比誘電率測定の英語

比誘電率・導電率測定装置及びその測定方法例文帳に追加

DIELECTRIC CONSTANT/ELECTRIC CONDUCTIVITY MEASURING METHOD AND ITS MEASURING METHOD - 特許庁

コンクリ—トの比誘電率測定方法例文帳に追加

MEASURING METHOD FOR RELATIVE PERMITTIVITY OF CONCRETE - 特許庁

高精度に高誘電率薄膜の比誘電率と誘電正接をマイクロ波において測定することができる誘電定数測定法を提供する。例文帳に追加

To provide a dielectric constant measurement method capable of accurately measuring the relative permittivity and the dielectric dissipation factor of a high dielectric-constant thin film in microwaves. - 特許庁

粉体の比誘電率を高い精度で測定することができる粉体の比誘電率の測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for measuring a relative permittivity of powder with high precision. - 特許庁

粉体の誘電体の比誘電率の測定方法、それに用いる空洞共振器及びその適用装置例文帳に追加

RELATIVE PERMITTIVITY MEASUREMENT METHOD FOR POWDER DIELECTRIC SUBSTANCE, CAVITY RESONATOR USED FOR THE SAME, AND APPLICATION DEVICE FOR IT - 特許庁

計量室１５に充填されたＬＮＧの誘電率を、コンデンサプローブで測定し、この誘電率を、純粋メタンの誘電率と比較する。例文帳に追加

Permittivity of LNG filled into the measurement chamber 15 is measured by a condenser probe and compared with the permittivity of pure methane. - 特許庁

マイクロ波帯やミリ波帯、特に１ＧＨｚ以上の周波数帯において、誘電体薄膜や誘電体多層基板等の比誘電率と誘電正接を高精度で測定できる誘電定数測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a dielectric constant measuring method for measuring a relative dielectric constant and a dielectric loss tangent of a dielectric thin film, a dielectric multilayer substrate and the like at high precision in a microwave band and a millimeter wave band, in particular, in a wave band of ≥1 GHz. - 特許庁

比誘電率の高い誘電体基板や厚い誘電体基板の電気的物性値を、測定したい周波数帯で測定できるとともに、誘電体基板の物性値の測定精度を大きく向上できる電気的物性値測定法及び測定用冶具を提供する。例文帳に追加

To provide an electrical physical property value measurement method and a measuring tool for measuring the electrical physical property value of a dielectric substrate having a high dielectric constant and a thick dielectric substrate at a frequency band to be measured, and for greatly improving the measurement precision of the physical property value of the dielectric substrate. - 特許庁