「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(94ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a vibration testing device, capable of applying vibration in three orthogonal axial directions to an object to be tested, further, allowing vibration test of the object during use and reducing the size of the device.例文帳に追加

直交する三軸方向への振動を被試験体に加えることができ、さらに、被試験体の使用状態での振動試験を可能とするとともに、装置の小型化を図ることを可能とする振動試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a valve abnormality automatic testing device of a liquid transferring device capable of informing an abnormality detection result of a previously set valve opening and closing program by opening and closing a related valve in forming a transferring route of liquid.例文帳に追加

液体の移送ルート作成時に関連するバルブを開閉し、予め設定されたバルブ開閉プログラムの異常検出結果を試験実施者に通知することができる液体移送装置のバルブ異常自動試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an on-vehicle testing apparatus for ETC capable of simplifying and shortening the required time for the performance measuring test of an ETC vehicle-mounted device, without having to change the setting of the vehicle-mounted device in the state of actually performing a communication.例文帳に追加

ＥＴＣ車載器の性能測定試験を、車載器を実際に通信を行う状態での設定を変更する必要がなく、簡単にし、所要時間を短縮することができる、ＥＴＣ車載器用テスタを提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device where increase of the number of terminals for testing a memory unit can be suppressed in the semiconductor device composed by integrating a plurality of chips containing at least a memory chip and a logic chip for controlling the memory chip into one package.例文帳に追加

メモリチップと該メモリチップを制御するロジックチップを少なくとも含む複数のチップを１パッケージ化した半導体装置において、メモリ単体検査のための端子数増加を抑制できる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of recording desired log data indicating a device state and the like before/after triggering such as when abnormality occurs in a spot manner at a fine time interval, and a log data recording method for the same.例文帳に追加

異常発生時等所望のトリガ前後の装置状態等を示すログデータを、スポット的に精緻な時間間隔で記録することが可能な試験装置と試験装置のログデータ記録方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁

A testing device 1009 realizes a radio connection by a CDMA radio interface with a mobile terminal device 150 by sending a layer-3 signal and transmits a signal to be measured to conduct the radio reception characteristic test and radio function test.例文帳に追加

試験装置１００は、移動端末装置１５０と、レイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インタフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送して無線受信特性試験及び無線機能試験を行う。 - 特許庁

To provide a receiving device wherein high frequency performance is tested by using a testing device without high frequency output function, and multiple receiving devices are simultaneously arranged on a wafer by using a semiconductor process.例文帳に追加

半導体プロセスを用いて複数個同時にウエハ上に実現した高周波信号の受信装置であって、高周波出力機能を備えていない試験装置を用いて高周波性能を試験できる受信装置を実現する。 - 特許庁

According to status information from bodies 1 to be tested (magnetooptic disk drive etc.), the testing device 2 diagnoses its device side including parts 2a in contact with the bodies to be tested, connection cables, etc., and the side of the body to be tested.例文帳に追加

複数の被試験体（光磁気ディスクドライブなど）１からの各ステ−タス情報に基づいて、試験装置２が、被試験体との接触部２ａや接続ケ−ブルなどを含む自装置側や、被試験体側の診断を行なう。 - 特許庁

To provide a testing device capable of detecting errors between the rotation position of an input shaft and the rotation position of an output shaft, concerning an encoder wherein the output shaft is rotated corresponding to rotation of the input shaft via a power transmission device.例文帳に追加

入力軸の回転に応じて出力軸が動力伝達装置を介して回転するエンコーダについて、入力軸の回転位置と出力軸の回転位置との誤差を検出することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for deciding necessity for exchanging a dialysis device by testing clearance of the dialysis device in a simple and reliable at- home blood dialysis system requiring minimum labor of a patient by automating all processes.例文帳に追加

全過程を自動化し最小の患者労力で簡単で信頼性のある在宅用血液透析システムにおいて透析器のクリアランス試験を行い前記透析器の交換の必要性を決定する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing apparatus capable of conducting highly reliable electrical characteristic tests, having a contact holder for precisely bringing the connecting leads of a semiconductor device into contact with contactors during the electrical characteristic tests.例文帳に追加

電気的特性試験の際、半導体デバイスの接続用リードを接触子に的確に接触させるコンタクト押さえを備え、信頼性の高い電気的特性試験を行うことができる半導体デバイスの試験装置を提供する。 - 特許庁

A humidifying device 10 included in the environmental testing device 1 includes a humidifier 11 storing water, a water supply pipe 18, a water discharge pipe 19 and humidification piping 20 connected to the water supply pipe 18 and having a pipe heater 21.例文帳に追加

