「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(86ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test apparatus and a test method with a simple configuration for testing a device to be tested which outputs a plurality of modulation signals modulated by carrier signals with one and the same frequency.例文帳に追加

同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを簡単な構成により試験する。 - 特許庁

A display control device 102 of the game machine being one example of this invention has a CPU 10, and the trial shoot testing terminal 22 of a third person inspection institute.例文帳に追加

本発明の一例である遊技機の表示制御装置１０２は、ＣＰＵ１０と、第三者検査機関の試射試験用端子２２とを備える。 - 特許庁

The testing device 40 generates a false signal of the detecting signal to be outputted to the sorter to make the sorter 10 perform the sorting operation.例文帳に追加

試験装置４０は、前記検出信号の疑似信号を生成して分類装置１０に出力し、分類装置１０に分類動作を行わせる。 - 特許庁

To provide an environmental testing device capable of carrying out a stable vibration test all the time, without being affected by a temperature change in a thermostatic oven.例文帳に追加

恒温槽内の温度変化に影響を受けることなく、常に安定した振動試験を行うことのできる環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a socket capable of surely and simply connecting and simply detaching an electronic component with a lead wire to and from the wiring of a testing device or the like.例文帳に追加

リード線を持つ電子部品をテスト装置等の配線に対して簡単かつ確実に接続し、かつ、簡単に取り外せるソケットを提供する。 - 特許庁

The foam discharge testing device includes a foam test tank 10 for storing an agent T for the inspection separately from an undiluted solution storage tank 1 for storing a foam extinguishing undiluted solution E.例文帳に追加

泡消火薬原液Ｅを貯留する原液貯留タンク１とは別に、点検用薬剤Ｔを貯留する泡試験用タンク１０を備えている。 - 特許庁

The support by the upper supporting body 2 and the lower supporting body 3 is released, and the tire mounting shaft 4 with the rim 6 and the tire 7 assembled thereto is set to a testing device.例文帳に追加

上部支持体２及び下部支持体３による支持を解除し、リム６及びタイヤ７を組み付けたタイヤ取付軸４を試験装置へセットする。 - 特許庁

To provide an environmental testing device capable of carrying out a stable compound environmental test all the time, without being affected by a temperature change in a thermostatic oven.例文帳に追加

恒温槽内の温度変化に影響を受けることなく、常に安定した複合環境試験を行うことのできる環境試験装置を提供する。 - 特許庁

Consequently, according to this leakage testing device 1, detection accuracy of the pressure in the lattice hole 10 is improved, and specification accuracy of a leak position can be improved, accompanying this.例文帳に追加

このため、漏れ試験装置１によれば、格子孔１０内の圧力の検出精度が向上し、これに伴ないリーク位置の特定精度を向上できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device for preventing a fall of a performance board by using an inexpensive sensor to detect a small inclination of a test head.例文帳に追加

安価なセンサを使用してテストヘッドの小さな傾きを検出し、パフォーマンスボードの落下を防止することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a thermal fatigue testing device that can check the thermal fatigue behavior of a rotary member in fluid with complicated temperature fluctuation.例文帳に追加

本発明の目的は、複雑な温度変動をする流体中にある回転部材の熱疲労挙動が調べられる熱疲労試験装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inexpensive and application-specifically constituted semiconductor test system for testing semiconductor device, by making various different types of testing devices modules, combining a plurality of them, and providing a measuring module corresponding to a function peculiar to a device to be tested in a test fixture.例文帳に追加

半導体デバイスを試験するための半導体テストシステムであり、特に各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスに固有の機能に応じた測定モジュールをテスト・フィクスチャ内に設けることにより、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

In a seeming state to the measurement device where measurement testing of the plurality of semiconductor devices and the virtual device is executed by using the preset number of input/output pins, measurement testing of the plurality of semiconductor devices is carried out simultaneously by using the predetermined number of input/output pins associated with the semiconductor devices.例文帳に追加

