入出力テストの英語

半導体テストシステムのテスターのデータ入出力ピンの数よりもテストすべき半導体チップのデータ入出力パッド（または、ピン）の数が多い場合にもテストが可能な半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor test system capable of testing even in the case that the number of data input/output pads (or pins) of semiconductor chip to be tested is larger than the number of data input/output pins of tester of the semiconductor test system, and test method. - 特許庁

そして、そのテストモードで制御ユニット１０の信号入出力機能の良否を検査する。例文帳に追加

In the test mode, whether or not a signal input/output function of the control unit 10 is good is inspected. - 特許庁

入出力バッファ回路４１は、出力バッファ４４とテストのためのスイッチ４２，４３を有する。例文帳に追加

An input buffer circuit 41 has an output buffer 44 and switches 42, 43 for a test. - 特許庁

短時間で自己テストを実行可能な入出力回路及び半導体集積回路を提供する。例文帳に追加

To provide an input and output circuit and a semiconductor integrated circuit capable of executing a self-test in a short time. - 特許庁

入出力切替えタイミングが測定する集積回路の入出力端子の入出力切替えタイミングに合うようにテストパタンを修正する。例文帳に追加

To modify a test pattern so as to be in accord with input-output switching timing of an input-output terminal of an integrated circuit measured by an input-output switch timer. - 特許庁

テストラッチ回路１２は、データ入出力バッファ９を介して入力されたテスト用のデータパターンを一時的に保持する。例文帳に追加

The test latch circuit 12 holds temporarily a data pattern for test inputted through a data input/output buffer 9. - 特許庁

その作成された該入力関係情報又は変更後入出力関係情報を用いて、テストケース又は変更後テストケースを作成する。例文帳に追加

By using the created input-related information or the input/output relationship information after the change, the test case or the test case after the change is created. - 特許庁

テスト装置の限定された入出力チャネルを利用しても、半導体メモリ素子の並列テスト数を拡張できるようにすることにある。例文帳に追加

To increase the number of parallel tests of semiconductor memory devices even in utilizing limited input/output channels of a test device. - 特許庁