環境試験装置１に含まれる加湿装置１０は、水を貯留する加湿器１１、給水管１８、排水管１９、及び、給水管１８に接続されると共にパイプヒータ２１が設けられた加湿配管２０を有する。 - 特許庁

To provide a testing device which can make even distribution of threshold voltage by accurately controlling threshold voltage distribution after writing data in a plurality of memory cells in a nonvolatile semiconductor memory device being electrically erasable and writable.例文帳に追加

電気的消去・書き込み可能な不揮発性半導体記憶装置における複数のメモリセルにデータを書き込み後の閾値電圧分布を正確に制御して閾値電圧の分布を揃えることができる試験装置を提供する。 - 特許庁

The invention relates to the test board locking device for testing a semiconductor chip and more particularly relates to the test board locking device capable of easily mounting/detaching a test board on/from the stiffener in the EDS test process of the semiconductor chip.例文帳に追加

本発明は半導体チップのテストのためのテストボードロッキング装置に係わり、さらに詳細には半導体チップのＥＤＳテスト工程でスチフナ上にテストボードを容易に脱付着させることができるテストボードロッキング装置に関する。 - 特許庁

To provide an SRAM device having a configuration for effectively detecting a product, which is small in noise margin and has possibility to cause a malfunction in a market, and the defective connection of one of a pair of read-out bit lines, and to provide a method for testing the SRAM device.例文帳に追加

ノイズマージンが小さく市場で誤動作をする可能性が高い物や、読み出しビット線対の片側の接続不良を有効に検出するための構成を有するＳＲＡＭ装置とそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring device and a measuring method capable of measuring, simply in a room, the temperature stress by the heat of hydration generated from a concrete structure, concerning a testing device and a method for temperature stress measurement.例文帳に追加

本発明は温度応力測定用試験装置及び方法に関し、コンクリート構造物から発生する水和熱による温度応力を室内で簡便に測定できる測定装置及び測定方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To control the temperature of an electronic part testing socket such as an IC socket without adding a noise to a test signal applied to electronic parts such as an IC device or to a response signal read out from the electronic parts such as the IC device.例文帳に追加

ＩＣデバイスなどの電子部品に印加されるテスト信号や、ＩＣデバイスなどの電子部品から読み出される応答信号にノイズを入れることなく、ＩＣソケットなどの電子部品試験用ソケットの温度を制御する。 - 特許庁

The other end 20b of the humidification piping 20 is opened between a dehumidification device 4 and an air heater 3 in an air conditioning chamber 1b of the environmental testing device 1, and the opening is set smaller than the surface area of the water stored within the humidifier 11.例文帳に追加

加湿配管２０の他端２０ｂは、環境試験装置１の空調室１ｂにおいて、除湿装置４と空気ヒータ３との間に開口し、当該開口は加湿器１１内に貯留される水の表面積よりも小さい。 - 特許庁

DEFECTIVE INFORMATION STORAGE, DEFECTIVE INFORMATION STORAGE PROCESSOR PROVIDED WITH THE SAME, DEFECTIVE INFORMATION STORAGE METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS PROVIDED WITH DEFECTIVE INFORMATION STORAGE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH DEFECTIVE INFORMATION STORAGE例文帳に追加

不良情報格納装置とその装置を備える不良情報蓄積処理装置、不良情報蓄積方法、不良情報格納装置を備える半導体装置試験装置、および不良情報格納装置を備える半導体装置 - 特許庁

To provide a method and a device for supplying sand for sampling with which kneaded sand is supplied into a sand testing instrument without solidifying the kneaded sand and sticking to the device and also, varying the characteristic of the kneaded sand.例文帳に追加

混練砂を固まらせたり装置に付着させないで、かつ混練砂を性状変化をさせずに砂試験器へ供給することができるサンプリング用砂の砂供給方法及びその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

During testing, the data read from the semiconductor device is read by the timing determined by the phase number and it is judged whether there is a changing point or not with the timing so that quality of the semiconductor device is evaluated.例文帳に追加

試験中はこの相番号によって一義的に決定されるタイミングで被試験半導体デバイスから読み出されるデータの読取を行い、そのタイミングで変化点の有無を判定し、その判定結果に従ってデバイスの良否を評価する。 - 特許庁

To enable an automatic test of a semiconductor device by connecting a controller for performing conveyance control of a semiconductor device to be tested and sequence control according to a predetermined test procedure to a semiconductor testing apparatus through a simple interface.例文帳に追加