測定装置に、複数の半導体装置及び仮想デバイスの測定試験をそれぞれ予め設定された本数の入出力ピンを用いて行うと見せかけた状態で、複数の半導体装置の測定試験を、それぞれの半導体装置に関連付けられた所定本数の入出力ピンを用いて同時に行う。 - 特許庁

To reduce the warpage of a probe card substrate by uniformizing the structure for mounting the probe card substrate and its reinforcing member to a probe card holding member with respect to a semiconductor device testing apparatus whose several probe needles are brought into contact with semiconductor devices of a semiconductor wafer, and to provide a semiconductor device testing method using it.例文帳に追加

複数のプローブ針を半導体ウエハの半導体素子に接触させる形式の半導体素子試験装置とそれを用いた半導体素子試験方法において、プローブカード基板と、それに対する補強部材を、プローブカード保持部材に取り付ける構造を均一化し、プローブカード基板の反りを軽減する。 - 特許庁

This testing device is characterized, by installing the actuators 21, 31 having projection-shaped protruding portions 22, 32 on the rotating drum mechanism parts 20, 30 installed in the rough road running testing device 1, and controlling by extending and retracting the protruding portion 22, 32 by the actuators 21, 31, to form the projection parts on the surfaces of the rotating drum mechanism part 20, 30.例文帳に追加

悪路走行試験装置１に設けられた回転ドラム機構部２０、３０には、凸形状の突起部２２、３２を有するアクチュエータ２１、３１を設け、このアクチュエータ２１、３１により突起部２２、３２を伸縮制御して、回転ドラム機構部２０、３０の表面に凸部を形成してなることを特徴とする。 - 特許庁

A testing device main body 4 which is fitted to a drill 1 by a fitting member 3 and mounted on the fitting member 3 to be able to move in the axial direction of the drill 1 is provided, and the testing device main body 4 is rotated during the operation of the drill 1 and has a rotary plate 6 with a reagent surface for receiving the boring powder.例文帳に追加

ドリル削孔機１に取付け部体３をもって取付けられ、ドリル軸方向に移動可能に前記取付け部体３に搭載された検査装置本体４とを備え、前記検査装置本体４が、前記ドリル削孔機１の削孔時に回転して削孔粉を受ける試薬面付き回転板６を有している。 - 特許庁

To provide an inductor recognizing method for recognizing an inductor in the layout of a semiconductor device, a layout testing method capable of automatically verifying a design standard, etc., in the inductor by utilizing the inductor recognizing method, and a method for manufacturing a semiconductor device by using the layout testing method.例文帳に追加

半導体装置のレイアウトにおけるインダクタを認識するためのインダクタ認識方法、このインダクタ認識方法を利用して自動的にインダクタにおける設計基準などの検証を行なうことが可能なレイアウト検査方法、このレイアウト検査方法を用いた半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

In the B/I test process, a maximum current limit Ilmt (max) to be supplied from a B/I testing device to a B/I board BIBD is set based on a margin α in which a maximum operation current Icc (max) of a testing object device DUT, the number N of DUTs mounted on the BIBD, and a dispersion are taken into consideration.例文帳に追加

Ｂ／Ｉテスト工程の際に、Ｂ／Ｉテスト装置からＢ／ＩボードＢＩＢＤに供給する最大電流リミットＩｌｍｔ（ｍａｘ）を被テストデバイスＤＵＴの最大動作電流Ｉｃｃ（ｍａｘ）とＢＩＢＤ上のＤＵＴの搭載数Ｎとばらつきを加味した余裕度αに基づいて設定する。 - 特許庁

This semiconductor testing device has a semiconductor testing circuit 101 having a driver 110 for making and outputting a test signal corresponding to a test pattern to a test object device 20, replica drivers 120 and 130 for generating a comparison signal by synthesizing the test signal and a reference signal and resistances 122a, 122b, 132a and 132b.例文帳に追加

