「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(101ページ目) - Weblio英語例文検索

In this deterioration testing device 100, which is a device for performing the deterioration test of a specimen by generating deterioration by irradiating a liquid crystal panel (specimen) 15 with laser light outputted from a laser device 10, an optical correction element 26 for uniformizing illuminance of the laser light is provided between the laser device 10 for outputting the laser light and the liquid crystal panel 15.例文帳に追加

本発明に係る劣化試験装置１００は、レーザ装置１０から出力されたレーザ光を液晶パネル（被検物）１５に照射して劣化を生じさせ、当該被検物の劣化試験を行う装置であり、レーザ光を出力するレーザ装置１０と前記液晶パネル１５との間に、前記レーザ光の照度を均一化する光学補正素子２６が設けられている。 - 特許庁

The testing device outputs such a test output that is recognized as low-speed data of 25 MHz from the outside of the LSI, though the clock recovery circuit 1 in the LSI operates practically by a high-speed clock of 125 MHz, for example.例文帳に追加

そして、実際にはＬＳＩ内部のクロックリカバリ回路１はたとえば１２５ＭＨｚの高速クロックで動作しているが、ＬＳＩ外部からは２５ＭＨｚの低速データとして認識されるような試験出力を外部に出力させる。 - 特許庁

A transmission/reception message 13 described for configuring a test as a message to be transmitted and a message to be received is inserted to a test signal to be transmitted/received between a testing device 1 and a test object 7.例文帳に追加

試験装置１と試験対象７との間で送受信される試験信号のなかに、試験を構成するために記述された、送信されるメッセージと受信されるべきメッセージである送受メッセージ１３が挿入されている。 - 特許庁

In an environmental acceleration cracking monitoring device and a method, a positioning mechanism 14 of a testing tool 12 is provided, for equalizing each relative position of a test piece 11 to a current supply terminal 15 and a potential difference measuring terminal 16.例文帳に追加

環境助長割れ監視装置および方法において、電流供給端子１５、電位差計測端子１６に対する試験片１１の相対位置を同一にする試験冶具１２の位置決め機構１４を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

The optimum erasure condition capable of simultaneously erasing the most recording layers and the optimum sequence capable of erasing data of each recording layer with the minimum number of times are determined from the result of the testing erasure and registered in a memory 19 of the optical disk device.例文帳に追加

試し消去の結果から、同時に最も多くの記録層を消去可能な最適消去条件と、各記録層のデータを最小回数で消去可能な最適シーケンスを決定し、光ディスク装置のメモリ１９に登録する。 - 特許庁

The test emulation apparatus 190 emulates the testing device on the basis of a test control program stored in a system controller, a test program and test data, and conducts a simulated test on a DUT while using a simulation model 200 of the DUT.例文帳に追加

試験エミュレート装置１９０は、システム制御装置に格納された試験制御プログラム、試験プログラム及び試験データに基いて試験装置をエミュレートし、ＤＵＴのシミュレーションモデル２００を用いてＤＵＴの試験を擬似的に行う。 - 特許庁

In a Web load testing method, a load simulator 22a interrupts access to a Web server device 10 by a virtual Web client 201 until all the response messages of a sequence set as synchronous points is acquired by all virtual Web clients 201, 202 and 203.例文帳に追加

負荷シミュレータ２２ａは、同期ポイントとして設定された順番のレスポンスメッセージを全ての仮想ウェブクライアント２０１，２０２，２０３，…が取得するまで、仮想ウェブクライアント２０１によるウェブサーバ装置１０へのアクセスを、中断させる。 - 特許庁

To provide a report server device, report system, and report equipment testing method capable of discriminating automatically whether or not a test report signal is right even while the report system is being operated without providing the report equipment with a special constitution.例文帳に追加

本発明は、特別の構成を通報機器に備える必要もなく、通報システムの運用中でも試験通報信号の是非を自動的に区別し得る通報サーバ装置、通報システム及び通報機器試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation device for an electroplating liquid capable of evaluating the throwing power properties that is one of the characteristics of an electroplating liquid, using a wide range of current density being the feature of a Hull cell testing method, and to provide an evaluation method of the electroplating liquid.例文帳に追加

