afm imageとは 意味・読み方・使い方

To provide a probe having both functions of the tip of an AFM and an optical probe, and capable of preventing lowering of resolution of an image, when the image is taken in an AFM mode.例文帳に追加

AFMのティップと光プローブの両方の機能を持ち、AFMモードでイメージを取る場合、像の分解能が低下しないプローブを提供する。 - 特許庁

An observation of a region including the defect is performed by an atomic force microscope(AFM), and a shape of the defect and a pattern for alignment is extracted from an AFM image.例文帳に追加

原子間力顕微鏡(AFM)で欠陥を含む領域の観察を行い、AFM像から欠陥の形状と位置あわせのためのパターンを抽出する。 - 特許庁

To provide a control method of a phase feedback AFM and a phase feedback AFM, such that the real surface shape of an obtained uneven image is indicated.例文帳に追加

本発明は、得られる凹凸像が真の表面形状を示すような位相フィードバックＡＦＭの制御方法及び位相フィードバックＡＦＭを提供することを目的としている。 - 特許庁

To detect a change in frequency with a high sensitivity and to improve the detection gain in the simultaneous observation of a non-contact atomic force microscopic(NC-AFM) image and a potential image.例文帳に追加

ＮＣ−ＡＦＭ像と電位像の同時観察において高感度での周波数の変化の検出と検出利得の向上を図る。 - 特許庁

To provide a scanning proximity field optical microscope improved to obtain an AFM image along with an SNOM image.例文帳に追加

本発明は、ＳＮＯＭ像と一緒にＡＦＭ像も得られるように改良された走査型近接場光学顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

A correction similar to the correction of irradiated region with respect to the pattern matching processing from the usual secondary ion image or secondary electron image of the ion beam defect correcting device is performed and a defect region 3b which is extracted by the AFM and is subjected to fine adjustment by the conformation of the pattern for alignment is corrected by ion beams 8.例文帳に追加

イオンビーム欠陥修正装置の通常の二次イオン像もしくは二次電子像からのパターンマッチング加工に対する照射領域の補正と同様な補正を行い、AFMで抽出し、位置合わせ用のパターンの合わせ込みで微調整された欠陥領域3bをイオンビーム8で修正する。 - 特許庁

The magnetite powder is obtained by reducing hematite and is characterized in that a layered uneven pattern having an interval of 5-80 μm is observed on the surface of each particle in an AFM (atomic force microscope) image.例文帳に追加

ＡＦＭ（原子間力顕微鏡）像において粒子表面に５〜８０ｎｍ間隔の層状凹凸模様が観察されるヘマタイトを還元してなるマグネタイトの粉末。 - 特許庁