ランプ試験の英語

クランプ回路および試験信号発生装置例文帳に追加

CLAMP CIRCUIT AND TEST SIGNAL GENERATOR - 特許庁

強制スランプフロー試験方法およびその装置例文帳に追加

COMPULSORY SLUMP FLOW TEST METHOD AND APPARATUS THEREFOR - 特許庁

電子発光ランプ有する分析用試験紙例文帳に追加

ANALYTICAL TEST STRIP HAVING ELECTROLUMINESCENT LAMP - 特許庁

光源としてのランプ４が設置された試験槽１内に、多数の被試験体２が設置される。例文帳に追加

A number of test pieces 2 are installed in a test tank 1 installing a lamp 4 as the light source. - 特許庁

剪断試験中、試験ツール(100)により結合部(302)を基板(300)から剪断させるとき、当接部(30,31)は追加のクランプ力を試験ツール(100)に付与する、例文帳に追加

During a shear test, abutments (30, 31) provide an additional clamping force on the test tool (100) while the test tool (100) is shearing the bond part (302) off of the substrate (300). - 特許庁

被試験車両のランプの中心決定方法及びヘッドライトテスタ例文帳に追加

DETERMINATION METHOD FOR CENTER OF LAMP OF VEHICLE UNDER TEST, AND HEADLIGHT TESTER - 特許庁

酸素濃度が高められた状態で、ランプ４によって被試験体２に光照射することによって、当該被試験体２が劣化される。例文帳に追加

In the state that the oxygen concentration is heightened, the test piece 2 is deteriorated with the lamp 4 by irradiating the test piece 2 with the lamp 4. - 特許庁

信号処理部１４１、２４１は、試験パタン生成部１４３、試験パタン照合部１４４およびクランプ処理部１４５を含んでいる。例文帳に追加

The signal processing section 141(241) includes a test pattern generating section 143, a test pattern collation section 144 and a clamp processing section 145. - 特許庁