「testing device」に関連した英語例文の一覧と使い方(109ページ目) - Weblio英語例文検索

In the testing device, when the designated operation mode is a parallel test mode for performing the same test simultaneously in parallel by the plurality of test modules, the central processing unit controls the test operation of the plurality of test modules by executing one test process determined beforehand.例文帳に追加

この試験装置において、中央処理装置は、指定された動作モードが、複数の試験モジュールにより同一の試験を同時に並行して行わせる並行試験モードである場合には、予め定められた一の試験用プロセスを実行することより複数の試験モジュールにおける試験動作を制御する。 - 特許庁

In this semiconductor testing device capable of measuring plural semiconductor devices concurrently, a software executed on a tester CPU executes an IN command for providing an acceptance/rejection determination result after finish of a test during the test to provide the determination result of a DUT unit from a comparator 10.例文帳に追加

複数の半導体デバイスを同時に測定可能な半導体試験装置において、テスタＣＰＵ上で実行されるソフトウェアが、試験終了後に合否判定結果を取得するためのＩＮ命令を、試験中に実行することによってコンパレータ部１０からＤＵＴ単位の合否判定結果を取得する。 - 特許庁

The device and method for testing the integrated circuit comprised of at least two circuit parts operated by at least two different clock signals at normal operation are provided, and the circuit operated by the plurality of clock signals is tested for a minimum time by minimum test vectors.例文帳に追加

通常動作において、少なくとも２つの異なるクロック信号によって動作する少なくとも２つの回路部分からなる集積回路をテストするための装置および方法を提供し、さらに、複数のクロック信号によって動作する回路を、最小限の時間で、かつ、最小限のテストベクトルによってテストする。 - 特許庁

This semiconductor device and its testing method are equipped with an N-channel type MOSFET 11 and its protection diode 12, and have a switching circuit SW-1 for validating the protection diode 12 by being switched on by fusing of a fuse 2 between the N-channel type MOSFET 11 and the protection diode 12.例文帳に追加

本発明の半導体装置およびそのテスト方法は、Ｎチャネル型ＭＯＳＦＥＴ１１とその保護ダイオード１２とを備え、Ｎチャネル型ＭＯＳＦＥＴ１１と保護ダイオード１２との間に、ヒューズ２の溶断によってスイッチをオンさせて保護ダイオード１２を有効にするスイッチ回路ＳＷ−１を有する。 - 特許庁

For a semiconductor device having a plurality of analog input terminals AIN0 and AIN1, which have internal analog switches 11 and 12, characteristic testing of each analog input terminal switched by the analog switches 11 and 12 is conducted by simultaneously switching on the analog switches 11 and 12.例文帳に追加

複数のアナログ入力端子ＡＩＮ０、ＡＩＮ１を持つ半導体装置において、アナログ入力端子ＡＩＮ０、ＡＩＮ１は内部アナログスイッチ１１，１２を有し、前記アナログスイッチ１１，１２により切り替えられている各アナログ入力端子の特性テストを、そのアナログスイッチ１１，１２を２個同時にオンさせて行う。 - 特許庁

To provide an indoor-outdoor dual purpose load moving testing device capable of being conveyed to a measurement field by being equipped with only a necessary minimum mechanism and being miniaturized, and executing also an outdoor test by being equipped with a temperature providing means for setting and keeping a sample piece part at a desired temperature.例文帳に追加

必要最低限の機構のみを備え、装置を小型化することにより測定現場への搬送を可能にし、且つ、供試体部分を所望の温度に設定、保持するための温度供給手段を備えることにより屋外での試験も実行可能な、屋内外兼用の荷重移動試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fatigue testing device which vibrates a sample to detect presence or absence of a fatigue failure such as a crack in the sample and is capable of detecting occurrence of the crack in the sample without removing the sample even when the sample stops sympathetic vibration before reaching a prescribed vibration cycle.例文帳に追加