被試験対象の半導体デバイスの搬送制御と所定試験手順に従ったシーケンス制御とを行うコントローラを、半導体試験装置に簡易なインターフェイスで接続し、半導体デバイスの自動試験を行えるようにする。 - 特許庁

To provide an electrostatic capacitance-type input device, a method of testing the electrostatic capacitance-type input device capable of reliably detecting whether or not a short circuit is formed in the electrodes used for detecting an input position without using a large-scale test device, and a driving device for an electrostatic-type input device capable of implementing such a test method.例文帳に追加

大掛かりな検査装置を用いなくても、入力位置検出用の電極が断線しているか否かを確実に検出することのできる静電容量型入力装置、該静電容量型入力装置の検査方法、およびかかる検査方法を実現可能な静電容量型入力装置用駆動装置を提供すること。 - 特許庁

To provide manufacturing equipment for a semiconductor device which causes no damages on the semiconductor device during the characteristics testing of the device or the subsequent conveyance thereof even when the device has a reduced size such as a milli-size leadless semiconductor element, and which facilitates reversion of the entire semiconductor device when tape packaging.例文帳に追加

ミリサイズのリードレス半導体素子のような小型化された半導体装置を対象とする場合であっても、その特性テスト時にやその後の搬送時において半導体装置を損傷することがなく、しかも、テープ梱包時において半導体装置全体を容易に反転させることのできる半導体装置の製造装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing a grounding device for certainly determining abnormal conditions when an apparatus grounding device and a remote control grounding device in a substation are interconnected by erroneous wiring in a switchboard or when a grounding electrode of the grounding device is electrically connected to another grounding electrode in a erroneous wiring state.例文帳に追加

変電所における機器接地装置と遠制接地装置が配電盤内の誤配線で接続状態になっている場合や、接地装置の接地極が他の接地極と電気的に誤接続状態となっている場合に、確実に異常の判定を得ることができる接地装置の試験方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In this semiconductor device testing device, a waiting time proportional to the stopping time of a device power source up to the application timing of power source to the auxiliary circuit and the device to be tested is generated from the application timing, and the test is started after the delay of this waiting time, whereby the influence of the jitter generated in the auxiliary device is removed.例文帳に追加

補助回路と被試験半導体デバイスに電源を印可したタイミングからその印可タイミングに至るまでにデバイス電源が停止していた時間に比例する待ち時間を発生させ、この待ち時間の遅延後に試験を開始させることにより補助回路で発生するジッタの影響を除去する構成とした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

In this IC testing system, the chip arrayals to be tested at one time in a wafer prober 200 are made to correspond to the positions on rectangular coordinates for transmitting respective coordinates as character string data to an IC testing device 300, where the location data comprising the character string data are converted into the chip map data to generate the chip map using these chip map data.例文帳に追加

ウェハプローバにおいて一度に試験するチップの配列を直交座標上の位置に対応させ、各座標を文字列データとしてＩＣ試験装置に伝送させ、ＩＣ試験装置ではチップマップ変換手段により文字列データから成るロケーション・データをチップマップデータに変換し、このチップマップデータを使ってチップマップを作成する。 - 特許庁

The display testing device successively generates a pattern switching on one part per once imaging out of a pixel group of a display equivalent to one pixel of a camera, and uses a display testing method for detecting the defect of a region equivalent to each pixel of the camera from image data for imaging each pattern.例文帳に追加

本発明は、カメラの１画素に相当するディスプレイの画素群のうち一度の撮像につき１箇所のみ点灯するパターンを逐次生成し、各パターンを撮像した画像データからカメラ各画素に相当する領域の欠陥を検出するディスプレイ試験方式を使用することを特徴とするディスプレイ試験装置に関する。 - 特許庁

When acquiring design data of a design object circuit having a function corresponding to a customer need, this circuit testing device 100 generates a circuit testing mechanism 110 enabling failure detection corresponding to whether an object circuit 102 designated as a test object is an OR circuit or an AND circuit, in the design object circuit.例文帳に追加

回路試験装置１００は、顧客ニーズに応じた機能を備えた設計対象回路の設計データを取得すると、この設計対象回路のうち、試験対象に指定された対象回路１０２がＯＲ回路かＡＮＤ回路かに応じて、故障検出を可能にするための回路試験機構１１０を生成する。 - 特許庁

This system includes the exhalation bag capable of connecting the exhalation bag to the test tube by a hollow needle to transfer the expiration to the test tube, allows selection between the transfer of the expiration to the test tube and the direct connection to the testing device without transfer, and is applicable to the plural different types of testing devices.例文帳に追加

