「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(95ページ目) - Weblio英語例文検索

A testing device 1 in the fault information tracing device 10 is constituted of an execution format program 11, an execution history collection part 12 for forming history information, a trace memory 13 for storing the history information, and a debugging monitor 14 for making the contents stored in the memory 13 dumped to a device to be tested 2.例文帳に追加

本発明に係る障害情報トレーサ装置１００の試験装置１は、実行形式のプログラム１１、履歴情報を編成する実行履歴収集部１２、履歴情報を記憶させるトレースメモリ１３、その記憶内容を被試験装置２にダンプさせるデバッグモニタ１４から構成した。 - 特許庁

To provide a redundancy relieving circuit and a method therefor, and semiconductor device in which the test time for testing a defective memory cell is shortened, the test device is made inexpensive by dispensing with fail memories having extensive capacity accumulating defective bits, and the device can easily cope with the increase and decrease of the number of IO.例文帳に追加

不良メモリセルをテストするテスト時間を短縮し、不良ビットを蓄積する膨大な容量を有するフェイルメモリを不要としてテスト装置を安価とし、ＩＯ数の増減に対しても容易に対応することができる冗長救済回路、方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

This device has a globe box 3 with internal and external atmospheres isolated from each other, a gas circulating/refining device 2 for supplying the box 3 with a circulation gas having prescribed constituents and collecting the gas, and a high-pressure device 4 provided in the box 3 and having a high-pressure testing chamber 26 capable of being pressurized to an arbitrary pressure.例文帳に追加

内外に雰囲気が遮断されたグローブボックス３と、グローブボックス３に所定成分の循環ガスを供給して回収するガス循環精製装置２と、グローブボックス３内に設けられ、任意の圧力に加圧可能な高圧試験室２６を形成する高圧装置４とを有している。 - 特許庁

To provide a scenario generation device, program, and scenario generation method for generating a test scenario for testing about wheter or not a tested device normally operates even when the tested device operates based on not only a manual operation but also an external signal.例文帳に追加

テスト被対象装置が人手の操作だけではなく外部信号に基づいて動作する場合であっても、そのテスト被対象装置が正常に動作するか否かについてテストするテストシナリオを生成することができるシナリオ生成装置、プログラム及びシナリオ生成方法を提供する。 - 特許庁

In a material testing machine body 100, a load is applied to a specimen by a load device 101a, and a test force or a displacement at that time is detected by a load cell 101b and a displacement gage 101c, and the detection result is outputted to a control device 103.例文帳に追加

材料試験機本体１００は、負荷装置１０１ａによって供試体に負荷を与え、そのときの試験力あるいは変位量をロードセル１０１ｂおよび変位計１０１ｃで検出し、検出結果を制御装置１０３へ出力する。 - 特許庁

This semiconductor device testing device 100 is provided with a pattern generator 10, a reference clock generator 60, a timing generator 62, a wave-form shaper 70, a signal input/output section 80, a comparing unit 90, and a defect analysis memory section 110.例文帳に追加

本発明の半導体デバイス試験装置１００のパターン発生器１０は、パターン発生器１０、基準クロック発生器６０、タイミング発生器６２、波形整形器７０、信号入出力部８０、比較ユニット９０、不良解析メモリ部１１０を備える。 - 特許庁

To provide an interface circuit capable of reducing its manufacturing cost and accurately performing functional test and debugging by reducing the number of input terminals from the exterior of a miniaturized semiconductor device, and provide a testing method and a debugging method using the same for the semiconductor device.例文帳に追加

小型化された半導体装置外部からの入力端子数を少なくし製造コストを抑制、かつ、機能テスト、デバッグを的確に行うことができるインターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a device with which wear test of an artificial joint can be performed in operation conditions specific to each portion of a human body using an NC lathe or a machining center; and to propose a method for testing wear of the artificial joint using the device.例文帳に追加

ＮＣ旋盤やマシニングセンタを用いて人体の各部位に特有な動作条件で人工関節の摩耗試験を行うことができる装置を得ること、及び当該装置を用いて人工関節の摩耗試験を行う方法を提案する。 - 特許庁

To improve piping for thermostatic equipment used for a testing device called a wafer prober and used to test the performance of a semiconductor wafer and so on, the piping for thermostatic equipment being developed which dissipates less heat and is easily moved in the device.例文帳に追加

ウエハプローバと称される様な半導体ウエハの性能試験等に使用される試験装置で使用される恒温機器用配管を改良するものであり、放熱が少なく、且つ装置内で動かし易い恒温機器用配管の開発を課題とする。 - 特許庁