電気めっき液の特性の一つであるつきまわり性を、ハルセル試験法の特徴である広範囲な電流密度で、評価することが出来る電気めっき液の評価装置及びその評価方法を提供することである。 - 特許庁

To conduct a tolerance against identical code succession with a clear criterion and high measurement precision without using any complicated circuit in an identical code succession tolerance testing device which conducts a test with test data including a specific identical code succession tolerance test pattern.例文帳に追加

所定の同符号連続耐力テストパターンを含む試験データで試験を行う同符号連続耐力試験装置に関し、判定基準が明確であり測定精度の高い同符号連続耐力試験を複雑な回路を用いずに行う。 - 特許庁

The device 100 also comprises a pad 1 for bonding electrically connected to an internal circuit 4 and bonded to a bonding member, and a pad 2 for testing electrically connected to an internal circuit 4 and to which a test probe contacts.例文帳に追加

また、内部回路４と電気的に接続されるとともにボンディング部材と接合されるボンディング用パッド１と、内部回路４と電気的に接続されるとともにテストにおいてテストプローブが接触するテスト用パッド２とを備えている。 - 特許庁

To provide an automatic inspection device for display panel which automatically inspects testing items such as point defect or line defect, while achieving an enhancement of precision in detection and judgment of display unevenness without requiring any difficult display unevenness detection/determination processing.例文帳に追加

自動的に点欠陥や線欠陥などの検査項目を検査するとともに、困難な表示ムラ検出・判定処理を必要とせずに表示ムラの検出・判定の精度を向上可能なディスプレイパネル自動検査装置を提供する。 - 特許庁

In this damage testing device, a tire support shaft 2 is mounted in the orthogonal direction on a support frame 1 erected vertically, and the test tire W is mounted detachably in parallel with the support frame 1 on the tire support shaft 2.例文帳に追加

損傷試験装置は、鉛直向きに立設された支持フレーム１に、タイヤ支持軸２が直交向きに取付けられ、このタイヤ支持軸２には前記支持フレーム１と平行に試験タイヤＷが着脱可能に取付けられている。 - 特許庁

To provide an abrasion testing device which evaluates an abrasion situation of a rubber roll under a load applied condition, and also evaluates abrasion of the rubber roll under the condition where a mating side member is bitten in the rubber roll under a prescribed condition.例文帳に追加

荷重をかけた状況でのゴムロールの摩耗状況の評価に加え、所定の状態でゴムロールに相手側の部材を食い込ませた状況でのゴムロールの摩耗の評価を行うことができる摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁

For conducting a development test, etc. on an electric vehicle which employs a motor as a power source, a test measuring system for the electric vehicle 1 reproduces a driving state of the electric vehicle to be tested by using a reproduction object testing device 10.例文帳に追加

モータを動力源とする電動車両の開発試験等を行うために試験対象電動車両の走行状態を再現対象試験装置１０において再現する電動車両用試験測定システム１である。 - 特許庁

To solve the problem wherein a phenomenon in which load distribution is different from a design value occurs when executing evaluation of constant velocity and synchronization on the basis of statistical methods in a testing device executing synchronous control of front and rear wheels by being separated for the front and rear wheels.例文帳に追加

前後輪用に分離して前後輪の同期制御を実行する試験装置では、統計的手法に基づいて等速性・同期性の評価を実行すると、負荷分配が設計値と異なる現象が発生する。 - 特許庁

To provide a connector in which an insertion force required in the insertion process of an electronic component is reduced, and a pressing force for pushing a contact portion to an electronic component can be secured, and to provide a semiconductor testing device equipped with the connector.例文帳に追加

電子部品の挿入過程において必要とされる挿入力を低減すると同時に、接触部を電子部品に押し付ける力を確保することのできるコネクタ、及びコネクタを備える半導体試験装置の提供。 - 特許庁

The electronic device 10 has BIST hardwares 102, 104 provided with a production test mode and a diagnostic testing mode, outputs a response signature by the production mode, and outputs a raw response data by the diagnostic test mode, when the scanning pattern is provided.例文帳に追加