供試物におけるクラック等の疲労破壊の有無を検査するために供試物を振動させる疲労試験装置において、所定の振動サイクルに達する前に供試物が共振しなくなった場合に、供試物を取り外すことなく、供試物におけるクラック等の発生を検出することができるようにする。 - 特許庁

To realize a testing device for a network service system that prevents simulating tools from being asynchronous not to hold results of business transactions in logs etc., separately by kinds of the simulating tools, but to systematically rearrange a time base and business multiplicity by processing response results together.例文帳に追加

擬似ツール間の同期のズレを防止し、擬似ツールで投入した業務トランザクションの結果についても擬似ツールの種類ごとにバラバラにログ等で保持するのではなく、一括した応答結果の処理により時間軸、業務多重度を系統的に整理することを可能とするネットワークサービスシステムの試験装置を実現する。 - 特許庁

The testing equipment to be attached includes a safety device comprising a shell-like body which surrounds the test container during a test installed on a body along with the body to intercept the approach of the measuring person and is subjected to opening operation after the interruption and completion of the test to move to permit the approach of the measuring person.例文帳に追加

取り付けられる試験機器は、本体上に設置された試験中の試験容器を本体とともに囲繞し測定者の接近を遮断するとともに、試験中断及び試験終了後に開動作して移動し測定者の接近を許容する殻状体からなる安全装置を含む。 - 特許庁

In the torsion testing device 1, since both ends of the circuit board 9 are sandwiched, even a flexible printed board can be held properly, and even if the circuit board 9 is shrunk by torsion, the second gripping part 21b is slid and moved, to thereby enable the torsion fatigue test to be performed without being influenced by shrinkage.例文帳に追加

ねじり試験装置１では、回路基板９の両端部が挟持されるため、フレキシブルプリント基板であっても適切に保持することができ、ねじりにより回路基板９が縮んでも第２把持部２１ｂがスライド移動して縮みの影響を受けることなくねじり疲労試験を行うことができる。 - 特許庁

The blood clinical testing device is mainly constituted of both a transferring means (1) to transfer a large number of reaction containers (C) housing blood or blood components as specimens and reagents in a predetermined direction, and optical equipment (2) to measure the state of reaction between the specimens and reagents in the reaction containers (C) by the change of light.例文帳に追加

血液の臨床検査装置は、検体としての血液または血液成分ならびに試薬が収容された多数の反応容器（Ｃ）を所定方向へ搬送する搬送手段（１）と、反応容器（Ｃ）内の検体と試薬の反応状態を光の変化によって測定する光学機器（２）とから主として構成される。 - 特許庁

A fluidity testing device 1 comprises a molten metal port 11 through which a molten metal is injected, a flowing pathway 12 through which the injected molten metal flows, a standard pressure port 13 provided in the flowing pathway 12, and at least one pressure port for measurement 14 provided in the flowing pathway 12 downstream from the standard pressure port 13.例文帳に追加

流動性試験器１は、溶融金属を注入するための湯口１１と、注入された溶融金属が流れる流路１２と、流路１２に設けられた基準圧力ポート１３と、流路１２の基準圧力ポート１３よりも下流側に少なくとも一つ設けられた測定用圧力ポート１４とを有する。 - 特許庁

To provide a chuck mechanism of a discharge and charge testing device for a thin type secondary cell that reduces conventional troublesome operation, namely, operation to store and fix many thin type secondary cells in a storage container etc., and also securely chuck the thin type secondary cells (electrodes).例文帳に追加

本発明は薄型二次電池用充放電試験装置のチャック機構に係り、従来の煩わしい作業、即ち、例えば多数の薄型二次電池を収納容器等に収納、固定するといった作業を軽減し、併せて薄型二次電池（電極）に対する確実なチャックを可能としたチャック機構を提供することを目的とする。 - 特許庁

The semiconductor testing device 10 tests each D/A conversion circuit and A/D conversion circuit of the semiconductor integrated circuits to be measured 20, 30, 40, 50, based on digital signals outputted from each A/D conversion circuit of the semiconductor integrated circuits to be measured 20, 30, 40, 50, to thereby discriminated between a quality product and a defective product.例文帳に追加

