「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(93ページ目) - Weblio英語例文検索

A testing support device 1 retrieves an input/output signal processed in the transmission processing apparatus 9 concerned from the transmission processing apparatus 9 actually employed in a network N.例文帳に追加

試験支援装置１は、ネットワークＮにおいて実際に運用されている運用通信処理装置９から、当該通信処理装置９において処理される入出力信号を取得する。 - 特許庁

A non-defective DUT is connected to any power supply current analyzing device among n-pieces of power supply current analyzing devices 1 to perform tests in the semiconductor testing apparatus 100.例文帳に追加

半導体試験装置１００において、ｎ個ある電源電流解析装置１１のうち、何れかの電源電流解析装置に良品であるＤＵＴを接続して試験を実行する。 - 特許庁

To provide a component testing device capable of improving throughput on a test of an electronic component by shortening a time followed by exchange of the electronic component into a test socket.例文帳に追加

電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a positioning device for a drawer-type circuit breaker which enables the user to visually check that the body of a breaker is positioned accurately in any position of disconnection, testing, or connection.例文帳に追加

遮断器本体が断路，試験及び接続のいずれかの位置に正確に位置していることを視覚的に確認できる引出型回路遮断器の位置決め装置を提供する。 - 特許庁

To provide a line testing device capable of easily measuring signal distortion and transmission characteristics to be generated on a transmission path, and capable of performing a test without stopping any operation in a communication line.例文帳に追加

伝送路で生じる信号歪や伝送特性を容易に測定でき、通信回線の運用を停止せずに試験を実施することが可能な回線試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern generation method, a test pattern generation system, and a test pattern generation device capable of efficiently generating a test pattern which is used for testing a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストに用いるテストパターンを効率よく生成可能としたテストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置を提供する。 - 特許庁

When sounding an alarm as a test from the fire detector 13 by using this testing device 70, light of an indicating lamp 42 of the fire detector 13 is modulated by address information of the fire detector 13.例文帳に追加

試験装置７０を用いて火災感知器１３を試験発報させると、その火災感知器１３の表示灯４２の光が当該火災感知器１３のアドレス情報で変調される。 - 特許庁

To provide a pressure transient phenomenon testing device for precisely and meticulously grasping events about a process reaching fracture nucleus formation, pre-slip and accelerating fracture in dynamic fracture mechanics.例文帳に追加

動的破壊力学において、破壊核形成、前駆的すべり、加速的な破壊に至る過程を精密かつ、細かく事象をとらえる圧力過渡現象試験装置を提供する。 - 特許庁

To prevent deviation of a wind test model from a wind tunnel measuring part, to mitigate restriction of a test range, and to reduce a transient phenomenon at the free flight shifting time, concerning a dynamic wind runnel testing device and a method.例文帳に追加

動的風洞試験装置及び方法に関し、風試模型の風洞計測部からの逸脱を防止し試験範囲の制限を緩和し、フリーフライト移行時の過渡現象を小さくする。 - 特許庁

To provide an ultrahigh temperature thermal expansion testing device capable of simultaneously measuring a thermal expansion test by a contact method using a bar-shaped test piece and a thermal expansion test by a non-contact method.例文帳に追加

棒状試験片を用いた接触法による熱膨張試験と非接触法による熱膨張試験とを同時に計測できる超高温熱膨張試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic distillation testing device capable of automatically measuring distillation temperature and quantity of distillate by using a condenser of a simple configuration and implementing measurement independently of the quantity of a specimen.例文帳に追加

留出温度、留出量の測定を自動化し、凝縮器を簡易な構成とし、試料の採取量に係らず試験を実施することのできる自動蒸留試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method of implemental assembly that can examine the strength of a predetermined part in an implemental assembly in such a manner that the actually produced fracture form may be realistic.例文帳に追加

実装組立品における所定部分の強度を、実際に生じる破断形態に合うように試験することができる実装組立品の試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device with an overvoltage protection function and a test method of a high voltage system to which a surge arrester is connected capable of preventing damage of the surge arrester when testing the high voltage system.例文帳に追加

サージ・アレスタが接続された高電圧システムの試験時に、サージ・アレスタの損傷を防止できる課電圧保護機能を備えたデバイス及び高電圧システムの試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a data sampling system for a testing device enabling an inspector to conduct an ultrasonic flaw detection test for a pipe welding joint simply without being exposed to radiation excessively.例文帳に追加

検査員が放射線に過度に被曝することなく簡便に配管溶接継手を超音波探傷試験することができる試験装置用のデータ採取システムを提供すること。 - 特許庁

In this temperature testing device 11, first temperature measuring units 31a-31d are connected individually to temperature sensors 27 in a first group selected from temperature sensors 27 in all rows relative to each row.例文帳に追加

温度試験装置１１では、第１温度測定ユニット３１ａ〜３１ｄは、各行ごとに行全体の温度センサ２７から選択される第１群の温度センサ２７に個別に接続される。 - 特許庁

To provide a compact vehicle-testing device with simple structure where a measuring roller for placing a vehicle to be measured is connected to a hydraulic motor and the vehicle is tested by hydraulic control.例文帳に追加