A probe head for testing the properties of a semiconductor device (10) under test includes a dielectric film (24) supporting at least one semiconductor device (10) under test with a support frame (26) tautly supporting the dielectric film (24).例文帳に追加

テストを受ける半導体装置（１０）の特性をテストするためのプローブヘッドがテストを受ける少なくとも一つの半導体装置（１０）を支持する誘電体フィルム（２４）を含み、この誘電体フィルム（２４）を支持フレーム（２６）がぴんと張って支持する。 - 特許庁

To execute an improved test with higher precision at higher speed, concerning a testing device of a semiconductor integrated circuit including an A/D conversion circuit or a D/A conversion circuit and a test method of the semiconductor integrated circuit using the device.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換回路またはＤ／Ａ変換回路を含んだ半導体集積回路の試験装置およびこれを用いた半導体集積回路の試験方法において、試験を、より高精度、より高速度で実行できるよう、改良する。 - 特許庁

To select and provide information of the optimum one out of plural kinds of test systems or test devices in response to requirement from a testing person, as to the information what test system, what test device or the like is required for a test of a semiconductor device or various kinds of electronic equipments.例文帳に追加

半導体装置や各種の電子機器のテストにどのようなテストシステムやテスト装置等が必要かの情報を、テストする者の要求に応じて複種類のテストシステムやテスト装置の中から最適なものの情報を選択し提供すること。 - 特許庁

To provide a technique for improving maintenance and inspection practices of a suction nozzle changing device which selectively positions one of a plurality of suction nozzles at a normal use position, and surface mounting equipment and component testing equipment equipped with the same device.例文帳に追加

複数の吸着ノズルのうちの１つを選択的に通常使用位置に位置決めする吸着ノズル変更装置、同装置を装備する表面実装機および部品試験機において、保守点検性を向上させる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a device for performing a highly accurate test by suppressing abnormality generation in a torque sensor, in a testing device for performing a test of a prime mover by realizing a state where the prime mover is loaded simulatively on a vehicle by connecting a dynamometer to the prime mover to apply a load torque.例文帳に追加

原動機に動力計を連結して負荷トルクを印加し、擬似的に原動機を車両に搭載した状態を実現して原動機の試験を行う試験装置において、トルクセンサの異常発生を抑制して高精度の試験を行う。 - 特許庁

The material testing apparatus applies compressive and tensile loads to the material test piece 14 by means of a loading device 13, with the load of the loading device being controlled to follow a desired value Ei transmitted from a desired load signal generating part 2.例文帳に追加

材料試験装置は、荷重負荷装置（１３）で材料試験片（１４）に圧縮・引張荷重を加えるとともに、この荷重負荷装置の負荷が、目標負荷信号発生部（２）からの目標値（Ｅｉ）に追従する様に制御されている。 - 特許庁

To provide a full-point test system for a display device screen comprising means for improving test efficiency by automating a full-point test of the display device screen to be used for a control monitoring system for a plant or the like without watching work by a testing person.例文帳に追加

プラントなどの制御監視システムで使用する表示装置画面の全点試験を、試験者の目視作業を要することなく自動化し、試験効率を高める手段を備えた表示装置画面の全点試験方式を提供する。 - 特許庁

On a substrate for testing, a clock signal corresponding to an actual operation of the semiconductor device is supplied, and a test program for conducting a performance test on the first memory circuit is written from a tester to the second memory circuit of the second semiconductor device.例文帳に追加

試験用基板上において、上記半導体装置の実動作に相当したクロック信号を供給し、テスト装置から上記第２半導体装置の第２メモリ回路に上記第１メモリ回路の動作試験を行うテストプログラムを書き込む。 - 特許庁

A testing device 100 decides test items and when performing the wireless transmission characteristic test, a layer-3 signal is transmitted between the device and mobile terminal equipment 150 to realize wireless connection by a CDMA wireless interface, thereby transmitting a signal to be measured.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing device capable of successively storing, in a normal order, code data being continuously outputted from a DUT (a device to be tested) in an interleave type digital capture memory without depending on the conditions of a pattern program.例文帳に追加

ＤＵＴから連続的に出力されるコードデータを受けてインターリーブ方式のデジタル・キャプチャー・メモリへの格納をパターンプログラムの条件に依存することなく正常な順番で順次格納可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To efficiently judge whether a semiconductor device is good or not without depending on the number of comparator pins provided at a tester regarding the semiconductor device having a structure which is suitable for efficiently testing a plurality of semiconductor devices.例文帳に追加

本発明は複数の半導体装置の試験を効率的に行う上で好適な構造を有する半導体装置に関し、テスターが備えるコンパレータピンの数に依存することなく、効率的な良否判定の実行を可能とすることを目的とする。 - 特許庁

