「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(102ページ目) - Weblio英語例文検索

This tire testing device 10 is equipped with the endless belt 16 having a belt surface 16S abutting on a tire T, and a primary side coil 18 of a linear motor for generating an eddy current and generating a running force on the endless belt 16.例文帳に追加

タイヤ試験装置１０は、タイヤＴに当接するベルト路面１６Ｓを有する無端ベルト１６と、無端ベルト１６に渦電流を発生させて走行力を生じさせるリニアモータの一次側コイル１８と、を備えている。 - 特許庁

An optical fiber measurement system 1 comprises: an optical fiber sensor line 2; a position display module 3 provided at at least one position on the optical fiber sensor line 2; and a light pulse testing device 10 for making test light incident on the optical sensor line 2.例文帳に追加

光ファイバセンサ線路２と、光ファイバセンサ線路２の少なくとも１箇所に設けられた位置表示モジュール３と、光ファイバセンサ線路２に試験光を入射する光パルス試験器１０と、を備えた光ファイバ計測システム１。 - 特許庁

To provide a pattern control device for a game machine, for which the variable configurations of patterns of a pattern display means can be easily and inexpensively changed, and at the same time, the inspection can be easily performed at the time of an inspection after a change at a testing organization or the like.例文帳に追加

図柄表示手段の図柄の変動態様を容易且つ安価に変更できると共に、検定機関等での変更後の検査に際してもその検査を容易にできる遊技機の図柄制御装置を提供する。 - 特許庁

This semiconductor testing device 100 is provided with main body memory circuits 30, 31 storing defective information on the main body memory of the memory to be examined, and auxiliary memory circuits 40, 41 storing defective information on the auxiliary memory of the memory to be examined.例文帳に追加

本発明の半導体試験装置１００は、被試験メモリの本体メモリの不良情報を格納する本体メモリ回路３０，３１と、被試験メモリの予備メモリの不良情報を格納する予備メモリ回路４０，４１とを備える。 - 特許庁

To provide a structure capable of preventing side deviation or local twist of a belt, and preventing drop of the belt between rollers, concerning a belt driving device provided on a vehicle traveling testing machine or the like, for supporting and driving a rotator such as a wheel.例文帳に追加

車輌走行試験機等に備えられ、車輪などの回転体を支持し走行させるベルト駆動装置であって、ベルトの横ズレや局部的なヨレを防止し、更に、ローラ間でのベルトの落ち込みをも防止し得る構造を提案する。 - 特許庁

To provide a pattern control device for a game machine, which can easily and inexpensively change variation configurations of a pattern of a pattern display means, and at the same time, for which the inspection can be easily performed at the time of an inspection after a change at a testing organization or the like.例文帳に追加

図柄表示手段の図柄の変動態様を容易且つ安価に変更できると共に、検定機関等での変更後の検査に際してもその検査を容易にできる遊技機の図柄制御装置を提供する - 特許庁

The current conduction-testing device 1 consists mainly of the bulb socket 10 for holding a bulb 5, a switch 40 for controlling a current conduction state and a current non-conduction state, and a battery box 30 for storing a battery 7.例文帳に追加

通電実験装置１は、電球５を保持するための電球ソケット１０と、通電状態及び非通電状態を制御するスイッチ４０と、電池７を収納するための電池ボックス３０とから主に構成されている。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of making testing conditions even, by restraining dispersion of temperatures in a plurality of tested objects generating heat by an operation, and capable of enhancing thereby reliability for a burn-in test and an aging test.例文帳に追加

動作することによって発熱する複数の被試験体の温度のばらつきを抑制することによって試験条件を揃え、バーンイン試験およびエージング試験の信頼性を向上させることができるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁

A pin electronics 17 of this semiconductor testing device 1 includes a sub-driver control circuit 20, a main driver MDR1, a sub-driver SDR1, a comparator COMP1, a control transistor STR1, a switch SW1, a resistance R1 and a resistance R2.例文帳に追加

