アルゴリズミックの英語

中継ボード１７の制御回路２３は、ドライバボード１６からのアルゴリズミックパターン４１を入力し、そのアルゴリズミックパターン４１が、あらかじめ設定された所定パターンと一致するか否かを判定する。例文帳に追加

A control circuit 23 of a relay board 17 inputs the algorithmic pattern 41 from the driver board 16, and determines whether the algorithmic pattern 41 is coincident with a prescribed pattern set beforehand. - 特許庁

ドライバボード１６は、被試験半導体装置に対応した規則的なテストパターンで構成されるアルゴリズミックパターン４１を出力する。例文帳に追加

A driver board 16 outputs an algorithmic pattern 41 constituted of the regular test pattern corresponding to a semiconductor device to be tested. - 特許庁

各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスのメモリに固有のアルゴリズミックパターンを発生するためのアルゴリズミックパターン発生（ＡＬＰＧ）モジュールを搭載し、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。例文帳に追加

To provide a low-cost semiconductor test system which is application- specific where various types of test devices are made into modules which are coupled in a plurality of numbers while an algorithmic pattern generating(ALPG) module is mounted for generating an algorithmic pattern specific to the memory of a device which is to be tested. - 特許庁

半導体試験装置であって、アルゴリズミックパターン発生器はアドレス発生部とスクランブラを有し、該スクランブラは複数のスクランブルメモリを有することを特徴とする。例文帳に追加

In the semiconductor testing device, an algorithmic pattern generator has an address generation part and a scrambler, which has a plurality of the scramble memory. - 特許庁

ピンセレクタ設定部１２は、アルゴリズミックシミュレータ２から時系列に取得される複数のデータをピン名情報設定部１１で選択されたデバイスピンと対応付けてピンセレクタの設定を行う。例文帳に追加

The pin selector setting part 12 relates a plurality of data obtained from an algorismic simulator 2 in a time series to a device pin selected by the pin name setting part 11 for setting the pin selector. - 特許庁

本発明の課題は、アルゴリズミックパターンの入力に基づいて、シーケンシャルパターンを自動生成するパターン生成装置及びパターン生成装置における制御方法を提供することである。例文帳に追加

To provide a pattern generation device automatically generating a sequential pattern based on input of an algorismic pattern and a control method therefore. - 特許庁