イオン化飛行時間質量分析の英語

マトリクス援助レーザー脱着／イオン化飛行時間型質量分析法による基板上の物質の解析方法例文帳に追加

METHOD FOR ANALYZING MATTER ON SUBSTRATE BY MATRIX ASSISTED LASER DESORPTION/IONIZATION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY - 特許庁

マトリクス援助レーザー脱着／イオン化飛行時間型質量分析法による核酸塩基配列の決定方法例文帳に追加

METHOD FOR DETERMINING BASE SEQUENCE OF NUCLEIC ACID BY MATRIX ASSISTED LASER DESORPTION / IONIZATION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY - 特許庁

質量分析装置６での飛行時間計測に同期して、サンプルガスのイオン化を、ランプ放電制御電源９のオフによって停止する。例文帳に追加

Ionization of a sample gas is stopped by turning off of a lamp discharge control power source 9, synchronized with the time-of-flight measurement in a time-of-flight type mass spectrometer 6. - 特許庁

その後、励起された目的分子のみがイオン化可能な強度のフェムト秒レーザーを照射することにより目的分子のみをイオン化し、飛行時間型質量分析装置で分析を行う。例文帳に追加

Thereafter, only the object molecule is ionized by irradiating a femtosecond laser having ionizable intensity of only the excited object molecule, and analyzed by a time-of-flight mass spectrometer. - 特許庁

イオン化部３８に導入された測定対象ガスは真空紫外光３７によりイオン化され、飛行時間型質量分析部３４でイオン７３の質量スペクトルを測定する。例文帳に追加

The gas to be measured introduced to the ionization part 38 is ionized by the vacuum ultraviolet light 37 and mass spectra of an ion 73 is measured at a time-of-flight mass analyzing part 34. - 特許庁

本発明は、マトリックスとしてｐ−ニトロフェノールを用いた、マトリックス支援レーザー脱離イオン化−飛行時間型質量分析法による質量分析法にも関する。例文帳に追加

A matrix assisted laser desorption/ionization-time of flight mass spectrometry employing p-nitrophenol as the matrix is also provided. - 特許庁

対象物に関する情報を飛行時間型二次イオン質量分析法を用いて取得する取得する際に、対象物のイオン化を促進するための物質を用いて対象物のイオン化を促進して対象物を飛翔させる。例文帳に追加

Ionization of the object is promoted using a substance for promoting the ionization of the object to make the object fly, when acquiring information as to the object, using a time-of-flight type secondary ion mass spectrometry. - 特許庁

対象物に関する情報を飛行時間型二次イオン質量分析法を用いて取得する取得する際に、対象物のイオン化を促進するための物質を用いて対象物のイオン化を促進して対象物を飛翔させる。例文帳に追加

Ionization of a target object is promoted to fly the target object using a substance for promoting the ionization of the target object when information on the target object is acquired using time-of-flight secondary ion mass spectrometry. - 特許庁