半導体試験装置１のピンエレクトロニクス１７には、サブドライバ制御回路２０、メインドライバＭＤＲ１、サブドライバＳＤＲ１、コンパレータＣＯＭＰ１、制御トランジスタＳＴＲ１、スイッチＳＷ１、抵抗Ｒ１、及び抵抗Ｒ２が設けられる。 - 特許庁

This earth sampling device 4 has a rod part 5, a thin shaft part 6, an auger 7, a cylindrical body 8, a pin 11, inclined faces 11a and 13a and an inward overhang part 14; and can be connected to a connecting rod of a Swedish sounding testing machine.例文帳に追加

ロッド部５と細軸部６とオーガ７と筒体８、そして、ピン１１、斜面１１ａ，１３ａ、内向き張出し部１４が備えられている土サンプリング装置４で、スウェーデン式サウンディング試験機の連結ロッドに連結可能である。 - 特許庁

The tire testing device measures a power loss in a tire from a difference of power of the tire 50 obtained by adding the torque measured by the tire shaft torque meter 15 and a difference of power of the roller 2 obtained by adding the torque measured by the roller shaft torque meter 5.例文帳に追加

タイヤ軸トルク計１５で測定したトルクを加味して求めたタイヤ５０の仕事率の差分と、ローラ軸トルク計５で測定したトルクを加味して求めたローラ２の仕事率の差分より仕事率のタイヤ損失を測定する。 - 特許庁

To provide a maintenance-free and highly-accurate timing calculation circuit of a semiconductor testing device capable of removing deviation of a calibration timing caused by an on-resistance when using a semiconductor relay as a signal selection circuit for timing correction.例文帳に追加

半導体リレーをタイミング校正用信号選択回路に用いた場合のオン抵抗による校正タイミングのずれをなくし、メンテナンスフリーかつ高精度な半導体試験装置のタイミング構成回路を実現することを目的とする。 - 特許庁

In the testing device wherein signals from a pattern generation section put in the body section are sent to test heads through optical fibers, the optical fibers connect the pattern generation section and the test heads through WDM couplers or DWDM couplers.例文帳に追加

本体部に収納されたパターン発生部からの信号を、光ファイバを介してテストヘッドに接続する試験装置において、光ファイバは、ＷＤＭカップラまたはＤＷＤＭカップラを介してパターン発生部とテストヘッドを接続する。 - 特許庁

To provide a rotary electric machine for a dynamo testing device capable of preventing bearing lubrication oil from leaking out of a casing, together with a part of cooling air flow in a high-pressure state that is introduced into the casing.例文帳に追加

本発明は、ダイナモ試験装置用回転電機において、ケーシング内に導入された高圧状態の冷却空気流の一部と共に、軸受潤滑油がケーシング外に漏出してしまうのを防止することを課題としている。 - 特許庁

To provide a sequence monitor for semiconductor testing device which has the function of accurately and easily indicating the transition variations of power on/power off, in a specified plurality of tester pins by a unit of pin group.例文帳に追加

半導体試験装置が備えるシーケンスモニタ機能において、所定の複数テスタピンをピングループ単位として的確容易にパワーオン／パワーオフの遷移ばらつきを表示する機能を備える半導体試験装置のシーケンスモニタを提供する。 - 特許庁

To provide a testing device of a power train for obtaining a reliable test result by giving accurate load torque corresponding to the transitional drive state of a vehicle for mounting the power train including a motor and a transmission.例文帳に追加

原動機及び変速機を含むパワートレインが搭載される車両の過渡的な走行状態に対応して正確な負荷トルクを付与し、信頼性の高い試験結果を得ることができるパワートレインの試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an acceleration climatic testing device concentrating solar radiation to at least one sample and immersing, having at least one supporting member and an operation part operatably connected to at least one supporting member.例文帳に追加

