「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(87ページ目) - Weblio英語例文検索

A testing input/output device 30 outputs the selected test signals to the devices to be tested, and the personal computer 40 checks the quality of each device to be tested based on input signals from the devices to be tested.例文帳に追加

試験用入出力装置３０は選択された試験信号を被試験器に対して出力し、パソコン４０は被試験器からの入力信号に基づいて被試験器の良否を判断する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening time required for a gradation test of a device to be tested by shortening time for quality determination based on a differential value between positive output and negative output.例文帳に追加

正極出力と負極出力との差分値に基づく良否判定にかかる時間を短縮して、被試験デバイスの階調テストに要する時間を短縮する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a method capable of improving handleability of a user by mitigating a restriction for connection to a DUT (Device Under Test), and utilizing a resource effectively.例文帳に追加

ＤＵＴとの接続上の制約を緩和することにより、ユーザの使い勝手を向上することができるとともにリソースを有効利用することができる半導体試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor storage device capable of efficiently discriminating a memory cell having disturbance generation possibility and discriminating defective products, and to provide a test program and the semiconductor storage device.例文帳に追加

ディスターブが生じる可能性のあるメモリセルを効率よく判定することができ、不良品を判定できる半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor evaluation device capable of selecting automatically an input terminal, a testing object, on the semiconductor device side connected to a tester outputting high-frequency noise.例文帳に追加

試験対象であって、高周波ノイズを出力する試験器と接続される半導体装置側の入力端子の選択を自動的に行うことが可能な半導体評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide a DC testing device, or the like, capable of precisely measuring variations in DC signals applied to a semiconductor device, even when the setting for performing a DC test is changed.例文帳に追加

直流試験を行うための設定が変更された場合であっても半導体デバイスに印加される直流信号の変動を高い精度で測定することができる直流試験装置等を提供する。 - 特許庁

This testing device includes a reservoir 14 for including the fluid, an aerator device 22 for generating air entrainment in the fluid, and a densimeter 26 for measuring the effect of the air entrainment relative to a fluid density.例文帳に追加

本試験装置は、流体を含むためのリザーバ１４と、流体に空気飛沫同伴させるエアレータ装置２２と、流体密度に対する空気飛沫同伴の効果を測定する密度計２６とを含む。 - 特許庁

A load testing device 9 independently sets call processing signaling to a node B device 4 and a load of user data communication by a radio control part 9a and a user data preparation/inspection part 9b.例文帳に追加

負荷試験装置９では無線制御部９ａ及びユーザデータ生成／検査部９ｂによって、ノードＢ装置４に対する呼処理シグナリング及びユーザデータ通信の負荷を独立に設定する。 - 特許庁

To provide a contact test set for easily actualizing sure connection between a DUT being a testing object and a load board of a test device, and sure regulation of a small-sized connector used in the test device.例文帳に追加

テスト対象となるＤＵＴとテストデバイスのロードボードとの確実な接続と、テストデバイスで用いられる小型のコネクタの確実な規制とを容易に実現する接触テストセットを提供する。 - 特許庁

To prevent the operating efficiency of a tester from decreasing and to prevent the wafer map of the measuring device of a semiconductor wafer from deviating even in a wafer without any target patterns in wafer-testing device and method.例文帳に追加

ウェハテスト装置およびウェハテスト方法において、テスタの稼働率を低下させることなく、タ−ゲットとなるパタ−ンの無いウェハでも半導体ウェハの測定装置のウェハマップずれが生じさせない。 - 特許庁

In the electrode 22, an upper surface is used as a terminal 24 for making electrical connection to an external circuit device, and a lower surface is used as a terminal 26 for testing the operation of the circuit device 10.例文帳に追加

この電極２２は、上面が外部の回路装置との電気的な接続用の接続用端子２４として用いられ、下面が回路装置１０の動作試験用の試験用端子２６として使用される。 - 特許庁

To provide a temperature control device having a comparatively simple structure, and capable of executing accurately temperature adjustment of a sample, and a burn-in testing method utilizing the temperature control device.例文帳に追加

構造が比較的簡略であり、試料の温度調整を精度良く実施可能な温度制御装置、並びに、当該温度制御装置を利用したバーンイン試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide an improved signal for testing a communication system and communication device according to a noise profile that is not only used for the communication system and communication device but also specifically stipulated (standardized).例文帳に追加

通信システム及び通信装置に使用するための、特に規定の（規格化された）ノイズプロファイルに従って上記システム及び装置を試験するための改良された信号を提供することを目的とする。 - 特許庁

The monitor/method also has a control part for emitting the light signal with the second condition applied, from the testing device, when the attenuation amount determining part determines the presence of the terminal device of which the reflected light intensity is attenuated.例文帳に追加

