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構造特性評価の英語
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英訳・英語 structural characterization
「構造特性評価」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 61件
炉内構造材料の材料特性評価試験片作製方法例文帳に追加
METHOD FOR PREPARING MATERIAL CHARACTERISTIC EVALUATION SPECIMEN OF STRUCTURE MATERIAL IN FURNACE - 特許庁
電気的特性評価用接触針、プローブ構造体、プローブカード、および電気的特性評価用接触針の製造方法例文帳に追加
CONTACT NEEDLE FOR EVALUATING ELECTRIC CHARACTERISTIC, PROBE STRUCTURE, PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD OF CONTACT NEEDLE FOR EVALUATING ELECTRIC CHARACTERISTIC - 特許庁
また、音評価手段５で計算モデル内の評価点での音のレベルを計算し、この音のレベルが所望の値以上の場合に、構造音響連成特性評価指標計算手段７が構造音響連成特性を評価する指標を計算する。例文帳に追加
A sound level at an evaluation point in the calculation model is calculated by a sound evaluating means 5, and when this sound level is a desired value or more, a structure-sound coupling characteristic evaluating index calculating means 7 calculates the index of evaluating the structure-sound coupling characteristic. - 特許庁
基板上に形成されたライン構造の応力界と特性のリアルタイム評価例文帳に追加
REAL-TIME EVALUATION OF STRESS FIELD AND CHARACTERISTIC IN LINE STRUCTURE FORMED ON SUBSTRATE - 特許庁
低温環境で用いられる溶接構造体の破壊特性をより高精度に評価可能とする。例文帳に追加
To evaluate fracture characteristics of a welded structure used in a low-temperature environment with higher accuracy. - 特許庁
自動車構造部材用鋼材の耐遅れ破壊特性評価方法および耐遅れ破壊特性に優れた自動車構造部材用鋼材例文帳に追加
EVALUATION METHOD OF DELAY DESTRUCTION-RESISTANT CHARACTERISTICS OF STEEL MATERIAL FOR CAR STRUCTURAL MEMBER AND STEEL MATERIAL FOR CAR STRUCTURAL MEMBER EXCELLENT IN DELAY DESTRUCTION-RESISTANT CHARACTERISTICS - 特許庁
構造物部材からのサンプル採取を適切に実施することができ、あるいはin situによる材料特性の診断を適切に実施することができて、構造物部材の劣化度を精度よく評価することのできる構造物部材の劣化度評価システムおよび評価方法を提供する。例文帳に追加
To provide a system and method for evaluating the deterioration of a structure member, permitting appropriately performing sampling from the structure member, or appropriately performing diagnosis of material characteristic in situ, and accurately evaluating the deterioration of the structure member. - 特許庁
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「構造特性評価」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 61件
微小領域の特性を反映する光学特性（ヘイズ率）により微多孔構造のバラツキを評価する。例文帳に追加
The variation in micropore structure is evaluated from the optical characteristics (haze factor) reflecting the characteristics of a microscopic region. - 特許庁
構造物の地震被災度の判定精度の向上及び迅速な評価判定に有効である構造物の振動特性を検出する。例文帳に追加
To detect the oscillation characteristic of a structure effective in improvement of determination accuracy and rapid evaluation determination of the earthquake-affected degree of the structure. - 特許庁
ＭＯＳＦＥＴを有する半導体装置の特性バラツキの評価方法に関し、半導体装置の微細な構造の差異に起因する電気的特性のばらつきの評価すること。例文帳に追加
To evaluate a dispersion in electric characteristic caused by a fine difference in structure of a semiconductor device in a characteristic dispersion evaluating method of the semiconductor device having MOSFETs. - 特許庁
開発過程の高い光反射率の高品質ミラーの反射特性の評価に利用できるのは勿論、実用的構造でのミラーの反射特性の評価が可能である。例文帳に追加
This method can be applied to evaluation of the reflection characteristic of a high-quality mirror of high light reflectance in a developing process, and allows evaluation of the reflection characteristic of the mirror in a practical structure. - 特許庁
コンクリート構造物の物理的特性や劣化状態を確度の高い定量的評価が行えるコンクリート構造物の品質評価方法を提供すること。例文帳に追加
To provide a quality evaluation method of a concrete structure capable of executing quantitative evaluation with high accuracy for a physical characteristic and a deterioration state of a concrete structure. - 特許庁
評価対象の評価情報を画像情報フォーマットを用いて記録する方法、評価対象の評価情報を画像情報として格納するデータ構造体、評価対象の特徴又は特性を表示する画像情報を生成する方法、その装置及びプログラム、並びに電気機器の稼働状況を画像情報フォーマットを用いて記録する方法例文帳に追加
METHOD FOR RECORDING EVALUATION INFORMATION OF EVALUATION OBJECT BY USING IMAGE INFORMATION FORMAT, DATA STRUCTURE BODY FOR STORING EVALUATION INFORMATION OF EVALUATION OBJECT AS IMAGE INFORMATION, METHOD, DEVICE AND PROGRAM FOR GENERATING IMAGE INFORMATION TO DISPLAY FEATURE OR CHARACTERISTIC OF EVALUATION OBJECT, AND METHOD FOR RECORDING OPERATIONAL STATUS OF ELECTRIC APPLIANCE BY USING IMAGE INFORMATION FORMAT - 特許庁
現実の複雑かつ多様な複合材料に対して、微視的な構造と力学的特性との関係を定量的に評価できること。例文帳に追加
To quantitatively evaluate the relationship between the microscopic structures and dynamic properties of real complex and various composite materials. - 特許庁
積層型電子部品の各層内部の微細構造の電気的特性を、正確に測定できる積層型電子部品の評価方法を提供すること。例文帳に追加
To provide a method of evaluating a laminated electronic component, which accurately measures electric characteristics of a fine structure of the inside of each layer of a laminated electronic component. - 特許庁
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