プリント基板の層構成を複雑化させることなく、多数のＤＵＴに対して試験パターンデータを印加することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic nonstop charge reception system testing device capable of confirming the operation of a lane controller without performing actual vehicle traveling.例文帳に追加

実際の車両走行を行わずに車線制御装置の動作を確認することが可能なノンストップ自動料金収受システム試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system for conducing a test in a short time while the accuracy for detecting defects in a semiconductor device is maintained.例文帳に追加

半導体装置に関する不良の検出精度を維持しつつも短時間で試験を実施することができる半導体試験システムを提供することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a package testing is conducted within a bandwidth other than a default bandwidth without correcting the wiring for a package option pad.例文帳に追加

パッケージオプションパッドに対するワイヤーリングの修正なしにデフォルトバンド幅以外のバンド幅でパッケージテストを行うことのできる半導体メモリ素子を提供する。 - 特許庁

To provide a ferroelectric memory, in which the control by an external testing device is easily performed, and in which a redundancy relief test can be performed with high reliability.例文帳に追加

外部試験装置による制御が簡単で信頼性の高い冗長救済試験を行うことができる強誘電体メモリを提供する。 - 特許庁

To provide a material testing apparatus enabling a load to be easily applied to a material test piece at a desired rate of change by operation of a remote control device.例文帳に追加

リモートコントロール装置を操作して簡単に、材料試験片に負荷を所望の変化速度で加えることができる材料試験装置を提供する。 - 特許庁

Accordingly, the quality determination of the differential signal can be performed, without having to measure the elapsed time, and the configuration of the testing device 2 can be simplified.例文帳に追加

したがって、経過時間を測定することなく、差動信号の良否判定を行うことができ、テスト装置２の構成を簡素にすることが可能となる。 - 特許庁

To provide an accurate and convenient method for testing perfectness of a package in order to hold an electronic device in a moistureless environment.例文帳に追加

電子デバイスを水分のない環境内に保持するために、パッケージの完全性を試験するための正確でかつ好都合な方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a shaft centering device for material testing machines capable of easily adjusting the shaft center of a gripper despite a relatively small and simple configuration.例文帳に追加

比較的小型で簡易な構成でありながら、容易につかみ具の軸心を調整することが可能な材料試験機の軸心調整装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect detecting device for a steel strip capable of executing surface testing good in precision by using a surface defect gauge in a pickling line.例文帳に追加

酸洗ラインにおいて、表面欠陥計を用いて、精度のよい表面検査を行うことができる鋼帯の表面欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic Web page test device for quickly testing a Web page by automatically executing redundant components in the Web page.例文帳に追加

Webページに重複部品が存在する場合でも、重複部品の自動実行を可能とし、迅速にWebページのテストが行えるWebページテスト自動化装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, reducing a test time for outputting a result of comparing a data pattern for testing with a data read out from a memory cell array.例文帳に追加

テスト用のデータパターンとメモリセルアレイから読み出したデータとの比較結果を出力するテスト時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To improve test accuracy, while executing economically a test equivalent to an actual vehicle test, in a vibration testing device for a railway vehicle.例文帳に追加

鉄道車両の振動試験装置において、実車両試験と同等な試験を経済的に実施可能としつつ、試験精度の向上を図ること。 - 特許庁

To provide a program production system of a semiconductor testing device which reduces the trouble of developing an OS and a test program and simplifies debugging work.例文帳に追加

ＯＳやテストプログラムの開発の手間を低減でき、デバッグ作業を簡略化することができる半導体試験装置のプログラム作成方式を提供すること。 - 特許庁

To provide a wheel base positioning device of a testing machine for a vehicle capable of executing accurate positioning efficiently by omitting a positioning work by eye-estimation.例文帳に追加

目測による位置決め作業をなくして効率的に正確な位置決めができる車両用試験機のホイールベース位置決め装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wind resistance testing device using no wind tunnel and a method for wind resistance test by which the stability of the wind resistance of a model which is an object to be tested for wind resistance can be confirmed.例文帳に追加

風洞を用いない耐風試験装置と耐風試験対象物である模型の耐風安定性を確認する試験の方法を実現する。 - 特許庁

To provide a tire testing device which supports a load of a measured tire, constitutes a road face for a flat test, and carries out a test under a condition near an actual road face.例文帳に追加

被験タイヤの荷重を支持できると共に、平坦な試験用の路面を構成でき、実路面に近い状態で試験できるタイヤ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an air conditioner and an environment testing device of low power consumption capable of coping with a wide temperature range.例文帳に追加

本発明は、幅広い温度領域に対応することができ、且つ、消費電力の少ない空調装置及び環境試験装置を提供すること課題とする。 - 特許庁

The tire curbstone run-over testing device comprises a trailer 2 for mounting a test tire 1, a projection 4 for a curbstone installed on a road surface 3, and a towing means 6 for towing the trailer 2.例文帳に追加

試験タイヤ１を取り付けるトレーラ２と、路面３に設置した縁石用突起４と、トレーラ２を牽引する牽引手段６を備えている。 - 特許庁

Improvement is added on the memory testing device which stores test results of the memory to be tested in a fail memory and counts the number of fails of the fail memory.例文帳に追加

本発明は、被試験メモリの試験結果をフェイルメモリに格納し、このフェイルメモリのフェイル数をカウントするメモリ試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