The servo information writing device includes a testing device 10 for performing test processing to select a proper servo pattern as servo information among the plurality of types of servo patterns recorded beforehand on a disk medium 2 incorporated in a disk drive 1.例文帳に追加

サーボ情報書込み装置は、ディスクドライブ１に組み込まれたディスク媒体２上に予め記録された複数種類のサーボパターンから、適正なサーボパターンをサーボ情報として選択するための検査処理輪実行する検査装置１０を含む。 - 特許庁

To provide an apparatus capable of arranging a plurality of device measuring apparatuses made of BOST (Built-Off Self-Test) boards etc. in the vicinity of a device to be measured and highly accurately testing a large number of circuits mixed onto a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

被測定デバイス近傍にＢＯＳＴボードなどからなる複数のデバイス測定装置を置くことができ、半導体集積回路に多数混載された回路の高精度な試験を行うことができる半導体集積回路の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a display device which has a test circuit, having high accuracy of testing, after a counter substrate jointing stage and before shipment, and a display device which has a correction circuit in itself, when there is a defect.例文帳に追加

対向基板貼り合わせ工程後及び出荷前検査において、確度の高い検査回路を有する表示装置、また不良が発生した場合の表示装置内部における補正回路を具備する表示装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a shock testing device having a simply-constructed low-cost safety mechanism capable of surely preventing a weight from dropping in replacement of a test piece.例文帳に追加

試験片交換時等に重錘が落下してくることを確実に防止することができ、極めて簡単な構成でかつ低コストで形成することができる安全機構を備えた衝撃試験機を提供する。 - 特許庁

Therefore, without the need for manufacturing the test device (an iron bird) imitating the actual machine for testing the stiffness or the durability of a steering system of the aircraft, a test with high precision can be inexpensively carried out.例文帳に追加

これにより、飛行機の操縦系統の剛性や耐久性を試験するための実機を模した試験装置（アイアンバード）を作成することなく、低コストで高精度の試験を行うことができる。 - 特許庁

To provide a multi spindle corotation testing device capable of simultaneous reproduction test for a plurality of bearings for driven pulleys and moreover capable of surely recognizing a radial load concerning the bearings for driven pulleys.例文帳に追加

複数の従動プーリの軸受に対して再現試験を同時におこなうことができ、また従動プーリの軸受にかかるラジアル荷重を的確に確認できる多軸同時回転試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing corrosion capable of accurately evaluating long-term reliability with respect to corrosion that depends on the installation environment of electronic devices, while reflecting and atmospheric corrosion environment, and to provide a device therefor.例文帳に追加

電子機器等の設置環境に依存して生じる腐食に対する長期的な信頼性を、大気腐食環境を反映しつつ的確に評価しうる腐食試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The receiving signal from the plurality of the probes 10 are capable of simultaneous display with the constitution parallel connecting the receiving terminals of the plurality of probes and the receiving terminals of the electric signal of the testing device body.例文帳に追加

複数の探触子の受信側端子を試験装置本体の電気信号の受信端子に並列接続し、複数の探触子１０からの受信信号を同時に表示可能に構成する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing cracking of a power generation cell in which a cracking test of a circular flat plate type power generation cell is performed under the same temperature condition as that of an actual fuel cell stack.例文帳に追加

円形平板型の発電セルを、実際の燃料電池スタックと同じ温度条件下おいて割れ試験を行うことができる発電セルの割れ試験装置および割れ試験方法を提供する。 - 特許庁

In the testing device, a sample stage 3 is mounted slidably on a board 12, and the sample stage 3 is moved or rotated by movement of at least one of both ends of the sample stage 3.例文帳に追加

本発明は、定盤１２上にスライド可能に試料載置台３を載置し、この試料載置台３の両端部の双方又は一方の可動により、試料載置台３を移動させ、また回転させる。 - 特許庁

To provide a coating device capable of non-destructively, numerically and precisely testing to grasp and examine while coating a web whether or not the whole coated web is in a desired state.例文帳に追加

ウェブをコーティングをしながら、コーティングを施されたウェブ全体が所望の状態になっているのか否かを、非破壊かつ数値で正確に把握検査できるコーティング装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a game nail height testing device for a game board which efficiently tests the propriety of the height of the game nail driven into the game board without complicating a post processing process after a test.例文帳に追加

検査後の後処理工程を煩雑化させることなく、遊技盤に打ち込まれた遊技釘の高さの適否を効率良く検査できる遊技盤における遊技釘の高さ検査装置を提供する。 - 特許庁

That is, the correlation measurement between the positions of the DUTs is carried out by repeatedly testing the IC of the same device changed, only in the location in the carrier 10 relative to a main body 200.例文帳に追加