電子デバイス（１００）は、生産テストモードと診断テストモードを備えたＢＩＳＴハードウェア（１０２、１０４）を有し、スキャンパターンを提供すると、生産テストモードで応答シグネチャを出力し、診断テストモードで生応答データを出力する。 - 特許庁

To provide a vehicle traction mechanism of a collision testing device, capable of preventing a wire rope from being projected to a camera set inside a pit and suppressing the traveling speed change of a test vehicle at and after a point of time when its being cut off from the wire rope.例文帳に追加

ピット内にセットしたカメラにワイヤロープが映ることを防止し、ワイヤロープから切り離した時点以降のテスト車両の走行速度変化を抑制することが可能な衝突試験装置の車両牽引機構を提供する。 - 特許庁

To provide an XY stage device used for manufacturing or testing various boards such as flat display panel boards for example which deals with enlarged panel boards and reduces the manufacturing cost and the transport cost.例文帳に追加

例えばフラットディスプレイパネル基板等の各種基板の製造又は検査工程に用いられるＸＹステージ装置において、パネル基板の大型化に対応できる、製造コスト及び運送コストの低いＸＹステージ装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor testing device can vary the speed of the pattern to be applied to the DUT, and is provided with a selection means for selecting either pattern data output from a data memory or an output signal fed back just before.例文帳に追加

ＤＵＴに与えるパターンの速度を可変できる半導体試験装置であって、データメモリから出力されるパターンデータとフィードバックされた直前の出力信号のどちらか一方を選択する選択手段を設けた。 - 特許庁

To provide a miniaturizable corrosion thinning testing device and a corrosion thinning test method, which grasp quantitatively a corrosion thinning characteristic of a ceramic material or a heat-resistant metal material, and have excellent safety, economical efficiency and operability.例文帳に追加

セラミックス材料や耐熱性金属材料の腐食減肉特性を定量的に把握でき、安全性、経済性、操作性に優れるとともに、小型化が可能な腐食減肉試験装置及び腐食減肉試験方法を提供すること。 - 特許庁

In the semiconductor device, among a plurality of electrode pads disposed on a surface of the semiconductor chip, a plurality of testing pads are set-disposed in a predetermined region on the surface of the semiconductor chip to reduce an inspection region.例文帳に追加

半導体装置において、半導体チップの表面に配置されている複数の電極パッドのうち、複数のテスト用パッドを上記半導体チップの表面の所定領域に集合して配置し、検査領域を小さくする。 - 特許庁

To perform a strength test by a testing device with a simple configuration, which loads pressure at a state close to a situation that a gate is actually used to a flat plate structure which receives hydraulic pressure of a gate, etc. in a water gate, a sluice gate, and a sluice pipe.例文帳に追加

水門、樋門、樋管におけるゲート等の水圧を受ける平板構造体に対し実際にゲートが使用される状況に近い状態での圧力を載荷する簡易な構成の試験装置により強度試験を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device wherein a control means which is substantially equivalent to a control signal to be stored in a WCS memory which controls the generation of a test pattern provided at an ALPG is provided outside the WCS memory.例文帳に追加

ＡＬＰＧが備える試験パターンの発生を制御するＷＣＳメモリに格納すべき制御信号と、実質的に等価な制御手段を、当該ＷＣＳメモリ外に備えるＡＬＰＧとする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a urine testing device that is of simple constitution, can be fitted to an existing toilet stool that has become widely used at homes, and prevents storage liquid from leaking, from a storage liquid container when a sensor is to be dipped into the storage liquid, when no measurement is being made.例文帳に追加

簡易な構成で、また家庭に一般的に普及している既存の便器に装着可能で、センサを非測定時に保存液に浸漬させられるときに保存液が保存液容器から漏れない尿検査装置を提供する。 - 特許庁

The posture changing device 100 is provided with a rotor 110 positioned inside the soaking chamber, and for changing a posture by grasping the testing tray, and the first power source 111 for providing power for posture-changing the rotor.例文帳に追加

