基底変数の英語

この操作を基底変数の順列を変えて複数回繰り返す。例文帳に追加

The operation is repeated several times by changing the permutation of the base variable. - 特許庁

まず、加工条件を示す式より加工パラメータを示す変数からなる基底変数を抽出する。例文帳に追加

At first, a base variable, which comprises a variable showing a machining parameter, is extracted from an expression showing the machining condition. - 特許庁

あるクラスで、基底クラスですでに定義されているスロットを定義した場合、基底クラスのスロットで定義されているインスタンス変数は(デスクリプタを基底クラスから直接取得しない限り) アクセスできなくなります。例文帳に追加

If a class defines a slot also defined in a base class, the instance variable defined by the base class slot is inaccessible (except by retrieving its descriptor directly from the base class). - Python

さらに、共通情報クラス１０４は、Servlet基底クラス１０３から共通情報２０４を受け取り、自身の変数として保持する。例文帳に追加

Furthermore, the common information class 104 receives the common information 204 from the Servlet base class 103 to hold it as its own parameters. - 特許庁

そこで、予め周期を変数として定めておいた基底スペクトルを用い、各周期において、測定スペクトルに対する二乗誤差が最小になるような近似スペクトルを見つけ、その最小二乗誤差と周期との関係をグラフとして求める。例文帳に追加

By using base spectra, wherein the period is fixed previously as a variable, approximate spectrum wherein square spread to measurement spectrum becomes a minimum is found for each period, and the relation between the minimum square spread and periods is obtained as a graph. - 特許庁

そこで、予め膜厚を変数として定めておいた基底スペクトルを用い、各膜厚において、測定スペクトルに対する二乗誤差が最小になるような近似スペクトルを見つけ、その最小二乗誤差と膜厚との関係をグラフとして求める。例文帳に追加

Therefore, such an approximate spectrum which gives a minimum square error relative to the measured spectrum is found for each thickness of the film, by using basic spectra previously determined in which the thickness of the film is set as a variable, and a relation between the least square error and the thickness of the film is represented as a graph. - 特許庁

そこで、予め膜厚を変数として定めておいた基底スペクトルを用い、各膜厚において、測定スペクトルに対する二乗誤差が最小になるような近似スペクトルを見つけ、その最小二乗誤差と膜厚との関係をグラフとして求める（Ｓ１〜Ｓ６）。例文帳に追加

Hereby, the base spectrum wherein the film thickness is determined beforehand as a variable is used, and an approximate spectrum wherein the square error to the measuring spectrum becomes the least is found relative to each film thickness, and the relation between the least square error and the film thickness is determined as a graph (S1-S6). - 特許庁