EB testerとは 意味・読み方・使い方

The data 16 is inputted to a data input part 20 of an EB tester 12 and then written in a hard disk as analysis data (A)34.例文帳に追加

状態データ１６は、ＥＢテスタ１２のデータ入力部２０に入力され、それから解析データ（Ａ）３４としてハードディスクに書き込まれる。 - 特許庁

To realize a focusing method for adjusting the focus of charged particles on a sample based on a video signal obtained by sweeping the charged particles on the sample in an SEM or an EB(electron beam) tester.例文帳に追加

ＳＥＭ又はＥＢテスタにおいて、荷電粒子を試料上で掃引した結果得られるビデオ信号に基づき、荷電粒子の試料に対する焦点を調整する合焦制御方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a logic synthesis apparatus, an automatic arranging and wiring apparatus, and a semiconductor integrated circuit which can automatically insert a special cell for observing a desired signal through an EB tester by leading it out to a top layer.例文帳に追加

所望の信号を最上位層に引き出し、ＥＢテスタで観測するための特殊セルを自動で挿入することができる論理合成装置、自動配置配線装置および半導体集積回路を得ること。 - 特許庁

Since no electrode pad exists on the front side of the chip, power supply to wiring or elements existent on the front side of the chip, signal supply or waveform of a signal inside the chip can be easily observed by an EB tester or the like and the characteristic evaluation or fault analysis of the semiconductor integrated circuit is enabled.例文帳に追加

チップの表面側には電極パッドが存在しないため、チップの表面側に存在する配線や素子への電源、信号の供給やチップ内部の信号の波形をＥＢテスタ等で観測することが容易になり、半導体集積回路の特性評価や故障解析が実現可能となる。 - 特許庁

To provide an analytical method for a scan test circuit in which a flip-flop having a nonconformity in a shift operation in a flip-flop chain of the scan test circuit is specified in a short time even without using a special analyzer such as an EB tester or the like.例文帳に追加

ＥＢテスタ等の特殊な解析装置を用いなくても、スキャンテスト回路のフリップフロップチェーンにおいてシフト動作に不具合のあるフリップフロップを短時間で特定可能なスキャンテスト回路の解析方法を提供する。 - 特許庁