「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(90ページ目) - Weblio英語例文検索

To execute an application testing device for efficiently make the various tests of an application in a controller without performing the function changing operation of a shadow block in the controller.例文帳に追加

コントローラ内のシャドウブロックの機能変更操作をしないでコントローラ内部のアプリケーションの多様な試験を効率よく実施するできるアプリケーション試験装置を実現する。 - 特許庁

To materialize miniaturization and a low cost of a semiconductor testing device by small capacity programmable scrambler reducing the capacity of a scramble memory by enabling address conversion into an arbitrary address.例文帳に追加

任意のアドレスにアドレス変換可能で、且つスクランブルメモリの容量を低減した小容量プログラマブルスクランブラにより半導体試験装置の小型、低価格化を実現する。 - 特許庁

A character string restriction extraction part 11 of a data generation device 1 extracts character string variables appearing in source restriction information of testing and classifies them into an equivalence relationship and an inequivalence relationship.例文帳に追加

データ生成装置１の文字列制約抽出部１１は，テストの元制約情報に出現する文字列変数を抽出し，等価関係／非等価関係に分類する。 - 特許庁

Then, the flow rate measured by the flowmeter is shifted by only the decided delay time so as to correspond to the actual flow rate measured by the testing device.例文帳に追加

次いで、試験装置によって測定された実際の流量と対応するよう、決定された遅延時間だけ、流量計によって測定された流量をシフトさせる。 - 特許庁

A micro-bump pad (a first pad 21) for data input/output is arranged in a connection path between the test pad (second pad 22) used for testing a semiconductor device and an internal circuit 23.例文帳に追加

半導体装置のテストのためのテストパッド（第２パッド２２）と内部回路２３との接続経路に、データ入出力のためのマイクロバンプパッド（第１パッド２１）が配置されている。 - 特許庁

For testing an elevator system 10, the test weight conveying device 20 loads a test weight 14 while hoisting it from a floor surface 6, and conveys it toward a car 14.例文帳に追加

エレベータシステム１０のテストのため、テストウェイト運搬装置２０はテストウェイト１４を床面６から引き上げた状態で積み込み、乗りかご１４に向かって運搬される。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing a what is called, two- stage blow head which is used for the production of glass product, especially for the final blow operation of a glass product producing machine.例文帳に追加

ガラス製品の製造、特に、ガラス製品製造機械の最終吹込操作に使用されるいわゆる２段階ブローヘッドを試験するための方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring circuit, which can be utilized for testing performance of a sense amplifier incorporated in the inside of a semiconductor integrated circuit device from the outside.例文帳に追加

半導体集積回路装置の外部からその内部にあるセンスアンプ単体の性能を試験・検査するのに利用可能な測定回路を提供することである。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of synchronizing timing of high-speed side pattern data and low-speed side pattern data when canceling hold with simple hardware control.例文帳に追加

簡略なハードウェア制御によってホールド解除時の高速側パターンデータと低速側パターンデータのタイミングを揃えることが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for cold criticality tests which make it possible to shorten testing time at lower costs and to find a highly accurate reactor cycle efficiently.例文帳に追加

低コストで試験時間を短縮することができるとともに、高精度の炉周期を効率よく求めることができる冷温臨界試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

A piping pattern, conducting to the bump body via the anisotropic conductive rubber plug 13, is formed on an epoxy resin substrate 15 in the inside and is connected to a testing device.例文帳に追加

エポキシ樹脂基板１５には、異方導電性ゴムプラグ１３を介してバンプ本体に導通する配線パターンが内部に形成され、配線パターンは試験装置に接続される。 - 特許庁

A test emulation part 140 operates a device test program 112 to be an object to be debugged under the operating system of a general-purpose computer, and a semiconductor testing apparatus is constituted in a pseudo manner.例文帳に追加