少なくとも一つの支持部材と、少なくとも一つの支持部材に動作可能に接続された動作部とを有する、少なくとも一つの試料に対して太陽放射を集中し、浸漬する促進耐候試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a servo signal-testing device which can detects defects scattered and distributed throughout servo tracks without spending many hours even if the width of a servo head is smaller than the width of a face of the servo track.例文帳に追加

本発明では、サーボヘッドの幅がサーボトラックの幅よりも小さい場合であっても、時間をかけずにサーボトラック全域に散らばって分布する欠陥を検出することができるサーボ信号検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

The testing device includes an electron collector plate adapted as an array of individually address-assignable electrodes 281, 282, 283, 284 brought into a positive or negative potential for executing the injection or extraction of the electron.例文帳に追加

テスト装置には、電子の注入または抽出を実行するために正または負電位に導くことができる個別アドレス指定可能電極（２８１、２８２、２８３、２８４）のアレイとして適合された電子コレクタプレートが含まれる。 - 特許庁

To provide a fluidity testing device for sediment and a fluidity test method for sediment capable of performing fluidity evaluation suitable for pump pressure feeding, evaluating quantitatively fluidity of the sediment, and readily predicting and evaluating ground supporting force.例文帳に追加

ポンプ圧送に適した流動性評価が可能であり、土砂の流動性を定量的に評価でき、地盤支持力を簡易的に予測評価できる土砂の流動性試験装置および土砂の流動性試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a door handle testing device that tests a door handle by cutting out only a portion surrounding the door handle from a vehicle door and applying the same acceleration as used in a crash test to see whether a handle part of the door handle rotates in an opening direction.例文帳に追加

自動車のドアからドアハンドル付近のみを切り出して衝突試験と同じ加速度を与え、ドアハンドルのハンドル部分が開き出し方向に回動するか否かを試験するようにしたドアハンドル試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a compact and simple measuring probe orientating device capable of accurately measuring and testing even inside of a local and narrow air flow independently of the influence of space unevenness of a flow part under the wind tunnel environment.例文帳に追加

風洞試験環境下における流れ場の空間的不均一の影響を受けず、局所的な狭い気流内でも精度の高い計測試験を行うことを可能とする小型で簡易な計測プローブ配向装置を提供する。 - 特許庁

To provide a light emitting substrate and its manufacturing method, a liquid droplet material landing accuracy testing substrate for a light emitting substrate and its manufacturing method, a measuring method of the liquid droplet material landing accuracy, an electro-optical device, and an electron equipment.例文帳に追加

発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置ならびに電子機器を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a semiconductor device capable of realizing the cost reduction of an electrical characteristic test and that of a product by using existing test jigs and testing devices, and provide a carrier used for it.例文帳に追加

既存の試験治具や試験装置を流用することによって電気的特性試験のコストダウン、さらには製品のコストダウンを実現することができる半導体装置の製造方法、およびこれに用いられるキャリアを提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing vibration that substitutes a small mechanical piston cylinder for an electro-dynamic vibration tester of a vibration generation source and uses compressed air capable of easily generating a large excitation force, as power, and a device therefor.例文帳に追加

振動発生源である動電型振動試験機の代わりに、小さな機械系ピストンシリンダを用い、大きな加振力を簡単に発生できる圧縮空気を動力とする振動試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a differential sensor operation testing method and device capable of accurately checking the operation of a differential sensor without demanding an operator to continuously monitor a display on the receiver side of an automatic fire alarm.例文帳に追加

自火報受信機側にて作業員が長い時間その表示を監視し続けることなく、正確に差動型感知器の作動確認を行うことのできる差動型感知器の動作試験方法及び動作試験装置を提供すること。 - 特許庁

Next, the room temperature test is performed, and a method of testing the semiconductor device accepts or reject the memory cell arrays 11a to 11n on the basis of the high temperature test result written on the memory cell arrays 11a to 11n and the room temperature test result of the room temperature test.例文帳に追加