半導体試験装置１０は、被測定半導体集積回路２０，３０，４０，５０それぞれのＡ／Ｄ変換回路から出力されたデジタル信号に基づき、被測定半導体集積回路２０，３０，４０，５０それぞれのＤ／Ａ変換回路とＡ／Ｄ変換回路とをテストし、良品、不良品を判定する。 - 特許庁

This fatigue tester for testing fatigue of a test body includes an X-ray residual stress measuring device capable of measuring a residual stress of a portion to be measured in the test body, and a stress concentration gage for measuring a stress amplitude of the portion to be measured in the test body.例文帳に追加

試験体の疲労を試験する疲労試験装置であって、試験体における被測定部位の残留応力を測定するＸ線残留応力測定装置と、試験体における被測定部位の応力振幅を測定する応力集中ゲージを備えることを特徴とする、疲労試験機が提供される。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a timing generator capable of reducing remarkably a circuit scale for realizing generation functions for both a tester channel required to generate a test pattern by a unit of a test rate, and a tester channel required to generate a test pattern having a unit of prescribed integral-times of the test rate.例文帳に追加

テストレート単位に試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルと、前記テストレートの所定整数倍単位の試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルとの両方の発生機能を実現するための回路規模を大幅に低減可能とするタイミング発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The nuclear magnetic resonance testing apparatus 10 is also provided with: an input device 330 for designating a reference area of the cross section image of a reference body 200 and the concerned area of the object to be tested in the image; and a CPU 300 for calculating the ratio of the MRI signal intensity of the concerned area to the MRI signal intensity of the reference area.例文帳に追加

又、核磁気共鳴検査装置１０は画像の中で、基準体２００の断面画像の基準領域と、前記検査対象の関心領域を指定する入力装置３３０と、基準領域のＭＲＩ信号強度に対する関心領域のＭＲＩ信号強度の比を演算するＣＰＵ３００を備える。 - 特許庁

To provide a power generation testing device for a cell of a solid oxide fuel battery capable of surely sealing between an air chamber as well as a fuel chamber and the cell of the solid oxide fuel battery and repetitively using the air chamber and the fuel chamber.例文帳に追加

本発明の目的は、空気用チャンバー及び燃料用チャンバーと固体酸化物形燃料電池用セルとの間のシールをより確実に行うと共に、空気用チャンバー及び燃料用チャンバーの繰り返し使用を可能とする固体酸化物形燃料電池用セルの発電試験装置を提供することにある。 - 特許庁

This bearing testing device 1 comprises the rotating shaft 2, a pair of test bearings 4, 5 for supporting rotatably the middle part 3 in the axial direction S of the rotating shaft 2, and first and second support bearings 8, 9 for supporting rotatably first and second parts 6, 7 in the axial direction S of the rotating shaft 2 respectively.例文帳に追加

軸受試験装置１は、回転軸２と、回転軸２の軸方向Ｓの中間部３を回転自在に支持する一対の供試軸受４，５と、回転軸２の軸方向Ｓの第１および第２の部分６，７をそれぞれ回転自在に支持する第１および第２の支持軸受８，９とを備えている。 - 特許庁

The sealability testing device 2 is constituted of a first flange support base 3 for supporting a first flange member F1 on the right-end side of a bonded hard vinyl chloride pipe 1, a second flange support base 4 for supporting a second flange member F2 on the left-end side, and a pipe support base 5 for supporting the bonded hard vinyl chloride pipe 1.例文帳に追加

密封性試験装置２は、接合硬質塩化ビニル配管１の右端側の第１のフランジ部材Ｆ１を支持する第１のフランジ支持台３と、左端側の第２のフランジ部材Ｆ２を支持する第２のフランジ支持台４と、接合硬質塩化ビニル配管１を支持する配管支持台５とから構成されている。 - 特許庁