テスタエミュレート部１４０は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成する。 - 特許庁

In this testing device for the semiconductor chip 2, the semiconductor chip 2 conveyed by a handler is connected to an IC socket 6 to test electric performance.例文帳に追加

本発明にかかる半導体チップ２の試験装置は、ハンドラにより搬送した半導体チップ２をＩＣソケット６に接続して電気的性能の試験を行なうものである。 - 特許庁

The integrated circuit device for vehicle devices 10 comprises an ignition control circuit 11, a power source voltage control circuit 12, diagnosis control circuit 13 and a testing circuit 14.例文帳に追加

車両デバイス用集積回路装置１０は、点火制御回路１１、電源電圧制御回路１２、ダイアグ制御回路１３およびテスト制御回路１４を備えている。 - 特許庁

To provide a contact substrate for testing semiconductor device for conducting a test of an electronic component to be tested having fine electrode structure, while holding satisfactory electric contact.例文帳に追加

微細な電極構造を有する被試験電子部品の試験を良好な電気接触を保持して行うことが可能な半導体装置試験用コンタクト基板を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device offering interleaving configuration for connecting devices, reducing the number of signals connecting the devices.例文帳に追加

インターリーブ形態で装置間を接続する構成を備える半導体試験装置において、装置間を接続する信号本数を低減可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing a digital radio system which do not cause errors in test results, and enable proper maintenance and administration of the digital radio system.例文帳に追加

試験結果に誤差が生じることがなくかつデジタル無線システムの適正な維持および管理を図ることができるデジタル無線システム試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an uniterruptive testing device capable of carrying out an overcurrent circuit breaker functional test for a wiring circuit breaker while the wiring circuit breaker is connected with a main circuit.例文帳に追加

配線用遮断器を主回路に接続したまま配線用遮断器の過電流遮断機能試験を実施することができる無停電試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus device capable of enhancing test efficiency by enabling free allocation of logic pins and test pins, and reducing circuit scale.例文帳に追加

論理ピンとテスタピンとの自由な割り付けを可能にすることで試験効率を高めることができ、また、回路規模を削減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device used for testing acaricides exterminating mites, such as Varroa jacobsoni being an ectoparasite of honeybees, and a mite extermination member applied with the acaricides to be examined.例文帳に追加

ミツバチの外部寄生害虫であるミツバチヘギイタダニ等のダニを駆除する駆除剤の試験に用いる装置及び試験される駆除剤を塗布するダニ駆除部材を提供する。 - 特許庁

The wiring patterns 9a, 9b connected to the respective substrate electrodes 7 are connected to a testing device via the terminals 11 to be used as a sensing line and a force line.例文帳に追加

各基板電極７に接続されている配線パターン９ａ，９ｂは端子１１を介して試験装置に接続されてセンスラインとフォースラインとして用いられる。 - 特許庁

This threshold value testing circuit provided for a threshold value voltage of an I/O circuit in the semiconductor device is provided with a sampling/holding circuit and a sampling control circuit.例文帳に追加

半導体装置においてＩ／Ｏ回路の閾値電圧の試験用に設けられる閾値試験回路は、サンプル／ホールド回路およびサンプリング制御回路を備えて構成される。 - 特許庁

To provide an inexpensive elution testing device used for immersing a solid preparation in a test solution to measure the elution degree of a preparation component and simple in constitution.例文帳に追加

試験液中に固形製剤を浸漬させて製剤成分の溶出程度を測定するために用いられ構成が簡易で廉価な溶出試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a penetration endurance evaluating testing device for quantitatively evaluating the penetration endurance strength by a cutting tool of a sheet material of a sheet-like material with high reproducibility.例文帳に追加

シート状材料のシート材の刃物による耐貫通強度を長期にわたり、再現性よく、かつ定量的に評価できる耐貫通性評価試験装置を得ること。 - 特許庁

Unnecessary copper foil wiring 2 is cut by irradiating a laser light, the BGA package wiring is completed, and each signal terminal is led out to the terminal 3 for a testing device.例文帳に追加