本発明にかかる半導体試験装置は、試験パターンに対応する試験信号を生成し試験対象装置２０に出力するドライバー１１０と、試験信号と基準信号とを合成した比較信号を生成するレプリカドライバー１２０，１３０および抵抗１２２ａ，１２２ｂ，１３２ａ，１３２ｂとを備えた半導体試験回路１０１を有する。 - 特許庁

The personal computer system is provided with a service aid device for deciding the faults of multiple equipment arranged in a power system on the basis of information obtained from these equipment and a simulator type testing device for simulatively driving the service aid device and inspecting its functions.例文帳に追加

電力系統に設けられる複数の機器からの情報に基づいて機器の故障判定を行う保守支援装置と、この保守支援装置を模擬的に動作させてその機能を点検するシミュレータ式試験装置とを備える。 - 特許庁

To provide a testing device for a control device capable of easily performing rearranging work of a needed test circuit in the case of performing a confirmation test for a control device housed in a control panel and appropriately performing test data collection and decision work.例文帳に追加

制御盤に収納された制御機器の確認試験を行う際に必要な試験回路の組替え作業を容易に行え、試験データの採集や判定作業を適切に行える制御機器試験装置を得ることである。 - 特許庁

To remove a moisture content mixed in engine oil during test by installing an oil moisture content removing device in a system of an engine oil temperature control device and switching a system during completion of a text, in a low temperature environment testing device for an internal combustion engine.例文帳に追加

内燃機関の低温環境試験装置において、エンジンオイル温調装置の系内に油内水分除去装置を増設し、試験終了時に系統を切り替えて、試験中にエンジンオイルに混入した水分を除去する。 - 特許庁

To provide a position correction method and device capable of accurately aligning a probe with each pad even if the pads are reduced in pitch and size, and a semiconductor integrated circuit testing device having the above device.例文帳に追加

パッドが狭ピッチ化され及び小型化された場合であっても、各パッドに対するプローブの位置合わせを正確に行うことができる位置補正方法及び装置並びに当該装置を備える半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

This device is equipped with the test chamber 12 for testing leakage, burning and explosion of hydrogen; an air supply device 14 for supplying combustion air into the test chamber; and a flue gas treating device 16 for treating exhaust gas generated in the test chamber.例文帳に追加

水素の漏洩、燃焼、及び爆発を試験する試験室１２と、試験室に燃焼用空気を供給する給気装置１４と、試験室内で発生した排ガスを処理する排煙処理装置１６とを備える。 - 特許庁

To provide a testing device of an electronic part substrate, capable of aiming miniaturization of the device, and capable of increasing the number of trays storable in the device, a test method and trays for the electronic part substrate used therefor.例文帳に追加

装置の小型化を図ることができると共に、装置内に収容できるトレイ枚数を増大させることができる電子部品基板の試験装置、試験方法およびそれに用いられる電子部品基板用トレイを提供すること。 - 特許庁

To provide a signal measuring device capable of simultaneously achieving, at high levels, a plurality of items of performance such as DC performance, noise performance, strain performance or spurious performance, and a semiconductor testing device with the signal measuring device.例文帳に追加

ＤＣ性能、ノイズ性能、歪み性能、スプリアス性能等の複数の性能を高いレベルで同時に満足することができる信号測定装置、及び当該信号測定装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a bus-bar protection relay device which reduces a power interruption range smaller than that of a conventional device at the occurrence of a bus-bar accident when the bus-bar protection relay device of a power plant is not in use because of maintenance and testing, and a bus-bar protection method.例文帳に追加

変電所の母線保護継電装置を点検や試験のため不使用中における母線事故発生時に従来より停電範囲を縮小する母線保護継電装置と母線保護方法を提供すること。 - 特許庁

When the test body 3b is a material for a rolling motion component, a rolling motion component simulated body 3 which is a simulated component for testing is manufactured and included in components, and the rolling motion component simulated body 3b is immersed in the lubricant and a testing device is actuated.例文帳に追加

被試験体３ｂが転動部品用の材料である場合、転動部品を試験用に模した部品である転動部品模擬体３を、前記被試験体３ｂを構成要素に含めて製作し、この転動部品模擬体３ｂを潤滑油に浸漬して動作させる。 - 特許庁