姿勢変換装置１００はソークチャンバーの内部に位置しテストトレーを把持することで姿勢変換を可能にさせる回転体１１０と、回転体を姿勢変換させるための動力を提供する第１動力源１１１とを備える。 - 特許庁

To provide a method and device for measuring shear stress distribution of a flow field, capable of accurately obtaining the shear stress distribution based on velocity variation of the flow field due to an agitation blade without using an empirical formula obtained by testing.例文帳に追加

試験により求める実験式を用いることなく、攪拌翼による流れ場の速度変動に基づくせん断応力分布を正確に求めることができる流れ場のせん断応力分布計測方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing gear wherein the strain of a tooth space of the gear which is to be tested is measured without affected by the strain of diameter or shape of the center hole of the gear which is to be tested.例文帳に追加

被試験歯車の中心の孔の形状や径の歪みの影響を受けることなく、被試験歯車の歯溝の歪みを測定する歯車試験方法と、この歯車試験方法を実現する歯車試験装置とを提供する。 - 特許庁

To provide a radiographic image diagnostic apparatus which reduces time for a treatment by reducing a moving distance of a bed to reach a region subjected to an observation in a catheterization testing and the amount of angle of rotation of a support device.例文帳に追加

Ｘ線画像診断装置について、カテーテル検査などで観察対象領域に至らせるまでの寝台の移動距離や支持装置の回転角度量をより少ないもので済ませることにより処置時間の短縮を可能とする。 - 特許庁

The testing device 20 is composed of a 1st moving mechanism 25 moving the 1st gear cone 2a toward the 1st synchro ring 1a and a 2nd moving mechanism 26 moving the 2nd gear corn 2b toward the 2nd synchro ring 1b.例文帳に追加

この試験装置２０は、第１のギヤコーン２ａを第１のシンクロリング１ａに向って移動させる第１の移動機構２５と、第２のギヤコーン２ｂを第２のシンクロリング１ｂに向って移動させる第２の移動機構２６を備えている。 - 特許庁

A holder is attached for use in a characteristics testing device which tests characteristics of a photocurable resin CR by measuring a force generated between the photocurable resin CR dropped on a substrate SW and a pressing member 104 via a load cell.例文帳に追加

保持具は、基板ＳＷ上に滴下された光硬化樹脂ＣＲと押圧部材１０４との間で発生する力をロードセルで測定して、光硬化樹脂ＣＲの特性を試験する特性試験装置に装着して用いられる。 - 特許庁

To provide a nucleic acid decomposer used for completely removing nucleic acids from a testing tool or device before the detection operation of a target gene, and having an ability for effectively decomposing the nucleic acid in a state (non-wet state) except a liquid phase.例文帳に追加

ターゲット遺伝子の検出作業に先だって、検査器具装置から核酸を完全に排除するために、液相以外の状態（非ウェット状態）で、核酸を有効に分解する能力を備えた核酸分解剤を提供する。 - 特許庁

To provide a guide for a probe allowing stable electrical connection and being kept from leaving a scrub trace on a projection apex of a projecting connection electrode, a cantilever-type probe card, and a method for testing a semiconductor device.例文帳に追加

安定した電気的接続を可能にし、かつ、突起状接続電極の突起頂点にスクラブ跡を付けることのないプローブ針のガイド部材、カンチレバー型プローブカード、並びに、半導体装置の試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device allowing suppression of influence imparted to an inspection result of a function of an internal circuit even if variation is present in a resistance value of an internal resistance while sharing a testing terminal with another terminal.例文帳に追加

本発明は、テスト用端子を他の端子と共用しつつ、内部抵抗の抵抗値にばらつきがあっても、内部回路の機能の検査結果に与える影響を抑えることができる、半導体装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a mobile communication terminal testing device and a method of displaying a test result, for: simultaneously displaying measurement values of adjacent channels having different communication systems; and displaying measurement results having different measurement conditions in a unified format.例文帳に追加

通信方式が異なる隣接チャネルの測定値を同時に表示し、測定条件の異なる測定結果を統一されたフォーマットで表示可能とする移動体通信端末試験装置及び試験結果表示方法を提供する。 - 特許庁

