静電プローブの英語

静電容量入力装置２００はマット２０４とプローブと２０２を含む。例文帳に追加

A capacitance input device 200 includes a mat 204 and a probe 202. - 特許庁

プローブ（１）が複数であり、静電容量変化で容器中の試料液面を検出してプローブの下降動作を停止し、各プローブでの吸引動作後、各プローブを上昇する際、液面を離れることを検出するに当り、各プローブの上昇開始タイミングを変える。例文帳に追加

A method for detecting liquid level contact using a number of probes (1) includes detecting a liquid level in a container by capacitance change to stop downward movement of each probe, and changing start timing of upward movement of each probe in detecting movement away from the liquid level when each probe moves upward after its suction operation. - 特許庁

静電容量式変位計用プローブ及びそれを用いた静電容量式変位計例文帳に追加

PROBE FOR CAPACITANCE TYPE DISPLACEMENT METER AND CAPACITANCE TYPE DISPLACEMENT METER USING SAME - 特許庁

プローブアレーは、熱バイメタル作動または静電作動方法を使用して、独立的に移動されることのできる個別プローブから構成される。例文帳に追加

The probe array consists of individual probes that can be moved independently using thermal bimetallic actuation or electrostatic actuation methods. - 特許庁

プローブカードを用いてウエハ上のＩＣチップの電気的特性を調べるプローブ装置において、プローブカードが帯電していることに基づくＩＣチップの静電破壊を防止する手段の提供。例文帳に追加

To provide a means for preventing electrostatic breakdown of an IC chip based on a charged probe card, in a probe device which investigates the electrical characteristics of an IC chip on a wafer by using a probe card. - 特許庁

プローブを小型化・小径化すると共に、プローブ軸に対して直角方向あるいは任意の方向から被測定物に対向でき、高感度、高精度、高安定度を有する静電養プローブを提供する。例文帳に追加

To provide an electrostatic capacity probe having high sensitivity, high accuracy, and high stability, which can be reduced in size and diameter and opposed to an object to be measured at a right angle to a probe axis or from an optional direction. - 特許庁

静電容量プローブの上下動において採血管２からの影響は一定に保たれるため、内容物である物質層の誘電率の相違が静電容量プローブの静電容量変化として検知される。例文帳に追加

An electrostatic capacity fluctuation of the electrostatic capacity probe 26 can be detected according to a difference of a dielectric constant of a material layer of the contents because an influence from the blood-collecting tube 2 is constantly held at the time of a vertical motion of the electrostatic capacity probe 26. - 特許庁

他の実施形態では、サンプルは基板から切り出され、静電引力によってプローブに接着する。例文帳に追加

In another embodiment, the sample is separated from the substrate to adhere to the probe by electrostatic attraction. - 特許庁