次いで、常温試験を行い、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎに書き込まれた高温試験結果と、常温試験の常温試験結果とに基づいて、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎの合否判定を行う。 - 特許庁

To provide a method and device for evaluation-testing exactly heat resistance, durability and the like of a heat-resistant tubular member used for a diesel engine or a gasoline engine, irrespective of types of the engines, without waiting completion of the engine.例文帳に追加

エンジンの完成を待つことなく、エンジンの種別に関係なくディーゼルエンジンまたはガソリンエンジンに用いられる耐熱管状部材の耐熱性、耐久性等を的確に評価試験できる試験方法および試験装置を得る。 - 特許庁

Furthermore, the sum of voltages of the D+ data output signal and D- data output signal is tested, whereby the test can be performed in the same channel of the testing device, and a precise measurement can be thus performed, without being influenced by skew between channels.例文帳に追加

また、Ｄ＋データ出力信号とＤ−データ出力信号との電圧の和をテストすることで、テスト装置の同一チャンネルでのテストが可能となり、 チャンネル間のスキューの影響を受けることなく高精度での測定が可能となる。 - 特許庁

To securely carry out screening for a defective pixel by effectively avoiding deterioration in reliability even when a transistor with low breakdown voltage is used by applying a flat display device and a testing method for the flat display device to, for example, a liquid crystal display device having a driving circuit formed on an insulating substrate in one body.例文帳に追加

本発明は、フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法に関し、例えば絶縁基板上に駆動回路を一体に形成した液晶表示装置に適用して、耐圧の低いトランジスタを用いる場合であっても、信頼性の劣化を有効に回避して確実に欠陥画素に係るスクリーニングを実行することができるようにする。 - 特許庁

In the method of testing the separator for the storage device, the degree of deterioration of a test piece of the separator can be confirmed by dipping the test piece in a negative electrode-side electrolytic solution obtained by electrolyzing an electrolyte for storage device driving and a positive electrode-side electrolytic solution obtained by electrolyzing the electrolyte for storage device driving.例文帳に追加

本発明の蓄電デバイス用セパレータの試験方法によれば、蓄電デバイス駆動用電解液を電気分解して得られた負極側電気分解溶液および蓄電デバイス駆動用電解液を電気分解して得られた正極側電気分解溶液に、セパレータの試験片を浸漬することにより、該試験片の劣化度合いを確認できる。 - 特許庁

In a process of manufacturing a semiconductor device including an adjustment circuit for adjustment according to results of tests, the method includes testing the semiconductor device (at step S3), and forming a wiring pattern or a via pattern by electronic beam lithography with an electronic beam lithography device according to the results of the tests, and finishing the circuit pattern of the adjustment circuit (at step S4).例文帳に追加

試験結果に応じた調整を行う調整回路を含む半導体装置の製造途中において、当該半導体装置を試験し（ステップＳ３）、その試験結果に応じて電子ビーム描画装置による電子ビーム描画によって、配線パターンやビアパターンなどを形成することにより、調整回路の回路パターンを確定させる（ステップＳ４）。 - 特許庁

To provide a testing device for determination of a display defect including display irregularity and the like to be appeared on a display surface of a plane display device and a manufacturing method of the plane display device using this which are capable of making determination of display irregularity and the like precisely and reliably without being affected by skill level and some difference of operation conditions.例文帳に追加

平面表示装置の表示面に表れる表示ムラその他の表示欠陥を判定するのに用いる検査具、及びこれを用いる平面表示装置の製造方法において、表示ムラ等の判定を、熟練度や多少の作業条件の違いに左右されることなく、高い精度及び信頼度にて行うことができるものを提供する。 - 特許庁

The tester 100 comprises a power consumption measurement part 132 for measuring power consumption of the device 120 in testing the electrical characteristics, a surface temperature measurement element 106 for measuring surface temperature of the device 120, and a surface temperature controller 140 for controlling the temperature of the device 120 based on the surface temperature and the power consumption.例文帳に追加