不要な銅箔配線２は、レーザーを照射して切断することにより、ＢＧＡパッケージの配線を完成させ、信号端子の各々を試験装置用の端子３に引き出す。 - 特許庁

To provide a heating/cooling testing device, capable of performing simultaneously heating/cooling tests having different conditions with respect to each of two kinds of connected samples.例文帳に追加

接続されている２種類の試料のそれぞれに対して条件の異なる加熱冷却試験を同時にすることが可能な加熱冷却試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vehicle crash testing device capable of setting each running speed of test vehicles at mutually different speeds in a crash test of vehicle vs. vehicle.例文帳に追加

車両対車両の衝突試験において、被試験車両の各走行速度を互いに異なった速度に設定することが可能な車両衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a genetic testing device capable of performing a plurality of inspections requiring mutually different temperature control at the same time with high accuracy.例文帳に追加

本発明の課題は、互いに異なる温度制御が必要な複数の検査を並列に精度よく行うことができる遺伝子検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To obtain a test device for integrated circuit devices capable of testing a plurality of integrated circuit devices with a small number of voltage sources and ammeters and reducing the test prices.例文帳に追加

少数の電圧源及び電流計で複数の集積回路装置をテストでき、テスト価格をダウンさせうる集積回路装置用のテスト装置を提供する。 - 特許庁

The test module outputs both a first analog signal which is directly proportional to the intensity and a second analog signal with its power voltage being proportional to the spectral wavelength of the device under testing.例文帳に追加

該テストモジュールは、該強度に正比例する第１のアナログ信号と、試験中のデバイスのスペクトル波長に電圧が正比例する第２のアナログ信号を出力する。 - 特許庁

To enable the automatic discrimination of externally connected equipment in an IC testing device which tests semiconductor devices by controlling the externally connected equipment.例文帳に追加

外部接続された機器を制御して半導体デバイスの試験を行うＩＣ試験装置において、外部接続された機器を自動的に判別できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a collision testing device capable of simulating a collision of a vehicle with high reproducibility, a design method for the vehicle and the vehicle design by the design method.例文帳に追加

高い再現性で車両の衝突を模擬することができる衝突試験装置、車両の設計方法、その設計方法により設計された車両を提供する。 - 特許庁

Sequential data which are received from the testing device 314 are constituted in a parallel shape, and an estimation-to-actual data value is displayed for every node, in order to indicate whether the test of a node has passed or not.例文帳に追加

テスト装置から受け取られた順次データは並列形式に構成され、ノードのテストが合格か否かを示すためノード毎に予測対実際データ値が表示される。 - 特許庁

The vehicle traction device is constituted such that a dolly 13 is only located in the rear of a test vehicle 14 in moving direction when testing the test vehicle 14, and that an arm 15 is provided to the dolly 13 to push the test vehicle 14.例文帳に追加

ドーリー13を試験用車両14の試験時の、移動方向の後方にのみ配置して、このドーリー13に試験用車両14を押すためのアーム15を取付ける。 - 特許庁

To realize a logic test circuit testing a logic circuit in a chip and having less over-head by constituting a test circuit in a chip without introducing a new device process named FPGA.例文帳に追加

ＦＰＧＡという新規デバイスプロセスの導入することなく、チップ内にテスト回路を構成して、チップ内のロジック回路をテストするオーバヘッドの少ないロジックテストを実現する。 - 特許庁

To provide a collision testing device capable of regenerating reaction near to that of an actual vehicle in collision, and capable of regenerating a phenomenon near to that in the collision between the fellow actual vehicles.例文帳に追加

衝突時に実車に近い反力を発生可能として実車どうしの衝突時により近い現象を再現可能な衝突試験装置を提供すること。 - 特許庁

In order to judge the normality of the wireless characteristics of the wireless base station, testing mobile equipment 109 loaded on the wireless base station and a prescribed device are call-connected and a test is performed.例文帳に追加

