ナイフエッジ回折の英語

特に物体を光軸方向に距離δを隔てて設けられた２枚のナイフエッジと看做し、これらのナイフエッジにおいてフレネル回折が多重に生じたとしてラインセンサにて検出された光量分布パターンを解析する。例文帳に追加

Especially, the object is considered as two knife edges disposed separately by distance δ in the optical axis direction, multiple fresnel diffraction is considered to occur in these knife edges, the light quantity distribution pattern detected by the line sensor is analyzed. - 特許庁

誘導結合型プラズマ分光分析装置用分光器の回折格子の回転機構において、サインバー端部に取付けられている接触子とナイフエッジとの接触を滑らかにスライドさせ、損耗の少なくする。例文帳に追加

To achieve less wear in a rotating mechanism for a diffraction grating of a spectrograph for an inductive coupling plasma spectrum analyzer by sliding a contact mounted at the end of a sine bar in smooth contact with a knife edge. - 特許庁

１つの回折光学素子（ＨＯＥ）及び１つの光学検出素子を使用して、ＣＤ用及びＤＶＤ用のトラッキングエラー信号、及びナイフエッジ法のフォーカスエラー信号を検出する光学ヘッドを提供する。例文帳に追加

To provide an optical head detecting a tracking error signal for CD and DVD and a focus error signal for a knife edge method using one diffraction optical element (HOE) and one optical detecting element. - 特許庁

回折格子は光ディスクからの反射光束を４分割し、各々の領域で回折分離した回折光を光検出器上の各々独立した受光面に導いてディスク構造に応じた検出方法によるトラッキング誤差信号とナイフエッジ方式によるフォーカス誤差信号を検出することが出来る。例文帳に追加

A reflected luminous flux from the optical disk is quadri-divided by the diffraction grating, diffracted light which is diffracted and separated in respective regions is guided to respective independent light receiving surface on the photodetector, and a tracking error signal by a detecting method in accordance with disk structure and a focus error signal by a knife edge system are detected. - 特許庁

すなわち複数領域に分割された回折素子２により２分割されたフォーカス検出用受光素子６に複数のスポットを形成することにより、ナイフエッジ法でフォーカス検出を行う場合において見かけのスポットの大きさが大きくなるために組付け公差が緩和され、生産性を向上できる。例文帳に追加

Namely, the assembling tolerance can be relieved and the productivity can be improved because the sizes of apparent spots become large in the case of performing focus detection with a knife edge method by forming a plurality of spots on the photodetector 6 for focus detection divided into two with the diffraction element 2 divided into the plurality of areas. - 特許庁