また、反射光強度が減衰している終端装置があると減衰量判定部が判定した場合に、第２の条件を適用した光信号を試験装置から出射する制御部を有する。 - 特許庁

Namely, in a testing device 3, the sensor module 5 is fixed to a specimen fixing device 340 whose absolute axis is determined, so that the direction of the detection axis of the gyro sensor 520 becomes the direction of the absolute axis.例文帳に追加

すなわち、試験装置３において、絶対軸が定められた被検体固定装置３４０に、ジャイロセンサー５２０の検出軸の方向を絶対軸方向とするようにセンサーモジュール５が固定される。 - 特許庁

To provide a system, method and computer readable medium of instructions, which are useful for determining whether an evaluation testing method or device is clinically equivalent to a reference test method or device.例文帳に追加

評価試験方法または機器が基準試験方法または機器と臨床的に等価であるかどうかを判定する際に役立つ、システム、方法、および命令のコンピュータ読取り可能媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a stable inspection environment that suppresses as much as possible the fluctuations in the power supply voltage in the inside region of a semiconductor device which is caused by factors of a testing system, and to improve the product quality of the device.例文帳に追加

テストシステムの要因による半導体装置内部領域の電源電圧の変動を極力抑えた安定した検査環境の提供により、半導体装置の製品品質を向上する。 - 特許庁

To provide a device for testing a cup member for an artificial hip joint, capable of allowing a stress distribution in the cup member to be close to uniformity, and considerably suppressing complexity in a device configuration.例文帳に追加

カップ部材における応力分布をより一様に近づけるとともに、装置構成の複雑化を大幅に抑制することができる人工股関節用カップ部材の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus for a semiconductor deice for minimizing fraction defective of the semiconductor device that may be caused depending on temperature conditions, by testing durability of the semiconductor device against a temperature.例文帳に追加

半導体素子の温度に対する耐久性をテストすることによって、温度条件によって発生する半導体素子の不良率を最小化することができる半導体素子検査装置を提供する。 - 特許庁

Thus, no voltage is hereinafter applied to the semiconductor device, thereby to avoid thermal runaway thereof and to prevent damage of the semiconductor device and the burn-in testing apparatus resulting from the thermal runaway.例文帳に追加

これにより、その半導体装置には、以後、電圧が印加されなくなるため、その熱暴走が回避され、熱暴走に起因した半導体装置やバーンイン試験装置の損傷が回避されるようになる。 - 特許庁

To provide a method and device for testing semiconductor device by which the reliability parameters of wiring can be found individually and accurately at conducting of reliability evaluation tests on the wiring in the state of a wafer.例文帳に追加

ウェハ状態での配線の信頼性評価試験において、配線の信頼性パラメータを個別にかつ正確に求めることができる半導体装置の試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technology capable of preventing deformation of a lead of a semiconductor device in a characteristic test, and facilitating the lead adjustment work when testing the semiconductor device dismounted from a substrate.例文帳に追加

特性試験における半導体装置のリードの変形を防止し、加えて、基板から取り外した半導体装置を試験する際のリード修正作業を容易にすることが可能な技術を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method for testing the semiconductor device for accurately measuring the life of wiring at the time of evaluating the reliability of the wiring by an electromigration test.例文帳に追加

エレクトロマイグレーション試験により配線部の信頼性を評価する際に、配線部の寿命を正確に測定することができる半導体装置および半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device capable of detecting an open failure without increasing a test cost, a semiconductor tester for testing this semiconductor device, and a semiconductor test system using this semiconductor tester.例文帳に追加

テストコストを増大させることなく、オープン不良を検出することができる半導体装置、これを試験するための半導体テスタおよびこの半導体テスタを用いた半導体テストシステムを実現する。 - 特許庁

The control device is configured to receive the value, to convert the value into a real value by using a function having a plurality of predetermined coefficients and to dispatch the value through the data interface to the testing device.例文帳に追加

制御装置は前記値を受信し、複数の所定の係数を有する関数を用いてその値を実際の値に変換し、その値をデータインタフェースを介して試験装置へ渡すように構成される。 - 特許庁

To provide an operational testing system capable of performing an operational test of a renewal computation device without stopping operation of a currently-used computation device and a data transfer method used therein.例文帳に追加

現用演算装置の動作を停止させることなく、更新用演算装置の運用試験を実行することが可能な運用試験用システムおよびこれに利用するデータ転送方法を提供する。 - 特許庁

For testing the compressive strength of a specimen by applying the compressive load to the columnar specimen 1 in the axial direction, this concrete compressive strength testing device 10 is composed of a cylindrical device body 11 having a housing part 14 for housing the specimen and a cylindrical device cover 12 installed in the outer peripheral part in a fitting installing state.例文帳に追加