試験装置１００は、電気的特性試験を行う際の被試験デバイス１２０の消費電力を測定する消費電力測定部１３２と、被試験デバイス１２０の表面温度を測定する表面温度測定素子１０６と、表面温度と消費電力とに基づき、被試験デバイス１２０の温度を制御する表面温度制御装置１４０と、を含む。 - 特許庁

The device for automatically testing stored urine 1 is so structured that the patient himself operates to use collected urine for measurement on the basis of an instruction from a device body, and sequentially guides a part in the device body 2 which is necessary to be operated by the patient by a means for appealing to eye such as illumination, lighting, or blinking.例文帳に追加

患者自身がその採取した尿を、装置本体からの指示に基づいて測定に供するための操作を行うように構成された自動蓄尿検査装置１において、前記装置本体２における患者の操作が必要な部位を、照明、点灯または点滅など患者の視覚に訴える手段によって順次案内するようにした。 - 特許庁

To provide wiring for connecting a semiconductor integrated circuit and an external circuit through a socket, and to provide an inspection device of the semiconductor integrated circuit for inspecting the connected state between the external connection terminals of the semiconductor integrated circuit connected to the external circuit in the inspection device of the semiconductor integrated device for executing the testing of an entire system including the external circuit.例文帳に追加

外部回路を含めたシステム全体のテストを実施する半導体集積回路の検査装置であって、ソケットを通して半導体集積回路と外部回路とを接続する配線と外部回路に接続される半導体集積回路の外部接続端子間の接続状態を検査できる半導体集積回路の検査装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor device test system includes a test handler testing the semiconductor device being assembled, a reader reading an identification code attached to the respective semiconductor device passed to the test handler as electronic data, and a computer storing test data collected by the test handler as electronic information corresponding to the identification code.例文帳に追加

組立完了の半導体装置をテストするテストハンドラ装置と、そのテストハンドラ装置に投入された上記半導体装置の個々に付された識別記号を電子データとして読み取る手段と、上記テストハンドラ装置の採取したテストデータを、上記識別記号と関連付けた電子情報として蓄えるコンピュータとを備える、半導体装置テストシステムを構築する。 - 特許庁

The remote maintenance system of dental chair unit is constituted such that the dental chair unit of a user, the testing device and the maintenance test conducting device of the remote maintenance center are connected to each other by computer network, and the maintenance test conducting device of the remote maintenance center and a maintenance technical expert conduct or support maintaining work of the chair unit to be maintained of the user site through the network.例文帳に追加

ユーザーの歯科用チェアユニット及びテスト装置と、遠隔保守センタの保守テスト処理装置との間をコンピュータネットワークで結び、ユーザサイトの保守対象チェアユニットの保守作業を、遠隔保守センタの保守テスト処理装置及び保守専門技術者が、ネットワークを介して実施あるいは支援する歯科用チェアユニットの遠隔保守システム。 - 特許庁

A test device 10 for testing an information processor using test data generated at random and test commands includes a program generating means which generates a test procedure made by mixing at random the test commands selected at random from the plurality of test commands and command patterns constituted by combining the plurality of test commands and creates a test program for testing the test procedure and the test data.例文帳に追加

ランダムに生成した試験データ及び試験命令を用いて情報処理装置の試験を行う試験装置１０であって、複数の試験命令からランダムに選択した試験命令と、試験命令を複数組み合わせて構成した命令列パタンとをランダムに混在させた試験手順を生成し、試験手順と試験データとから試験を行うための試験プログラムを生成するプログラム生成手段を備える。 - 特許庁

The device for testing the semiconductor which simultaneously measures a plurality of testing object devices includes: a system control unit which performs measurement, using a plurality of already inspected devices of which the results of measurement are known beforehand, while shifting the inspected devices in a plurality to be objects of measurement; and an execution result verifying means which verifies whether the results of measurement of the same already inspected devices are identical and outputs the results of verification.例文帳に追加

