SMALL-ANGLE X-RAY SCATTERINGとは 意味・読み方・使い方

To provide a method of measuring small angle X-ray scattering for a thin film sample which can be performed by a small angle X-ray scattering device while the sample is fixed.例文帳に追加

試料を固定しながら、小角Ｘ線散乱装置により実現可能な、薄膜状の試料に対する小角Ｘ線散乱の測定方法を提供する。 - 特許庁

(1) The angle of half- width of maximum peak strength in azimuth scan is ≥60° in small-angle X-ray scattering measurement.例文帳に追加

（１）小角Ｘ線散乱測定における方位角スキャンの最大ピーク強度の半価幅のなす角が６０度以上。 - 特許庁

To provide an analyzing method of the orientation based on ultra-small-angle X-ray scattering measurements capable of easily and accurately evaluating the crystallinity of the orientation sample, by using an X-ray small-angle measuring device of a laboratory level.例文帳に追加

実験室レベルのＸ線小角測定装置を用いて配向性試料の結晶性を簡単且つ正確に評価できる超小角Ｘ線散乱測定に基づく配向度の解析方法を提供する。 - 特許庁

The silica is characterized in that the profile obtained by the Guinier plot for small angle X-ray scattering spectra (X-ray scattering intensity-q^2 value) shows no inflection point in the region of ≤6×10^-3(Å^-2) of the q^2 value.例文帳に追加

小角Ｘ線散乱スペクトルのギニエプロット（Ｘ線散乱強度−ｑ^２値）で得られるプロフィールにおいて、ｑ^２値が６×１０^−３（Å^−２）以下の領域には変曲点が存在しないことを特徴とする。 - 特許庁

The silica is characterized in that the profile obtained by the Guinier plot for small angle X-ray scattering spectra (X-ray scattering intensity -q^2 value) shows no inflection point in the region of ≤6×10^-3 (Å^-2) of the q^2 value.例文帳に追加

小角Ｘ線散乱スペクトルのギニエプロット（Ｘ線散乱強度−ｑ^2値）で得られるプロフィールにおいて、ｑ^2値が６×１０^-3（Å^-2）以下の領域には変曲点が存在しないことを特徴とする。 - 特許庁

To provide an apparatus capable of easily performing measurement of small angle scattering, X-ray diffraction, or reflectance by use of one apparatus.例文帳に追加

一台の装置で、小角散乱、Ｘ線回折、反射率測定等を容易に行える装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a system for measurement for a sample combined with an X-ray reflectance and small angle scattering.例文帳に追加

Ｘ線反射率と小角Ｘ線散乱とを組み合わせた測定を試料に行う方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a super-small-angle X-ray scattering measuring device capable of accurately capturing a scattering line from a sample in a super-small-angle region by suppressing the occurrence of a smearing phenomenon.例文帳に追加

スメアリング現象の発生を抑えることにより、超小角領域における試料からの散乱線を正確に捕えることができる超小角Ｘ線散乱測定装置を提供する。 - 特許庁