柱状の供試体１に対して軸線方向に沿って圧縮荷重を加えることにより該供試体の圧縮強度を試験するために、コンクリート圧縮強度試験装置１０を、供試体を収納する収納部１４を有する筒状の装置本体１１と、その外周部に嵌装した状態で組付けられる筒状の装置カバー１２とから構成する。 - 特許庁

This automatic testing system 10 for a receiver device 20 for receiving a positioning signal has a simulation signal generating means for generating a simulation signal transmitted to the receiver device 20, based on a signal generation scenario, and a control means 44 for controlling the simulation signal generating means and the receiver device 20, based on an automatic test scenario, and for securing time synchronization as the whole automatic testing system.例文帳に追加

測位用信号を受信する受信装置２０の自動試験システム１０であって、受信装置２０に送信する模擬信号を信号生成シナリオに基づいて生成する模擬信号生成手段と、模擬信号生成手段及び受信装置２０を自動テストシナリオに基づいて制御し、かつ、自動試験システム全体の時刻同期を確保する制御手段４４と、を有する。 - 特許庁

To provide a dynamic load-testing device for eliminating the need for incorporating a spindle unit into the machine and exchanging a work and for testing the dynamic load of a rotor extremely easily and economically, and at the same time performing the dynamic load test while a load is being applied for a long time.例文帳に追加

主軸ユニットの本機への組み込みやワークの交換が不要で、非常に容易に、かつ経済的に回転体の動的負荷試験を行うことができるとともに、長期間負荷を加えた状態で動的負荷試験をすることも可能な動的負荷試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device allows the operational amplifier 18 to operate and perform a test to make the current flowing fixed in value, in the testing object transistor 14 so that the current quantity flowing in a resistor 24 becomes fixed, by applying a desired voltage from DAC 16 to a positive input end of the operational amplifier 18.例文帳に追加

ＤＡＣ１６から所望の電圧をオペアンプ１８の正入力端に印加することで、抵抗２４に流れる電流量が一定になるように、オペアンプの１８が動作して、試験対象トランジスタ１４に流れる電流を一定値とする試験が行われる。 - 特許庁

To provide a lubricating oil cooling device for a traveling speed reduction gear, having an operation check testing means capable of performing operation check testing quickly, easily and inexpensively without causing damage to components even in a cold work environment such as a cold weather region in winter.例文帳に追加

寒冷地の冬季のような低温の作業環境であっても、構成部品に損傷を与えず、かつ迅速、容易に動作確認試験が行えると共に、廉価に実現できる動作確認試験手段を有する走行減速機用潤滑油の冷却装置を提供する。 - 特許庁

A device for testing 3 reproduces the information of the radio waves recorded by the recorder 2, transmits the information to the wireless communication apparatus 1 being tested, and causes the wireless communication apparatus 1 being tested to operate a processing function executed by the received radio wave, thereby testing the wireless communication apparatus 1.例文帳に追加

試験用装置３は、記録装置２により記録された電波の情報を再生し、試験対象の無線通信機器１に伝達して、この試験対象の無線通信機器１に、受信した電波に基づいて実行する処理機能を働かせて、試験を行なわせる。 - 特許庁

This device is prepared for each testing module, and has a module memory unit which stores at least either diagnostic data or correction data, performs at least one of diagnosis and correction of the testing module, and stores the diagnostic data or correction data in the module memory unit.例文帳に追加

本装置は、試験モジュールごとに設けられ、診断データまたは校正データの少なくとも一方を格納するモジュール記憶部を設け、試験モジュールの診断または校正の少なくとも一方を行い、診断データまたは校正データをモジュール記憶部に格納することを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide semiconductor device testing equipment capable of supporting even a thin wafer without flexural deformation thereof, and which eliminates the need for moving a probe needle in contact with a back surface electrode of the wafer even when a semiconductor element to be tested is shifted; a testing method using the same; and a coaxial probe needle unit used for the same.例文帳に追加

薄いウエハでも撓みなく支持でき、測定される半導体素子が切り替わった場合でも、ウエハの裏面電極と接触するプローブ針を移動させる必要のない半導体測定装置及び測定方法並びに同軸プローブ針ユニットを提供すること。 - 特許庁

The thermal shock testing device 1 stores a difference time between a time until an ambient temperature in a testing environment detected by an environment temperature detecting sensor 9 reaches a prescribed temperature, and a time until a temperature of the sample W itself reaches the prescribed temperature, in a preliminary test.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、予備試験において環境温度検知センサ９によって検知される試験環境の雰囲気温度が所定の設定温度に到達するまでの時間と、試料Ｗ自身の温度が所定の設定温度に到達するまでの時間との差異時間を記憶しておく。 - 特許庁

A dip switch 15 is provided on the control panel of a testing device 1 for testing a telephone switchboard 2, and a speaking time detecting part 11a detects the setting state of the dip switch 15, set by a person in charge of test and obtains 'speaking time' on a telephone line 2a on the basis of the detected result.例文帳に追加