複数の被試験対象デバイスを同時に測定する半導体試験装置において、測定結果が予め分かっている複数の検査済みデバイスを用いて、測定対象となる複数の検査済みデバイスをずらして測定を行うシステム制御部と、同一の検査済みデバイスの測定結果が同じであるか否かを検証し検証結果を出力する実行結果検証手段とを備える。 - 特許庁

The testing device carrying out charge- or discharge testing for a sample includes first memory for sequentially overwriting oldest data with state information to execute loop recording if the state information acquired at given sampling time does not exceed a preset threshold value, and a second memory for sequentially recording state information if the state information exceeds a preset threshold value.例文帳に追加

試料に対して充電試験または放電試験を遂行する試験装置において、一定のサンプリングタイムで取得した状態情報が予め設定された閾値を超えない場合に、最も古いデータに対して状態情報を順次上書きしてループ記録する第一メモリと、状態情報が予め設定された閾値を超えた場合に、状態情報を順次記録する第二メモリとを備える試験装置とする。 - 特許庁

The game machine 10 is provided with a data output part capable of outputting data to an external testing device for testing a privilege history, and the data output part can output stoppage operation information for stopping pattern strings (85, 86 and 87) by specific patterns corresponding to a prescribed specific state when an internal state becomes the specific state by an operation signal corresponding to that a start operation part 61 is operated.例文帳に追加

遊技機１０は、特典履歴を試験する外部の試験装置にデータを出力可能なデータ出力部を備え、そのデータ出力部は始動操作部６１が操作されたのに相当する操作信号によって内部状態が所定の特定状態となったときに、図柄列（８５、８６、８７）を当該特定状態に応じた特定図柄で停止するための停止操作情報を出力可能となっている。 - 特許庁

For this tester provided are a step installing a testing board having a terminal array similar to the terminal array of a semiconductor device 20 to a socket 50, a production step for producing test signals with a driver 76, a detection step for detecting the test signal having reached the testing board and a setting step for setting the output timing of the test signals, based on the test signals detected in the detection step.例文帳に追加

半導体デバイス２０の端子配列と同様の端子配列を有する試験用ボード１０をソケット５０に装着するステップと、ドライバ７６により試験信号を生成する生成ステップと、試験用ボード１０に到達した試験信号を検出する検出ステップと、検出ステップにより検出した試験信号に基づいて試験信号の出力タイミングを設定する設定ステップとを備えた。 - 特許庁

This microorganism testing device includes a first detector that detects the fluorescence emitted from microorganisms flowing through a detection flow path when a microorganism detection unit included in a microorganism testing chip is irradiated with an exciting light, and converts the fluorescence to an electrical signal; and a second detector that detects scattered light, emitted similarly from the microorganisms flowing through the detection flow path, and converts the scattered light to an electrical signal.例文帳に追加

微生物検査チップを構成する微生物検出部に励起光を照射した場合に、検出用流路に流れる微生物から発生される蛍光を検出して電気信号に変換する第１の検出器と、同じく検出用流路に流れる微生物から発生される散乱光を検出して電気信号に変換する第２の検出器とを微生物検査装置に搭載する。 - 特許庁

To prevent the decrease of a data transfer speed depending upon a test data bus for single-DRAM-part evaluation and to suppress an increase in the number of pads for testing the single DRAM part as to the semiconductor storage device having an MPU and a secondary cache DRAM on one chip.例文帳に追加

ＭＰＵと２次キャッシュ用ＤＲＡＭとを１チップ化した半導体記憶装置において、ＤＲＡＭ部単体評価のためのテスト用データバスに基づくデータ転送速度の低下を防止し、ＤＲＡＭ部単体テスト用のパッド数の増加を抑制する。 - 特許庁