In a fine leak testing part 1, a test body is heated by a heating furnace 3 of a He bombing device 5, cooled spontaneously in a helium atmosphere pressurized in a pressure chamber 4, and is subjected to He bombing; and then He gas which leaked into a measuring chamber by heating is measured by a He leak detector 6, to thereby detect the fine leak.例文帳に追加

ファインリーク試験部１において、被試験体をＨｅボンビング装置５の加熱炉３で加熱した後、加圧チャンバ４で加圧下のヘリウム雰囲気内で自然冷却してＨｅボンビングした後、Ｈｅリーク検出器６で加熱により測定チャンバに漏出したＨｅガスを測定し、ファインリークを検出する。 - 特許庁

In this testing device, the bias voltage B to be applied to the test object 2 is adjusted in the state where a constant voltage (signal level) A_0 is inputted to the object 2 from a signal generation part 3 to control the output voltage D of the subject to a prescribed intended range, and the test to the object 2 is then executed.例文帳に追加

信号発生部３から一定電圧（信号レベル）Ａ_Oを試験対象２へ入力した状態で、この試験対象２に印加するバイアス電圧Ｂを調整してこの試験対象の出力電圧Ｄを所定の目標範囲に制御したのち、試験対象２に対する試験を実施する試験装置１１である。 - 特許庁

One point or several points on the curve are pointed by a finger, a mouse or other pointing device to display not only the testing force of the points on a display part 30b but also a displacement value on a display part 30d and these numerical values are stored in a measuring control unit 20 by pushing an OK button 30e.例文帳に追加

そして、この曲線上の１点あるいは数点を指あるいはマウスその他のポインティングデバイスでポイントすることにより、その点の試験力が表示部３０ｂに、変位値が表示部３０ｄに表示され、ＯＫボタン３０ｅを押すことによりこれらの数値が計測制御装置２０に記憶される。 - 特許庁

To provide a diffusion testing device, enabling casting surely even with 1 mm or less of sample diameter, reduced in the possibility of contamination in a sample by an impurity in a gas, not affected by Marangoni convection caused by a free surface, and precluded from the possibility that the gas infiltrates into a capillary even in a gravity-free or very low gravity environment.例文帳に追加

試料径が１ｍｍ程度以下でも確実に鋳込むことができ、ガス中の不純物による試料の汚染のおそれが少なく、自由表面によるマランゴニ対流の影響がなく、無重力又は微小重力環境下でも、ガスがキャピラリー内に入り込むおそれがない拡散試験装置を提供する。 - 特許庁

The problem to be solved is solved by the staining evaluation device of the present invention having the optical waveguide substrate 1 installed to contact closely with the testing object 3, a light source for making the light 2 get incident into the one end side of the optical waveguide substrate 1, and a detector for detecting the light 2 emitted from the other end side of the optical waveguide substrate 1.例文帳に追加

また、試験体３を密着して設置する光導波路基板１と、光導波路基板１の一端側に光２を入射する光源と、光導波路基板１の他端側から出射される光２を検出する検出器と、を有する汚染性評価装置により上記課題を解決する。 - 特許庁

When at least one out of a sensor holding portion and a load portion is moved with means of movement of the load testing device, a speed up to a separated upper side portion and a load sensor approaching is made faster than a speed up to the upper side portion having approached and the load sensor coming in touch and the load portion being supported by the load sensor.例文帳に追加

荷重試験装置の移動手段によってセンサ保持部と負荷部との少なくとも一方を移動させる際に、離間した上側部と荷重センサとが近接するまでの速度が、近接した上側部と荷重センサが当接し負荷部が荷重センサに支持されるまでの速度よりも大きくなるようにする。 - 特許庁

A device 10A for testing a semiconductor element includes an upper guide plate 20A, having a plurality of upper guide holes 22A; a lower guide plate 30A having a plurality of lower guide holes 32A; a plurality of vertical probe 40A, provided in the upper guide holes 22A and the lower guide holes 32A; and a temperature regulation module 50.例文帳に追加