The contact pin 1 is mounted to an element-testing apparatus used for testing the electrical characteristics of electronic components, such as a semiconductor device, and a contact part 12a of the contact pin 1 to be brought into contact with electrodes of the electronic parts can be characteristically detached and attached.例文帳に追加

半導体素子等の電子部品の電気的特性試験に用いられる素子試験装置に搭載されたコンタクトピン１であって、前記電子部品の電極に接触させるコンタクトピン１の接触部１２ａが脱着可能であることを特徴とする。 - 特許庁

The device 1 has a temperature regulation part 3, and regulates the atmospheric temperature in the sample W exposed thereto and a temperature of the sample itself, i.e. testing environment temperatures, by feeding air temperature-regulated in the temperature regulation part 3 into a testing chamber 2.例文帳に追加

熱疲労評価装置１は、温調部３を有し、温調部３において温度調整された空気を試験室２に送り込むことにより、試料Ｗがさらされる雰囲気温度や試料自体の温度、すなわち試験環境温度を調整することができる。 - 特許庁

In this semiconductor testing device 11, a control part 10 forms a pattern file use frequency table in a pattern file use frequency table memory part 18 and determines the use frequencies of pattern files in the process of testing a preset number of semiconductors to be tested.例文帳に追加

半導体試験装置１１において、制御部１０は、パタンファイル使用頻度テーブル記憶部１８に、パタンファイル使用頻度テーブルを作成し、予め設定された個数分の被試験対象の半導体を試験する過程で、パタンファイルの使用頻度を求める。 - 特許庁

The semiconductor wafer 200 comprises a plurality of semiconductor chip regions 220 including the ferroelectric memory device 100, a chip region 210 for testing, and circuits 230, 240 for connecting the plurality of semiconductor chip regions 220 to the chip region 210 for testing.例文帳に追加

本発明の半導体ウエハ２００は、強誘電体メモリ装置１００を含む複数の半導体チップ領域２２０と、試験用チップ領域２１０と、複数の半導体チップ領域２２０と試験用チップ領域２１０とを接続する配線２３０，２４０と、を含む。 - 特許庁

To provide a pile loading test method and its loading test device capable of being tested by using a testing pile in a state to make it possible to actually use, simplifying the constitution, extending the flexibility of the test and contributing to shortening of the testing process and reduction of costs.例文帳に追加

実際に使用される状態の試験杭を用いて試験することができ、構成が簡単で、試験の自由度を広げることができ、更には試験工程の短縮及びコストの削減に寄与する杭の載荷試験方法及び載荷試験装置を提供する。 - 特許庁

To effectively prevent damage of each part, even if a testing object is short-circuited and so on, applying a testing device to a test of a semiconductor element which operates by a high voltage such as a plasma display panel (PDP) driving IC or the like for example.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えばＰＤＰ（プラズマディスプレー）パネルドライブ用ＩＣ等の高電圧で動作する半導体素子の試験装置に適用して、試験対象が短絡した場合等にあっても、各部の損傷を有効に回避することができるようにする。 - 特許庁

To provide a solar battery module durability testing device for automatically testing mechanical strength and durability of solar battery modules and also the durability in an environment close to an actual usage state where the modules are attached onto a roof by using frame bodies and support metal fittings.例文帳に追加

太陽電池モジュールの機械的強度や耐久性、モジュールを枠体や支持金具を用いて屋根に取付けた実際の使用状態に近い環境での耐久性について自動的に試験できる太陽電池モジュールの耐久性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for entirely testing a semiconductor device or a semiconductor wafer capable of constituting a low cost testing unit, easily executing a test and easily confirming a decision result of a non-defective product or a defective product at any time.例文帳に追加

テスト装置を安価に構成することができ、かつ容易にテストを実施することができ、良品、不良品の判定結果をいつでも容易に確認することができる半導体デバイスまたは半導体ウェハ一括のテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing and recording device for dies and a testing and recording method for dies which can surely distinguish and view minute irregularity on a test object such as dust and blemish on a non-plane molding face of a die from a specific reflection area.例文帳に追加