即ち、本体２００に対して、キャリア１０における配置のみが異なる同一のデバイスを対象として、繰り返しＩＣを試験することによって、ＤＵＴ位置間の相関測定を実施する。 - 特許庁

To provide a governor rope lifting tool enabling to conduct lifting work of a governor rope easily and securing safety of an operator, and a device for testing an elevator governor capable of conducting a test of the elevator governor accurately.例文帳に追加

業者の安全性が確保でき、かつ容易にガバナロープの引上げ作業が行えるガバナロープ引上げ治具及び精度良くエレベータ調速機の試験が行えるエレベータ調速機試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fuel cell evaluation testing device in which a gas in a desired temperature condition can be supplied to the fuel cell even if supply conditions of the gas to the fuel cell are largely varied.例文帳に追加

燃料電池に対するガスの供給条件が大幅に変動しても所望の温度条件のガスを燃料電池に供給可能な燃料電池評価試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To shorten the test time of the testing method which tests an address line for a memory device formed on a printed wiring board and to make it easy to find a fault position.例文帳に追加

プリント配線板に形成されているメモリデバイス用のアドレス線をテストするアドレス線のテスト方法に関し、テスト時間の短縮化と、故障個所の発見の容易化とを図ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a spindle stage for testing a magnetic head which can perform highly accurate servo following by an inexpensive VCM mechanism without using a piezoelectric element and a magnetic head which can perform automatic loading/unloading device.例文帳に追加

ピエゾ素子を使用せずに、安価なＶＣＭ機構により高精度なサーボフォローイングが可能な磁気ヘッド試験用スピンドルステージおよび磁気ヘッドを自動着脱できる磁気ヘッド自動着脱装置を提供する。 - 特許庁

To provide a compact semiconductor device for SiP or PoP, a method of manufacturing it, and a testing method suitable for SiP and PoP which achieve simplification of a system and enhancement of its efficiency.例文帳に追加

小型化を図ったＳｉＰ又はＰｏＰに向けた半導体装置及びその製造方法とシステムの簡素化及び効率化を実現したＳｉＰ又はＰｏＰに好適なテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method and device of a lateral pressure of optical fibers, which can accurately measure the fluctuation in light transmission loss based on the influence of the lateral pressure without occurrence of any stress concentration.例文帳に追加

応力集中を生じさせることなく、側圧の影響に基づく光伝送損失の変動を正確に計測することができる光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device includes a towing face, the first support body constituted to support the towing face while allowing rotation of the towing face, and a driving mechanism for rotating the towing face.例文帳に追加

試験装置には、牽引面、牽引面の回転を可能としながらその牽引面を支えるように構成された一番目の支持体、および当牽引面を回転させるための駆動機構が含まれる。 - 特許庁

To provide a bearing testing device capable of reproducing white peeling of a test bearing with high accuracy and in a short time, and reproducing white peeling of any of a rolling element and rolling surface of the test bearing.例文帳に追加

試験軸受の白色はく離再現を短時間で精度良く行えるとともに、試験軸受の転動体、転動面のいずれの白色はく離をも再現できる軸受試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method which are capable of reliably testing heat resistance, peel strength, or the like of an adhesive sheet adhered to a concave surface in a stretched state.例文帳に追加

粘着性シートが凹曲面に伸長状態で接着された状態における粘着性シートの耐熱性や剥がれ強さ等を確実に試験できる試験装置と試験方法を提供する。 - 特許庁

To perform highly accurate quality determination in measurement at high pushing-down speed during a line application time, concerning a quality determination method of a button of an electronic apparatus, a method for manufacturing the electronic apparatus, and an electronic apparatus button testing device.例文帳に追加

電子機器のボタンの良否判定方法、電子機器の製造方法及び電子機器ボタン試験装置に関し、ライン適用時に高速の押下速度による測定で精度の高い良否判定を行う。 - 特許庁

To achieve the size reduction of a power converter testing device for executing a loading test by allowing a power converter to simulate motor behavior instead of using a large motor whose mounting and replacement are troublesome, as a load.例文帳に追加

大型で取り付けや交換が面倒なモータを負荷とする替わりに電力変換器にモータの挙動を模擬させて負荷試験を行う電力変換器試験装置の小型化を実現する。 - 特許庁

The biosubstance-inspecting device is constituted by separating chip components for individual testing specimens each loading reagents/solution-sending elements, and control/detection components as inspection main bodies.例文帳に追加

本発明の生体物質検査デバイスは、試薬類・送液系用のエレメントを搭載した、検体ごとのチップコンポーネントと、検査デバイス本体として、制御・検出コンポーネントとを別個にするシステム構成である。 - 特許庁