呼気バッグと検査管とを中空針で連結して呼気を検査管に移転可能とした呼気バッグを含み、呼気を検査管に移転するか若しくは移転せず直接検査装置に接続するかの選択を可能とし、複数の異なるタイプの検査装置に適応可能としたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a thermal shock testing device capable of shortening a time required for executing one cycle of thermal cycle, to the minimum, and capable of carrying out a thermal shock test under a stable condition, irrespective of conditions such as a heat capacity of a sample and a quantity of the sample, and a testing method for the thermal shock test.例文帳に追加

冷熱サイクルを１サイクル実施するのに要する時間を最小限に短縮でき、試料の熱容量や試料の数量等の条件によらず安定した条件下で熱衝撃試験を実施可能な冷熱衝撃試験装置、並びに、冷熱衝撃試験の試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

A low-temperature testing device for testing a sample in vacuum or low-temperature state is composed, so that at least a part where a sample 1 is placed in a sample stage 2 in that the sample 1 is placed is formed by a light-transmitting material and light 10 is applied fro the side of the sample stage to the sample.例文帳に追加

真空中かつ低温状態で試料の試験を行う低温試験装置において、上記試料１が載置される試料ステージ２の少なくとも試料が載置される部分を透光性材料で形成し、上記試料に上記試料ステージ側から光１０を照射するように構成した。 - 特許庁

This testing arrangement (A) is a device for testing looseness of the screws for fixing the tarpaulin for the roof, and is provided with a model 10 of the roof ground, a frame 20 for supporting the model 10 upside down, a specimen retainer 30 for retaining the tarpaulin Ts, and a vibration generator 40 for vibrating the specimen retainer 30.例文帳に追加

本発明の試験装置Ａは、屋根防水シート固定ねじの緩み試験装置であって、屋根下地模型１０と、屋根下地模型１０を天地を逆にして支持する架台２０と、防水シートＴｓを保持する試験体保持具３０と、試験体保持具３０を加振する加振機４０とを備えてなるものである。 - 特許庁

Also, by attaching the bar-code labels 3 to materials used in respective works or containers for them, a tool, testing equipment or a device and reading the bar-code labels 3 in working, the manufacturing method for the electric rotary machine coils (including at least either the materials to be used, the manufacturing method, a testing method or work conditions) is recorded and managed.例文帳に追加

また、各作業で用いられる使用材料若しくはその容器，工具、又は試験器具若しくは装置にもバーコードラベル３を付け、作業の際にそれらのバーコードラベル３を読み取り、電気回転機コイルの製作手法（使用材料，製作方法，試験方法又は作業状況の少なくとも何れか含む）を記録管理する。 - 特許庁

To easily form an alignment mark that can be recognized by an existing wafer prober for a semiconductor device, that has a plurality of semiconductor elements being arranged for sealing and is positioned by image recognition for testing, its trial manufacturing method, and its testing method.例文帳に追加

本発明は、複数の半導体素子が連なった状態で封止され、画像認識により位置決めされて試験に供される半導体装置、半導体装置の試験製造方法及び半導体装置の試験方法に関し、既存のウェーハプローバで認識可能なアライメントマークを容易に形成することを課題とする。 - 特許庁

To provide a trace element testing and analyzing method and a trace element testing and analyzing pretreatment device for conducting microwave irradiation and ultrasonic treatment concurrently, by effective treatment for analyzing trace amounts of elements in various solid product or materials, and for precisely conducting test and analysis by decomposing these, in a short time.例文帳に追加

様々の固体製品または材料中の微量元素を分析する上でより効果的な前処理によるマイクロウエーブ照射と超音波処理を同時に行い、短時間で精度良く分解して試験分析を行う微量元素試験分析方法および微量元素試験分析前処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a variable speed three-point bending impact testing device having a small-sized simple structure, capable of performing a test from a static breaking test up to an impact test at high displacement speed of 20 m/s by one testing machine, and detecting a load behavior, a displacement behavior or the like in a test piece breaking process.例文帳に追加

１台の試験機で静的破壊試験から２０ｍ／ｓといった高変位速度での衝撃試験までを行うことができるとともに、試験片破壊過程における荷重挙動、変位挙動などの検出が可能な、小型かつシンプルな構造の可変速三点曲げ衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁

The dynamo-electric type vibration testing device executes external force calculation processing, using a displacement amount xs of the testing object mounting part obtained from a displacement sensor 131, an acceleration value (d^2xs/dt^2) obtained from an acceleration sensor 133, and a current value I of a driving coil 125 obtained from an ammeter 135.例文帳に追加