半導体素子の試験装置１０Ａであって、複数の上部ガイド孔２２Ａを有する上部ガイド板２０Ａと、複数の下部ガイド孔３２Ａを有する下部ガイド板３０Ａと、上部ガイド孔２２Ａおよび下部ガイド孔３２Ａ内に設けられている複数本のバーチカル型探針４０Ａと、温度調整モジュール５０とを備えている。 - 特許庁

An optical scanning unit (1) for testing the visual integrity of cigarettes (3) is equipped with a linear CCD array camera (12) by which a cigarette (3) can be imaged along a scanning zone (6), also a system for illuminating the scanning zone (6), and a cleaning device (15) serving to keep the scanning zone (6) free of impurities.例文帳に追加

紙巻き煙草の（３）の視覚的完全性を検査する光学走査ユニット（１）が、走査ゾーン（６）に沿って紙巻き煙草（３）を撮影することが可能なリニアＣＣＤアレイカメラ（１２）と、この走査ゾーン（６）を照明するシステムと、不純物がない状態に走査ゾーン（６）を保つ働きをするクリーニング装置（１５）とを備えている。 - 特許庁

In this performance testing device 10, a fixing frame 12 and a guide frame 13 are erected vertically and oppositely in parallel at a prescribed interval on a horizontal base plate 11, and a clamp means 14 of one of upper and lower face plates 5a, 5b of the sample piece 1 is installed on an internal surface upper part of the fixing frame 12.例文帳に追加

性能試験装置１０は、水平なベースプレート１１上に、所定の間隔を隔てて固定フレーム１２とガイドフレーム１３とが平行で、かつ相対向して鉛直に立設され、固定フレーム１２の内壁面上部には、供試体１の上下面板５ａ，５ｂの一方のクランプ手段１４が設けてある。 - 特許庁

To provide a tire damage testing device capable of performing a highly accurate damage test having little dispersion when specifying a damaged spot of a test tire by dropping an impact block equipped with a heavy bob to abut surely on a specific spot of a tire tread part from the tire side part side of the test tire.例文帳に追加

試験タイヤのタイヤサイド部側からタイヤトレッド部の特定箇所に重錘を備えた衝撃ブロックを落下させて確実に当接させることで、試験タイヤの損傷箇所の特定する場合にバラツキが少なく、精度の高い損傷試験を行うことが出来るタイヤ損傷試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This activating device for hydrogen storage alloys has hydrogen piping 3 communicating plural tanks 1 and 2 charged with hydrogen storage alloys, a hydrogen compressor 4 provided on the hydrogen piping 3, testing medium piping 5 connecting the tanks 1 and 2 each other so as to be capable of heat-exchanging and a heating medium pump 6 provided on the heating medium piping 5.例文帳に追加

水素吸蔵合金を入れた複数のタンク１、２を連通する水素配管３および水素配管３に設けられた水素コンプレッサ４と、タンク１、２同士を熱交換可能に接続する熱媒配管５および熱媒配管５に設けられた熱媒ポンプ６と、を有する水素吸蔵合金の活性化装置。 - 特許庁

The screw characteristic testing device is made portable by providing a hydraulic generation means (hydraulic pump 3), a load-generating means (a cylinder 21 and a piston 22) given to amplify oil pressure from the hydraulic generation means 3 on a test screw (bolt 4), and a load display means (oil pressure gage 4) for displaying load given to the screw 9 on the same substrate 10.例文帳に追加

油圧発生手段（油圧ポンプ３）と、試験用ねじ（ボルト４）に油圧発生手段３からの油圧を増幅して付与する荷重発生手段（シリンダ２１，ピストン２２）と、ねじ９に付与された荷重を表示する荷重表示手段（油圧計４）とを同一の基板１０上に設けて持ち運び可能とした。 - 特許庁

The module for testing comprises a test substrate having a bonding pad; the semiconductor device arranged on the test substrate; an anisotropic conductive sheet having conductivity only in the thickness direction in contact with the electrode of the semiconductor device; and a metal wire whose one end is connected to the bonding pad and whose the other end is connected to the anisotropic conductive sheet in a region for covering the electrode.例文帳に追加

