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testing systemの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1356件
MULTIAXIAL VIBRATION TESTING SYSTEM例文帳に追加
多軸振動試験装置 - 特許庁
SYSTEM FOR AUTOMATICALLY TESTING SOFTWARE例文帳に追加
ソフトウエア自動テストシステム - 特許庁
MOBILE PHONE TESTING SYSTEM例文帳に追加
携帯電話試験システム - 特許庁
SYSTEM FOR GAME MACHINE TESTING例文帳に追加
遊技機試験用システム - 特許庁
LOAD TESTING SYSTEM, LOAD TESTING APPARATUS, AND LOAD TESTING METHOD例文帳に追加
負荷試験システム、負荷試験装置および負荷試験方法 - 特許庁
TESTING SYSTEM OF PROTECTION RELAY SYSTEM例文帳に追加
保護継電装置の試験システム - 特許庁
ACTIVITY EVALUATION TESTING SYSTEM例文帳に追加
活性評価試験装置 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT TESTING SYSTEM例文帳に追加
集積回路試験システム - 特許庁
VOLTAGE FLUCTUATION TESTING SYSTEM例文帳に追加
電圧変動試験システム - 特許庁
CIRCUIT BOARD TESTING SYSTEM例文帳に追加
回路基板の試験装置 - 特許庁
SYSTEM FOR TESTING SERVICE COOPERATION例文帳に追加
サービス連携試験システム - 特許庁
TIRE UNIFORMITY TESTING SYSTEM例文帳に追加
タイヤ均等性試験装置 - 特許庁
TESTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置テストシステム - 特許庁
TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加
試験システム、試験方法、及び試験プログラム - 特許庁
TESTING SYSTEM FOR SELF-TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加
回路基板自己試験のための試験システム - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING SYSTEM例文帳に追加
半導体装置試験システム - 特許庁
ELECTROMAGNETIC WAVE LEAK TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加
電磁波漏洩試験システム及び試験方法 - 特許庁
VISUAL ACUITY TESTING DEVICE AND VISUAL ACUITY TESTING SYSTEM例文帳に追加
視力検査装置及び視力検査システム - 特許庁
DEMENTIA TESTING APPARATUS, DEMENTIA TESTING SERVER, DEMENTIA TESTING CLIENT, AND DEMENTIA TESTING SYSTEM例文帳に追加
痴呆検査装置、痴呆検査サーバ、痴呆検査クライアント、および痴呆検査システム - 特許庁
SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING SYSTEM例文帳に追加
加入者回線試験システム - 特許庁
SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイス試験システム - 特許庁
SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF TESTING例文帳に追加
半導体装置のテストシステムおよびテスト方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR STORAGE SYSTEM例文帳に追加
ストレージシステムの試験装置及び同試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置の試験システム及び試験方法 - 特許庁
PART-TESTING SYSTEM AND COMMUNICATION METHOD OF PART- TESTING SYSTEM例文帳に追加
部品試験システムおよび部品試験システムの通信方法 - 特許庁
DATA TRANSMISSION SYSTEM TESTING DEVICE例文帳に追加
データ伝送システム試験装置 - 特許庁
OPTICAL LINE TESTING AND MONITORING SYSTEM例文帳に追加
光線路試験監視システム - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TESTING SYSTEM, AND MANUFACTURING APPARATUS例文帳に追加
半導体テスト装置、テストシステムおよび製造装置 - 特許庁
TESTING METHOD, TESTING DEVICE AND TESTING SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイスの検査方法及び検査装置並びに検査システム - 特許庁
PERFORMANCE TESTING SYSTEM FOR CLIENT/SERVER SYSTEM例文帳に追加
クライアントサーバシステムの性能試験方式 - 特許庁
SYSTEM FOR TESTING AND MONITORING OPTICAL LINE例文帳に追加
光線路試験監視システム - 特許庁
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