また、動電式振動試験装置１では、変位センサ１３１から得られる試験体載置部の変位量ｘｓ及び加速度センサ１３３から得られる加速度値（ｄ^２ｘｓ／ｄｔ^２）、及び電流計１３５から得られる駆動コイル１２５の電流値Ｉを用いて外力算出処理を実行する。 - 特許庁

In this connection, a system is indicated, where an overpressurized container equipped with an inlet port aperture which can be closed for storing at least one package, and a device for setting and maintaining a gas inlet port for feeding the testing gas, a gas outlet port for evacuating the testing gas, and for setting and maintaining overpressuring.例文帳に追加

本発明による装置は、この点に関し、閉鎖可能な入口開口部を備えた少なくとも１個のパッケージを収容するための過圧容器、ならびに試験気体を供給するための気体入口、試験気体を排出するための気体出口、および過圧を設定し維持するための装置を示す。 - 特許庁

To provide a power-supply current measuring method for a semiconductor device capable of detecting the defect generation state of a semiconductor device to be tested by a test system, and measuring stably the change of the power-supply current flowing in the semiconductor device to be tested by another testing device, while maintaining the defect generation state.例文帳に追加

テストシステムにより被試験半導体デバイスの不良発生状態を検出し、その不良発生状態を維持したまま、他の試験装置が被試験半導体デバイスに流れる電源電流の変化を安定に測定することができる半導体デバイスの電源電流測定方法を提案する。 - 特許庁

CATHODE PANEL UNIT FOR COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, CATHODE PANEL THEREFOR AND ITS MANUFACTURE, COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, TEST DEVICE, AND TESTING METHOD OF ITS UNIT USING TEST DEVICE THEREOF例文帳に追加

冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニット、冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル及びその製造方法、冷陰極電界電子放出表示装置、試験装置、並びに、かかる試験装置を用いた冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニットの試験方法 - 特許庁

A device testing apparatus 1 includes: a metal plate 11 which is contacted with a collector electrode provided in a semiconductor device 20 to support the semiconductor device 20; and a plurality of contacts 30e equipped with an expansion and contraction mechanism for contacting with an emitter electrode 20e provided in the semiconductor device 20 while pressing the emitter electrode 20e.例文帳に追加

素子試験装置１は、半導体素子２０に配設されたコレクタ電極に接触して半導体素子２０を支持する金属板１１と、半導体素子２０に配設されたエミッタ電極２０ｅを押圧しつつ、エミッタ電極２０ｅに接触する伸縮機構を備えた複数の接触子３０ｅと、を備えている。 - 特許庁

To provide a software testing device testing device, especially built-in software, in an environment using no actual machine, maintaining a conventional function by change of a control request or compliance with new control while checking a new function for improving quality of the software to be mounted , and extracting a differential point between an expectation value and a test output for facilitating debugging after a test.例文帳に追加

特に組み込みソフトウェアにおいて、実機を用いない環境でのソフトウェアテストを提供し、制御要求変更や新規制御対応による従来機能の保持と、新規機能の確認による実装対象となるソフトウェアの品質を向上し、更に期待値とテスト出力の差分点を抽出することにより、テスト後のデバッグを容易化するソフトウェアテスト装置を提供する。 - 特許庁

As a result, even if a conventional testing device 12 for digital and analog circuit is used instead of an expensive testing device which can output a high frequency signal, the high frequency signal characteristics in a wafer stage is tested, to reduce the generation of defective products in the examination after a package assembly, and to suppress and lower the inspection cost occupied in the manufacturing cost.例文帳に追加

その結果、高周波信号を出力可能な高価な試験装置を用いずに従来のデジタルおよびアナログ回路用の試験装置１２を用いたとしても、ウエハ段階での高周波信号特性の試験を行うことが可能となり、パッケージ組み立て後の試験における不合格品の発生を減らすことが可能となり、製造コストに占める検査のコストを低く抑えることができる。 - 特許庁

A diagnostic system for testing a device to be tested, based on the test program selected among the plurality of constitutional components may comprise: a function extraction part for extracting the constitutional components to be used for testing the objective device; and a diagnostic part for diagnosing each constitutional components extracted by the function extracting part.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置を診断する診断装置であって、被試験デバイスを試験する試験プログラムに基づいて、試験装置の複数の構成要素のうち、被試験デバイスの試験に用いる構成要素を抽出する機能抽出部と、機能抽出部が抽出したそれぞれの構成要素を診断する診断部とを備える診断装置を提供する。 - 特許庁