被測定車両を載置する測定ローラを油圧モータに連結し、油圧制御により車両の試験を行うようにした、構造が簡単、かつ小型の車両の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electromagnetic excitation fatigue testing device targeting a mold material of a ground coil in a superconducting magnetically levitated railroad and utilizing a superconducting magnet magnetic field that is excited at an optional frequency.例文帳に追加

超電導磁気浮上式鉄道の地上コイルのモールド材を対象に、任意の周波数での加振が可能な超電導磁石磁場を利用した電磁加振疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

To detect a defect by using a three-point bending testing device of wood and a laminated veneer material, and to measure simultaneously a bending Young's modulus and a shear modulus.例文帳に追加

木材および単板積層材の３点曲げ試験装置を使って、欠点の検出を可能とし、曲げヤング率とせん断弾性率を同時に測定することを可能とすること。 - 特許庁

To provide a new method and device for testing and training muscular parameters of athletes such as a runner, biker, team sport athletes, etc.例文帳に追加

本発明の課題は、走者、自転車走者、チームスポーツ運動選手などの運動選手の筋肉パラメータをテストしかつ訓練するための新しい方法及び装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an environmental testing device capable of uniformly irradiating an entire sample with electromagnetic wave in a prescribed frequency range while suppressing heat generation of an electromagnetic wave source.例文帳に追加

電磁波の発生源の発熱量を抑制しつつサンプルの全体に所定の周波数領域の電磁波を均一に照射することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a truck testing device capable of controlling the brake deceleration characteristics of a test truck by high reproducibility, in a predetermined deceleration section, during traveling.例文帳に追加

走行中、予め定められた減速区間において高い再現性により試験台車の制動減速度特性の制御を行うことができる台車試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a shaft center adjusting device for a material testing machine that can be attached without forming through holes on a load frame and allows a user to adjust tensile force after the attachment.例文帳に追加

負荷枠に貫通孔等を形成することなく取り付けが可能であり、また、取り付け後も引張力の調整が可能な材料試験機の軸心調整装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for generating approximate a waveform capable of generating an approximate waveform with high approximate precision to a given analog waveform, and a semiconductor testing device capable of performing a precise quality judgment.例文帳に追加

与えられたアナログ波形に対し、近似精度の高い近似波形を生成することが可能な近似波形生成方法及び、良否判定の正確な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The water permeability comparing and experiencing device 3 makes it possible to compare the water permeability of respective testing devices by putting water into the two test devices D1, R2 and peeping the change rates by the water permeated with lapse of time.例文帳に追加

透水性比較装置は、２つの試験器D1,R2 に水をいれ、その水の経時的な透水による変化量を覗き見て各試験器の透水性を比較するようになされたものとする。 - 特許庁

This tire testing device 1 can detect the occurrence of exfoliation in the tread splice part 3b, at a stage prior to burst through of the detection of the temperature change in the surface temperature of the tread part 3a.例文帳に追加

タイヤ試験装置１は、トレッド部３ａの表面温度の温度変化を検出することで、バーストする前の段階でトレッドスプライス部３ｂの剥離の発生を検出することができる。 - 特許庁

By changing the program configurating from the memory element 21 to the FPGA 12 to flexible, the device body A is operated in a hardware constitution proper for testing devices B to be measured.例文帳に追加

記憶素子２１からＦＰＧＡ１２にコンフィギュレーションするプログラムをフレキシブルに変更することで、装置本体Ａを被測定デバイスＢの検査に適したハード構成にて動作させる。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing a heavy load in an encryption system where a load is freely applied to server authentication and encryption processing so as to easily and properly test a server.例文帳に追加

サーバの認証および暗号化処理に対して負荷を自在にかけてサーバを簡単かつ適確に試験し得る暗号化システムにおける高負荷試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device enabling a delay adjusting width of a deskew circuit to flexibly cope with a skew, by programmably adjusting the timing of the clock signal.例文帳に追加

クロック信号のタイミングをプログラマブルに調整することにより、スキューに対してデスキュー回路の遅延調整幅を柔軟に対応させることが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing an internal bus capable of effectively performing a test for the internal bus of a semiconductor integrated circuit without requiring a complicated circuit.例文帳に追加

複雑な回路を必要としないで、半導体集積回路の内部バス試験を効率よく実行することのできる内部バス試験装置及び内部バス試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and its correcting method which can correct dispersion of measurement data between sites (sockets) conducting simultaneous measurement and devices and its correcting method.例文帳に追加

本発明は、同時測定をおこなうサイト（ソケット）間及び装置間の測定データのバラツキを補正して高精度測定ができる半導体試験装置とその補正方法を提供する。 - 特許庁

This testing device of the PLL circuit having a phase comparator 1, a loop filter 2, a VCO 3 and a prescaler 4 is equipped with the first switch 11 and the second switch 12.例文帳に追加