To shorten the transmission time of parameters to respective semiconductor devices to be tested in a semiconductor device testing apparatus setting parameters of different values to individual semiconductor devices to be tested to test a plurality of the semiconductor devices to be tested at the same time.例文帳に追加

被試験半導体デバイスの各個に異なる値のパラメータを設定して同時に複数の被試験半導体デバイスを試験する半導体デバイス試験装置において、各被試験半導体デバイスにパラメータを転送する時間を短縮する。 - 特許庁

To provide low cost semiconductor test equipment and a testing method by using such a semiconductor test equipment which has a storage capacity smaller than related equipment and can test a memory device under test which has a large storage capacity.例文帳に追加

従来よりも小さい記憶容量を有しながら、記憶容量の大きな被試験メモリデバイスを試験することができる低コストの半導体試験装置およびそのような半導体試験装置を用いた試験方法を提供する。 - 特許庁

In the bending testing device 1, the uniform bending stress can be generated in the whole circuit board 9 by this constitution, while determining selectively the bending direction of the circuit board 9, when performing the bending fatigue test of the circuit board 9.例文帳に追加

これらの構成により、曲げ試験装置１では、回路基板９の曲げ疲労試験を行う際に、回路基板９の曲げ方向を選択的に決定しつつ回路基板９全体に均一な曲げ応力を生じさせることができる。 - 特許庁

To provide a parts testing device and a parts holder preventing the dew condensation of tested parts, shortening an normal temperature return time, enhancing the control accuracy of the temperature of parts to be tested and achieving the enhancement of throughput.例文帳に追加

供試験済部品の結露防止、常温復帰時間の短縮または試験前部品の温度制御の精度向上を図り、しかもスループットの向上を図ることができる部品試験装置および部品保持装置を提供するすること。 - 特許庁

The on-chip circuit and the testing method can evaluate deterioration of a cell transfer device by a MOSFET deterioration mechanism that becomes active at the time of electric charge transfer or storage in an operating state or burn-in state.例文帳に追加

このオン・チップ回路およびテスト方法は、電荷転送の際および動作状態またはバーン・イン状態のもとでの記憶の際にアクティブになるＭＯＳＦＥＴ劣化メカニズムによるセル転送デバイスの劣化を評価することを可能にする。 - 特許庁

Thus, with the semiconductor memory device and the method for testing whether the ODT resistor is on/off during the data read mode, whether the ODT circuit is on/off during reading of data is tested.例文帳に追加

したがって、本発明によるデータ読出モードでＯＤＴ抵抗部のオン／オフ状態をテストできる半導体メモリ装置及びＯＤＴ回路の状態テスト方法は、データが読出される間にＯＤＴ回路のオン／オフ如何をテストできる。 - 特許庁

To provide stable quality by predicting the number of read errors of a sync byte (SB) caused by very small defects even without testing based on a data block length for each user regarding a method for inspecting a storage disk device.例文帳に追加

ディスク型記憶装置の検査方法に関し，各ユーザに応じたデータブロック長で試験を行わなくても，微小欠陥によるシンクバイト（ＳＢ）のリードエラー発生個数を予測し，安定した品質の提供を可能にすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a test device for testing the characteristics of each semiconductor chip by bringing a probe into contact therewith from both surfaces of a semiconductor wafer, in which each semiconductor chip can be tested by heating the semiconductor wafer to a desired temperature.例文帳に追加

半導体ウエハの両面よりプローブを接触させて各半導体チップの特性を試験する試験装置において、所望の温度に半導体ウエハを加熱して各半導体チップを試験することができる試験装置を提案する。 - 特許庁

To provide an IC testing device with improved IC test reliability and productivity, its control method, and a storage medium by combining a plurality of ICs under an optional judgement criterion for performing the test.例文帳に追加

本発明の課題は、任意の判定基準下で複数のＩＣを組み合わせて試験を行うことにより、ＩＣ試験の信頼性と生産性を向上したＩＣ試験装置、その制御方法、及び記憶媒体を提供することである。 - 特許庁