空間電荷密度の英語

空間電荷測定における電荷密度校正方法例文帳に追加

METHOD FOR CORRECTING CHARGE DENSITY IN SPACE CHARGE MEASUREMENT - 特許庁

結着樹脂、着色剤及びワックスを少なくとも含有する静電荷像現像用トナー粒子と、無機微粒子を少なくとも含有する静電荷像現像用トナーであって、円錐ロータを用いたトルク測定法によって測定される空間率０．５４におけるトルクの値が２．４×１０^−３Ｎ・ｍ以下であり、かつトナーの嵩密度が０．３５ｇ／ｃｍ^３以上である静電荷像現像用トナー。例文帳に追加

The electrostatic charge image developing toner comprises at least electrostatic charge image developing toner particles comprising at least a binder resin, a colorant and a wax, and inorganic fine particles, a torque value at a space factor of 0.54 measured by a torque measuring method using a conical rotor is ≤2.4×10^-3 N×m, and a bulk density of the toner is ≥0.35 g/cm^3. - 特許庁

本発明はイオンビーム源装置において、引き出されたイオンによって空間電荷が形成され、引き出し電流密度が大きくなると、それに比例した大きな電場が発生し、その結果イオンビームが自己発散するような問題点を除去することを課題とする。例文帳に追加

To eliminate problems that in an ion beam source device, when a space charge is formed by extracted ions and an extracted current density becomes large, a proportionally large electric field is generated, and as a result, an ion beam is self-divergent. - 特許庁

電子ビーム中の電子密度を増加させても露光速度を上げても、空間電荷効果による電子ビームの拡散を抑制して電子ビームを集束させる電子ビーム等の荷電粒子線の発生方法および荷電粒子線装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method for generating a charged particle beam such as an electron beam, etc. for focusing the electron beam by suppressing the diffusion of the electron beam due to a space charge effect even when an electron density in the electron beam is increased and even when an exposure speed is accelerated, and to provide a charged particle beam device. - 特許庁

高感度な磁気検出器や電磁波検出器や電荷センサーなどの非接触検出器で電流密度分布又は電位分布を測定し、その一方の測定値によって記述される一階の空間偏微分方程式を解くことによって、既に電流場がある場合でもそれを乱すこと無く、関心領域内において与えられた参照導電率に対する相対的な導電率空間分布を推定する。例文帳に追加

A current density distribution or a potential distribution are measured by a non-contact detector such as a highly sensitive magnetic detector, an electromagnetic wave detector, or a potential sensor, and a described first floor space partial differential equation is solved by one of measured values, so as to estimate conductivity spatial distribution relative to the reference conductivity given in the concerned region. - 特許庁