めっき試験の英語

均一なめっき膜を形成することができる電気めっき試験器の陰極カートリッジを提供する。例文帳に追加

To provide a cathode cartridge of an electroplating testing apparatus capable of forming a uniform plating film. - 特許庁

任意のめっき品のめっきタレの発生を最小限に抑制するめっき条件をめっき操業前に正確にかつ明瞭に把握することができるめっきタレ試験方法、およびそれに用いる試験片を提供する。例文帳に追加

To provide a drip-testing method which can surely and clearly grasp a galvanizing condition for restraining the development of galvanized drip in an arbitary galvanized product to the minimum before galvanizing operation, and a test piece used for this testing. - 特許庁

次いで、メッキ層３を形成した金属試験片２を樹脂埋め込み・研磨工程により樹脂４に埋め込んだ金属試験片３をうる。例文帳に追加

Next, the metal test piece 2 in which the plating layer 3 is formed is embedded in resin 4 to obtain a metal test piece 2 in a resin embedding and grinding process. - 特許庁

この場合、金属試験片２の端部の弛れを防止するためにメッキ層３の硬度は金属試験片３の硬度と近しいものを選択する。例文帳に追加

In this case, the hardness of the plating layer 3 similar to that of the metal test piece 2 is selected for preventing the end parts of the metal test piece 2 from coming off. - 特許庁

この場合、金属試験片２の端部の弛れを防止するために、メッキ層３の硬度は金属試験片３の硬度と近しいものを選択する。例文帳に追加

In this case, the hardness of the plating layer 3 similar to that of the metal test piece 2 is selected for preventing the end parts of the metal test piece 2 from coming off. - 特許庁

被めっき物の側面とめっき面の周面をめっき液から遮断することができる電気めっき試験器の陰極カートリッジを提供する。例文帳に追加

To provide a cathode cartridge in an electric plating tester with which the side surfaces of a substrate and the peripheral surface of the plating surface can be blocked from a plating liquid. - 特許庁

被めっき物の被めっき面以外の陰極部をめっき液から遮断することができる電気めっき試験器の陰極カートリッジを提供する。例文帳に追加

To provide a cathode cartridge of an electroplating tester which can screen a cathode part other than the surface of an object to be plated from a plating liquid. - 特許庁

前記導電性無電解めっき粉体は、５００時間のエージング試験後の電気抵抗が０．１Ω・ｃｍ以下であり、且つその抵抗変化率Ωｖ＝｜Ωａ−Ωｂ｜／Ωａ≦２０（但し、Ωａはエージング試験前の電気抵抗、Ωｂはエージング試験後の電気抵抗を示す。）であることが好ましい。例文帳に追加

In the conductive electroless plated powder, preferably, electric resistance after an aging test for 500 hr is ≤0.1 Ω cm, and the rate of change in the resistance Ωv= |Ωa-Ωb |/ Ωa≤20 (wherein, Ωa is the electric resistance before the aging test, and Ωb is the electric resistance after the aging test). - 特許庁