MS instrumentとは 意味・読み方・使い方

A non-correlative signal not correlated with a reception signal from a satellite is carrier-correlated by a 1 ms correlation channel circuit 1n for a noise, to be output in every 1 ms, and a noise power dispersion σ^2 during the 1 ms in every 1 ms by a noise dispersion measuring instrument 4.例文帳に追加

雑音用１ｍｓ相関チャンネル回路１ｎで衛星からの受信信号と相関を採ることができない非相関信号とのキャリア相関を採り１ｍｓ毎に出力し、ノイズ分散測定器４でその１ｍｓ間の雑音パワーの分散σ^2を１ｍｓ毎に測定する。 - 特許庁

In this method of measuring, an instrument is used allowing measurement with a method of thermal analysis combined with: TG and differential scanning calories (DTA); a differential scanning calorimeter (DSC); gas chromatography (GC); or mass spectrometry (MS).例文帳に追加

熱分析法が、TGと示差走査熱量(DTA)、示差走査熱量計（DSC）、ガスクロマトグラフィー（GC）又は、質量分析（MS）とを組み合わせて測定できる装置を用いる請求項１又は２に記載の測定方法。 - 特許庁

Preferably, the instrument analysis is UPLC/MS or GC/FID analysis and the multivariate analysis is OSC-PLS regression analysis.例文帳に追加

好適には、機器分析がＵＰＬＣ／ＭＳまたはＧＣ／ＦＩＤであり、そして多変量解析がＯＳＣ−ＰＬＳ回帰分析である。 - 特許庁

Printing conditions are recorded in a color chart 60 and the same printing conditions are acquired by a color measuring instrument 50 and by an MS computer 70.例文帳に追加

カラーチャート６０に印刷条件を記録し、同印刷条件を測色機５０およびＭＳコンピュータ７０によって取得している。 - 特許庁

Then, in shipping, a CR oscillation corrected value is calculated by connecting an ECU 10 with the measuring instrument 20 outputting a one-shot pulse of 10 ms to the measuring instrument 20 based on the clock signal of the CR oscillation circuit 13 and comparing the pulse with actual pulse width to be returned as measurement data.例文帳に追加

そこで、出荷時にＥＣＵ１０を計測器２０に接続し、ＣＲ発振回路１３のクロック信号に基づいて１０ｍｓのワンショットパルスを計測器２０に出力し、計測データとして返送される実際のパルス幅と比較することによってＣＲ発振補正値を算出する。 - 特許庁

To provide a sample substrate for laser desorption ionizing mass analysis and soft LDI-MS measurement which enables the accurate measurement without forming an obstruction peak at the time of irradiation with a laser beam, and the uniform coating of a sample at the time of production of the sample, and a measuring instrument using it.例文帳に追加

レーザー脱離イオン化質量分析用試料基板において、レーザー光を照射されたときに、妨害ピークを発生させることなく、高感度かつ正確な測定ができ、試料作成にあたっては、試料を均一に塗布することができるソフトLDI-MS測定のための試料基板およびそれを用いる測定装置の提供。 - 特許庁