無線基地局の無線特性の正常性を判断するために、無線基地局に搭載した試験移動機１０９と所定の装置を呼接続して試験を実施する。 - 特許庁

To provide a functional testing and exhibiting device of a fuel cell power supply device for displaying each electric parameter and gas supply status in operation by connecting pipes and circuits between each component of a whole fuel cell power supply device.例文帳に追加

全体の燃料電池電力供給装置の各構成要件間の管線及び回路を接続し、操作時の各電気パラメータ及びガス供給状況を現出させる燃料電池電力供給装置の機能試験及び展示装置の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor device equipped with a stacked capacitor whose capacitance insulating film contains an aluminum oxide and capable of suppressing the increase of a leak current by suppressing the deterioration of a semiconductor device upon BT testing, and to provide a manufacturing method of the semiconductor device.例文帳に追加

容量絶縁膜が酸化アルミニウムを含むスタック型のキャパシタを備える半導体装置であって、BT試験の際の半導体装置の劣化を抑制し、リーク電流の増大を抑制できる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inserting/ejecting technique of connectors, an inserting/ejecting device of connectors, and a testing device of circuit substrate using the inserting/ejecting device of connectors, all capable of inserting/ejecting the connectors in more easy and more correct fashion, while attempting exact maintenance of wiring material (cable).例文帳に追加

配線材（ケーブル）の的確な保全を図りつつ、コネクタの着脱をより容易に、しかもより正確に行うことのできるコネクタ着脱方法及びコネクタ着脱装置及び該コネクタ着脱装置を用いた回路基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of improving yield of a semiconductor device, and saving the labor and the time required from start until finish of an interface test of the semiconductor device even when an abnormality occurs.例文帳に追加

半導体デバイスの歩留まりの向上を図ることができるとともに、異常が発生したときにおいても半導体デバイスのインターフェーステストを開始してから終了するまでにかかる手間と時間とを省くことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

This IC socket for mounting detachably a device to be measured on a test board is equipped with a signal generation part for a test for generating a signal for the test based on a control command from a testing device body, and outputting it to the device to be measured.例文帳に追加

被測定デバイスをテストボード上に着脱自在に実装するＩＣソケットにおいて、試験装置本体からの制御指令に基づいて試験用信号を発生して被測定デバイスに出力する試験用信号発生部を備える。 - 特許庁

To provide a method and device for testing a semiconductor device capable of evaluating an exact interface state density and its energy distribution of the semiconductor device having an insulating film permitting the tunnel current to easily flow.例文帳に追加

トンネル電流が流れやすい絶縁膜を有する半導体装置について正確な界面準位密度及びそのエネルギー分布を評価することを可能とする半導体装置の試験方法及び試験装置を提供することを提供する。 - 特許庁

FILM TYPE SEMICONDUCTOR PACKAGE PROVIDED WITH TEST PAD HAVING SHARED OUTPUT CHANNEL, TEST METHOD FOR FILM TYPE SEMICONDUCTOR PACKAGE, TEST DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH PATTERN SHARED WITH TEST CHANNEL, AND TESTING METHOD IN SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

出力チャンネルが共有されるテストパッドを備えるフィルム型半導体パッケージ及びフィルム型半導体パッケージのテスト方法、テストチャンネルが共有されるパターンを備えるテスト装置及び半導体装置、並びに半導体装置におけるテスト方法 - 特許庁

A light emitting device is produced by depositing a layer of wavelength converting material over the light emitting device element, testing the device to determine the wavelength spectrum produced, and correcting the wavelength converting member to produce a desired wavelength spectrum.例文帳に追加

発光デバイスが、該発光デバイスの上に波長変換材料の層を堆積させること、当該デバイスを試験して生成された波長スペクトルを測定すること、波長変換部材を補正して所要の波長スペクトルを生成すること、によって生成される。 - 特許庁