電話交換機２を試験する試験装置１の操作パネルにディップスイッチ１５を設け、通話時間検出部１１ａが、試験担当者により設定されたディップスイッチ１５の設定状態を検出し、検出結果に基づいて、電話回線２ａにおける「通話時間」を求める。 - 特許庁

Furthermore, the design supporting device 10 is provided with: a testing part 38 which determines whether or not the reference data can execute the processing group in a batch based on a test item preliminarily set according to the design procedure; and an output part which outputs the test result of the testing means as a test result report 44.例文帳に追加

さらに、予め設計手順に応じて設定された検査項目に基づいて、基準データが処理群の一括実行が可能かを判断する検査部３８と、検査手段による検査結果を検査結果レポート４４として出力する出力部と、を有する。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device capable of effectively preventing dew condensation around a socket when a test is performed under conditions below room temperatures and capable of preventing failure of an electronic component for a testing circuit mounted around the socket when a test is performed under high-temperature conditions.例文帳に追加

常温以下の状態での試験に際し、ソケットの付近での結露を有効に防止し得ると共に、高温状態での試験に際し、ソケット付近に装着される試験回路用電子部品の故障を防止することができる電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an LED light source for testing devices, capable of fixedly maintaining the temperatures of LEDs and restraining the output variations and color unevenness of the LEDs, and to provide a solar cell evaluation device capable of precisely evaluating the output characteristics of solar cells by the LED light source for the testing devices.例文帳に追加

ＬＥＤの温度を一定に保って該ＬＥＤの出力変動及び照射光の色ムラの発生を抑えることができる試験装置用ＬＥＤ光源とこれを用いて太陽電池の出力特性を高精度に評価することができる太陽電池評価装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing device of a nearly flat-plate shaped member in which abnormalities in formation or the like of cracks and through-holes or the like can be detected with excellent precision even if these abnormalities occur on the surface of the nearly flat-plate shaped member in which uneven shape has been formed on the surface.例文帳に追加

表面に凹凸形状が形成された略平板状部材の表面に、亀裂や貫通孔等が形成される等の異常が生じていたとしても、これらの異常を精度よく検知することが可能な略平板状部材の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

Accordingly, in the functional inspection of the fire detector 24, the elevating body 2 is raised and lowered by the operation of the test control device to oppose the testing means 25 to the fire detector 24, whereby the fire detector 24 can be tested by the operation of the testing means to facilitate the functional inspection work.例文帳に追加

これによって、火災検出器２４の機能点検時に試験用制御装置の動作により、昇降体２が昇降して火災検出器２４に試験手段２５が対向し、試験手段の動作によって火災検出器２４を試験でき、機能点検作業を容易化する。 - 特許庁

To provide a portable discarded water testing device which shortenes a time period necessary for water quality testing and discarding water in a discarded water pipe in a service water piping network, eliminates a wasteful amount of discarded water, and carries out water discarding work at a number of points in the service water piping network efficiently and in a short time.例文帳に追加

本発明は、水道配水管網の捨水配水管部における水質検査と捨水時間とを短縮して、無駄な捨水量をなくし多数の水道配水管網での捨水作業を効率的に短時間で行うことが可能な可搬型捨水検査装置を提供する。 - 特許庁

The testing device, which sucks up work with a suction head 3 movable in x-axis and y-axis directions and transfers it to a testing jig 12 to test it, comprises a transfer means for sucking up and moving trays 8 and 10 for housing work sorted into conforming and nonconforming articles.例文帳に追加

ワークをＸ軸、Ｙ軸方向に移動可能な吸着ヘッド３で吸着して試験治具１２に移送し試験を行う試験装置において、良品、不良品に選別されたワークを収容するトレー８、１０を吸着して移動するための移送手段を備える。 - 特許庁

The cooling water temperature-controlled by the cooling water supply device 14 is made to flow all the time through the water cooled hole of the testing object 12 to bring a water-cooled condition, and a heating step is carried out to elevate a temperature up to an upper limit temperature by heating the testing object 12 by the heater 16, under the water-cooled condition.例文帳に追加

試験体１２の水冷孔に、冷却水供給装置１４で温度制御された冷却水を常時流通して水冷状態としたもとで、加熱装置１６で試験体１２を加熱して上限温度まで昇温する加熱工程を行なう。 - 特許庁

To provide a testing device of a controller, which considers dynamic characteristics of a vehicle without modifying timing in accordance with a vehicle type even when testing an operational state of an electronic control system provided with an electronic controller having a plurality of functions that differ for each vehicle type.例文帳に追加

車種ごとに異なる複数の機能を有する電子制御装置を有する電子制御システムの動作状態を試験する場合であっても、車種によってタイミングを修正することなく、車両の動的特性を考慮した制御装置の試験装置を提供する。 - 特許庁