ボンディングパッドを有する試験基板と、前記試験基板の上に配置された半導体装置と、前記半導体装置の電極に接触して厚さ方向にのみ導電性を有する異方性導電シートと、前記ボンディングパッドに一端が接続され、前記電極を覆う領域において前記異方性導電シートと他端が接続された金属ワイヤとを有することを特徴とする試験用モジュールによって解決する。 - 特許庁

The quality determination by the testing device 3 allows the pickup device to pick up only good quality chip components 6.例文帳に追加

外周縁部に吸着ヘッド１７が設けられ、垂直方向に揺動して、チップ部品集合体５からチップ部品６をピックアップすると共に、間欠回転しチップ部品６を反転させる回転面板１４を有するピックアップ反転機構２と、チップ部品６の良否を判定する検査装置３と、ピックアップしたチップ部品６を次工程に搬送する搬送手段４とを具備してなり、検査装置３の良否判定の結果、良品のチップ部品６だけをピックアップするものとした。 - 特許庁

At that time, conduction is made to the semiconductor device 5 being fitted to the socket 3, the semiconductor device 5 where the abnormality of the conduction has been confirmed is removed from the substrate 4 for testing.例文帳に追加

半導体装置５を高温雰囲気内で通電し所定時間保持するバーンイン試験のために絶縁基板１上に多数のソケット３を配列した試験用基板４へ半導体装置５を供給する際に上記ソケット３に装着された半導体装置５に通電し通電異常が確認された半導体装置５を試験用基板４から取り外すようにしたことを特徴とするバーンイン試験用基板への半導体装置の供給方法。 - 特許庁

To provide a compact X-ray generating device for improving durability of electron emitting part through restraint of its temperature rise and extracting a large dose of X-rays, applicable for medical fields such as intravascular radiation therapy, cancer therapy, and medical diagnosis, and industrial and research fields such as nondestructive testing.例文帳に追加

電子放射部の温度上昇を抑制して電子放射部の耐久性を向上させ安定かつ大線量のＸ線を取り出すことが可能な、血管内放射線治療用、がん治療用、医療診断等の医療分野及び非破壊検査などの工業用、研究用分野にも適用できる小型Ｘ線発生装置の提供。 - 特許庁

This tackiness testing device 10A for prepreg to be used is equipped with a pedestal 12 where a sheet-shaped prepreg is placed, an indenter 17 for pressure-contact applied vertically to the placed prepreg, and a load measuring means for measuring the load required for starting relative movement when the prepreg and the pedestal 12 are relatively moved mutually in the contact state.例文帳に追加

シート状のプリプレグが載置される台座１２と、載置された前記プリプレグに対して垂直に圧接する圧子１７と、前記プリプレグと台座１２とが接触したまま互いに相対移動する際に、該相対移動の開始に要する荷重を測定する荷重測定手段とを具備するプリプレグの粘着性試験装置１０Ａを使用する。 - 特許庁

The device for testing the automatic ticket handling system that uses the contactless IC card includes a robot 7 that exposes the contactless IC card 9 to the wave-emission area of an automatic ticket gate 3, and a control means 1 for taking in data on the reaction result of the automatic ticket gate when the contactless IC card is exposed and for controlling the robot.例文帳に追加

非接触ＩＣカードを用いる自動改札処理システムの試験装置において、自動改札機３の電波放射エリアに非接触ＩＣカード９をかざすロボット７と、非接触ＩＣカードをかざしたときの自動改札機の反応結果のデータを取り込むとともに、ロボットを制御する制御手段１とを備えるようにしたものである。 - 特許庁

To provide a method and device for testing fire resistance of a lining segment and a method of designing the lining segment capable of improving reliability to a fire of the lining segment by performing a test in a state more similar to the actual state, and performing economical design based on a result acquired from such a test.例文帳に追加

