pin electronicsとは 意味・読み方・使い方

Consequently, a final-stage relay between the pin electronics 70 and performance board 30 can be omitted.例文帳に追加

これによりピンエレクトロニクス７０とパフォーマンスボード３０との間の最終段リレーを省略できる。 - 特許庁

To allow precise calibration even in pin electronics of only a driver.例文帳に追加

ドライバのみのピンエレクトロニクスでも精度よく校正できるＩＣテスタ校正装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of reducing a processing time for collecting measurement data of all pin electronics cards into a control unit, without increasing the memory area in which the measurement data of the pin electronics cards are stored.例文帳に追加

ピンエレクトロニクスカードの測定データを格納するメモリ領域を増大させることなく制御ユニットに全ピンエレクトロニクスカードの測定データを収集するための処理時間を短縮できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

This IC test device for testing an object to be tested is provided with a plurality of pin electronics cards for giving and receiving signals to and from the tested object, and a daisy chain signal conductor for daisy-chain connecting between the pin electronics cards, thereby performing data transmission.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣ試験装置において、被試験対象と信号の授受を行う複数のピンエレクトロニクスカードと、このピンエレクトロニクスカード間をディジチェーン接続するディジチェーン信号線とを設け、データ伝送を行うことを特徴とするものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can intuitively obtain position information of a pin of a pin electronics card allocated to each pin of a DUT with a simple operation procedure.例文帳に追加

簡単な操作手順で、ＤＵＴの各ピンに割り付けられたピンエレクトロニクスカードのピンの位置情報を直感的に把握できる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

The semiconductor inspecting apparatus comprises at least a driver and a comparator and is provided with a plurality of pin electronics for transmitting and receiving signals to and from the objects to be inspected, at least one cable for receiving the input of the output of the objects to be measured, and a time measuring part for receiving the input of the comparator output of the pin electronics or the output of the cable and measuring time.例文帳に追加

本装置は、ドライバ、コンパレータを少なくとも有し、被検査対象と信号の授受を行う複数のピンエレクトロニクスと、被試験対象の出力を入力する少なくとも１つのケーブルと、ピンエレクトロニクスのコンパレータ出力またはケーブルの出力を入力し、時間測定を行う時間測定部とを設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus is configured such that measurement data of a large number of objects to be measured are taken in the control unit 12 through a large number of pin electronics cards 11 which are controlled by the control unit 12, wherein each pin electronics card 11 is configured to directly write corresponding measurement data in the control unit 12.例文帳に追加

制御ユニット１２により制御される多数のピンエレクトロニクスカード１１を介して、多数の被測定対象の測定データを前記制御ユニット１２に取り込むように構成された半導体試験装置において、前記各ピンエレクトロニクスカード１１は、それぞれの測定データを前記制御ユニット１２に直接書き込む。 - 特許庁

Mechanical relays switching circuits in pin electronics 70 constituting the output part of the semiconductor test device are all composed of semiconductor relays 75.例文帳に追加

半導体試験装置の出力部を構成するピンエレクトロニクス７０内の回路の切換えを行うメカリレーを全て半導体リレー７５で構成する。 - 特許庁