金型の非平面状成形面上にあるゴミや傷等の微小凹凸検査対象を、非平面状成形面上の特定反射域と区別して確実に視認できる金型用検査記録装置及び金型の検査記録方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing charge and discharge of a secondary battery capable of easily obtaining a result of various tests in a charge cycle and a discharge cycle as a reference when testing charge and discharge, and to provide a recording medium recording a discharge test program.例文帳に追加

充放電試験において、充電サイクル及び放電サイクルを基準とした各種試験結果を容易に得ることが可能な二次電池の充放電試験方法、放電試験装置及び放電試験プログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a battery sealing agent testing device and a battery sealing agent testing method wherein determination of presence or not of coating of the sealing agent to be applied to the inner wall in the vicinity of an opening part of a metallic exterior can and of quality decision of a coating plaque in a battery manufacturing process can be carried out exactly.例文帳に追加

電池製造過程において金属製外装缶の開口部付近の内壁に塗布される封口剤の塗布の有無、塗布斑の良否を的確に判定することができる電池封口剤検査装置および電池封口剤検査方法を提供する。 - 特許庁

The physical layer device 21 is equipped with a link layer interface 2, a physical layer logic circuit 3 and boards 4-6 and further is equipped with a testing link layer circuit 22 in the inside, a testing physical layer logic circuit 23 and switches 24-26.例文帳に追加

この物理層デバイス２１は、リンク層インターフェース２、物理層ロジック回路３、およびポート４〜６の他に、物理層ロジック回路３とポート４〜６の動作をテストするために、テスト用リンク層回路２２、テスト用物理層ロジック回路２３、およびスイッテ２４〜２６を内部に備えている。 - 特許庁

The shutoff valve testing device for testing each normally opened or normally closed shutoff valve arranged in a pipeline executes an operation test by sending a valve control signal of a degree not fully closing or fully opening the valve to the valve at the time of receiving a test command.例文帳に追加

パイプラインに設置される常時開または常時閉の遮断弁をテストする遮断弁テスト装置において、テスト指令を受けて全閉または全開にならない程度の弁制御信号を前記遮断弁に送出して動作テストを行う遮断弁テスト装置。 - 特許庁

The system is configured such that a stocker controller and a PLC are connected in series with a conveyance controller comprising a main control device, a collected data display device, a data recording device, and a request data display device, and a test program for testing a PLC program is connected thereto.例文帳に追加

主制御装置、収集データ表示装置、データ記録装置及び要求データ表示装置からなる搬送コントローラに、ストッカー制御装置とＰＬＣとを直列的に接続し、これにＰＬＣプログラムのテストを行うテストプログラムを接続して構成する。 - 特許庁

To provide a direct-current testing device capable of applying a stable constant voltage to a device to be tested (DUT), realizing high-density mounting by suppressing heat generation, and realizing miniaturization and cost reduction, and a semiconductor device equipped with the device.例文帳に追加

安定した一定の電圧をＤＵＴに印加することができ、発熱を抑えることにより高密度実装が可能であり、更には小型化及び低コスト化を実現することができる直流試験装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method capable of checking the characteristic of a DLL circuit resulting from an internal operation of an integrated circuit device having a built-in DLL circuit, and to provide an integrated circuit device allowing the test.例文帳に追加

ＤＬＬ回路を内蔵する集積回路装置の内部動作に起因するＤＬＬ回路の特性をチェックできる試験方法及びかかる試験ができる集積回路装置を提供する。 - 特許庁

According to the above means, as the heat generation distribution in a state that the semiconductor chip is mounted on the substrate can be easily known, a semiconductor device testing device can correspond efficiently to the countermeasures against generated heat of the chip.例文帳に追加

上述した手段によれば、半導体チップの実装状態での発熱分布を容易に知ることができるので、半導体チップの熱対策を効率的に対応することができる。 - 特許庁