この発明は、位相比較器１、ループフィルタ２、ＶＣＯ３、およびプリスケーラ４を有するＰＬＬ回路のテスト装置であって、第１スイッチ１１と、第２スイッチ１２とを備えている。 - 特許庁

A wire harness inspection device has a continuity test jig 7 for testing continuity of connectors 3 of a wire harness 2, a pass tape issuing apparatus 10, and an urethane sheet detecting jig 11 on an inspection table 6.例文帳に追加

検査作業テーブル６上に、ワイヤハーネス２のコネクタ３の導通検査を行なう導通検査治具７、合格テープ発行装置１０、ウレタンシート検出治具１１を備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein measurement accuracy can be improved when a resistance value of a resistance element formed in a semiconductor chip is measured, and to provide its testing method.例文帳に追加

本発明は、半導体チップに形成された抵抗素子の抵抗値を測定する際の精度を向上させることができる半導体装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a vane shear testing device attaining measurement of high accuracy by providing a torque meter at a part uninfluenced by the load of a rod.例文帳に追加

本発明は、ロッドの荷重に影響を受けない個所にトルクメーターを設けることにより精度の高い測定を可能とするベーンせん断試験装置を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a method and device for testing accelerated weatherability, which eliminates an effect from various kinds of requirements other than photoirradiation of accelerated weatherability and has high accuracy and reproducibility.例文帳に追加

促進耐候性試験の光照射以外の各種の要件からの影響をなくし、精度と再現性の良い促進耐候性試方法、及び促進耐候性試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a tandem type image forming device with which deterioration in testing precision of image forming function due to intervals between reference images being narrowed within each reference pattern can be decreased.例文帳に追加

各基準パターン像内における基準像間の間隔を狭めることに起因する作像性能の試験精度の悪化を軽減することができるタンデム式画像形成装置を提供する。 - 特許庁

A plurality of testing circuits for the skew calibration are contained per one signal pin in the DUT (semiconductor integrated circuit device to be measured), and the skew can be corrected accurately.例文帳に追加

ＤＵＴ（被測定半導体集積回路装置）の内部にスキューキャリブレーション用テスト回路を１信号ピン当たり複数内蔵してＤＵＴ端でのスキューを正確に補正可能とする。 - 特許庁

To provide a circuit inspection device, a semiconductor integrated circuit, and a memory macrocell, for circumventing a memory macrocell from stopping propagation of scan data in scan pass testing using a simple circuit.例文帳に追加

スキャンパステスト時にメモリマクロセルでスキャンデータの伝搬が阻止されてしまうことを、簡単な回路で回避する回路検査装置、半導体集積回路およびメモリマクロセルを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of using a matching detection function, even when connected so that DUT performs signal transmission and receiving with a plurality of PE cards.例文帳に追加

ＤＵＴが複数のＰＥカードとの間で信号の授受を行うように接続されている場合であってもマッチ検出機能を使用できる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To allow application to a testing device for an integrated circuit for driving a liquid crystal display panel, for example, to allow common use in various kinds of integrated circuits.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えば液晶表示パネルを駆動する集積回路の試験装置に適用して、各種の集積回路で共通に使用することができるようにする。 - 特許庁

To provide an optical disk for testing wherein a flaw formed during the operation of a recording/reproducing device and a flaw formed during the handing of the optical disk are reproduced roughly completely.例文帳に追加

記録再生装置の動作中に形成されるキズ、光ディスクを取り扱う際に形成されるキズを略完全に再現したテスト用光ディスクを提供することを課題とする。 - 特許庁

To achieve continuous operation for a long time of an environmental testing device in low humidity conditions, expansion of a low humidity region and energy saving while suppressing increase in the size of an installation space and cost.例文帳に追加

設置スペースの大型化及びコスト上昇を抑制しつつ、低湿条件での環境試験装置の長時間の連続運転、低湿度域の拡大、及び省エネを実現する。 - 特許庁

To provide a testing device of simple structure which can test a concrete neutralizing depth with the use of boring powder by one operator simply and precisely without requiring skill.例文帳に追加

ドリル削孔粉を用いたコンクリート中性化深さ試験を１人の要員によって熟練を要さず簡便に精度よく実施することができる構造簡易な検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a creep testing device capable of preventing a plurality of weights from dropping scatteredly even when the weights drop by breakage of a test piece, and free from the risk of damaging equipment in the periphery thereof.例文帳に追加

試験片の破断によって重錘が落下しても、複数の分銅がばらけて落下することが無く、また、周辺の機器を損傷する恐れが無いクリープ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a leakage testing device capable of measuring accurately the pressure inside a test object without increasing test man-hours, and detecting leakage from the test object with extremely high accuracy.例文帳に追加

被試験体内の圧力を、試験工数を増加することなく正確に計測し、被試験体の漏れを極めて高い精度で検出することができる漏洩試験装置を提供する。 - 特許庁