より現実に近い状態で試験を行なうことにより、覆工セグメントの火災に対する信頼性を向上させることが可能で、且つこのような試験で得られた結果に基づき経済的な設計を可能にした覆工セグメントの耐火性試験方法及び耐火性試験装置並びに覆工セグメントの設計方法を提供する。 - 特許庁

In the electron beam type testing device, the deflection control means 2 to control the electrostatic deflector has a deflection waveform forming means 21 to form a deflection control signal, and a deflection signal output means 20 of applying different voltages to respective stages of the electrostatic deflector by amplifying formed control signals and by branching these amplified control signals.例文帳に追加

電子ビーム式検査装置において、静電偏向器を制御する偏向制御手段２は、偏向制御信号を生成する偏向波形生成手段２１と、生成された制御信号を増幅し、この増幅された制御信号を分岐して静電偏向器の各段に違う電圧を印加する偏向信号出力手段２０とを有する。 - 特許庁

To provide a part transport device capable of transfer-loading parts at high speed from a part feed passage to a rotor without a complicated transfer loading mechanism and easily testing the part in the course of transporting the part by the rotor.例文帳に追加

複雑な移載機構を用いることなく、部品供給路から回転体に対して高速に部品を移載することができるとともに回転体によって部品を搬送している途中でも容易に部品の検査を行うことができる部品搬送装置を提供し、また、このような搬送装置を簡単に且つ低コストで製造することができる構造を実現する。 - 特許庁

The durability testing device 1 is provided with a light source 3 emitting light, a dichroic mirror 9 disposed so as to cut light having ≥500 nm wavelength of light emitted from the light source 3 and a cut filter 5 cutting light having ≤380 nm wavelength of light emitted from the dichroic mirror 9.例文帳に追加

本発明の耐久性試験装置１は、光を出射する光源３と、光源３から出射された光のうち、５００ｎｍ以上の波長の光をカットするよう配置されたダイクロイックミラー９と、ダイクロイックミラー９から出射された光のうち、３８０ｎｍ以下の波長の光をカットするカットフィルタ５とを備えている点に特徴を有する。 - 特許庁

An invention related to a claim 2 includes a buffer means which, relating to the collision testing device described in the claim 1, is arranged in front of the truck and at the projection barrier and, when the collision means operates, deforms by such amount as the frame of a vehicle where the cab is mounted deforms, to cause the cab to collide with the projection barrier.例文帳に追加

そして、請求項２に係る発明は、請求項１に記載の衝突試験装置に於て、前記台車の前方と前記突起バリアとに配置され、前記衝突手段の作動時に、前記キャブが搭載される車両のフレームの変形量だけ変形して前記突起バリアに前記キャブを衝突させる緩衝手段を有することを特徴とする。 - 特許庁

In this testing device using the test plate 10 where many storage recessed parts 11 for storing the sample liquid 1 are provided, the pair of electrodes 12, 13 extending to the inside in the storage recessed part on the test plate are provided, and a pair of lead parts 14, 15 corresponding to the test plate are provided to be connected to the pair of electrodes provided in the storage recessed part.例文帳に追加

サンプル液１を収容させる収容凹部11が多数設けられた試験用プレート10を用いた試験用装置において、この試験用プレートにおける収容凹部にその内部に伸びた一対の電極12，13を設けると共に、この収容凹部に設けられた一対の電極に接続させるようにして、試験用プレートに対応する一対のリード部14，15を設けた。 - 特許庁

The excreta testing device for determining the constituent of excreta of a user, obtained by defecation in a toilet comprises display panels 11 and 12 and a loudspeaker 13 for reporting the obtained determination value of the excreta constituent and additional information corresponding to the determination value together, thus allowing the user to easily know the meaning of the determination result.例文帳に追加

トイレ内で用便行為により得られた使用者の排泄物の成分を測定する排泄物測定装置において、得られた排泄物成分の測定値と測定値に対応する付加情報を合わせて使用者に報知する表示パネル１１，１２やスピーカー１３を備えたので、使用者が測定結果の意味を容易に知ることができる。 - 特許庁