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automated testingとは 意味・読み方・使い方
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「automated testing」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 8件
The separation of aspects of automated testing into architectural layers enables automated testing to occur sooner and faster and to provide more comprehensive testing.例文帳に追加
自動テストの側面を複数のアーキテクチャ層に分離することによって、自動テストがよりすぐに、より速く行われ、またより包括的なテストを提供することを可能にする。 - 特許庁
To make a perfect automated operation possible at night by increasing the number of devices capable of automatic testing.例文帳に追加
自動試験ができるデバイスの個数を多くして、夜間完全無人運転を可能にすること。 - 特許庁
To provide an inexpensive chip carrier of high testing efficiency reduced in the number of part items, having a relatively simple mechanism, allowing assembling to be easily automated, and easy to be used commonly with a testing facility for a semiconductor device.例文帳に追加
部品点数が少なく、比較的簡単な機構で、低廉で、組立の自動化が容易で、半導体デバイス用のテスト設備との共有化が容易なテスト効率の高いチップキャリアを提供する。 - 特許庁
To provide a method for using automated testing by idealistically creating a test case in a design phase as fast as possible in a life cycle of a software product.例文帳に追加
ソフトウェア製品のライフサイクルにおいてできるだけ早く、理想的には設計フェーズにテストケースを作成し、自動テストを使用するやり方を提供すること。 - 特許庁
... is an automated functional testing tool that helps developers and testers rapidly create tests for Windows applications created with any development tool.発音を聞く 例文帳に追加
...は自動化機能テストツールであり、これは任意の開発ツールで作られたウィンドウズ・アプリケーションのためのテストを開発者や試験者が早急に作る手助けをします。 - コンピューター用語辞典
To provide a digital line circuit testing system for a 2W multifunctional telephone set which makes a test for a digital line circuit for a 2W multifunctional telephone set to be unmanned and automated and shortens test time.例文帳に追加
2W多機能電話機用デジタルライン回路の試験の無人化、自動化、試験時間の短縮化を期す2W多機能電話機用デジタルライン回路試験方式を提供すること。 - 特許庁
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「automated testing」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 8件
The base material of this chip type electronic component storage mount is multi-layer paper structured, and pulp after the defibrination of the base material has a fiber length distribution factor 1.20-3.20 or less obtained by a pulp fiber length testing method using optical automated metrology specified by Japan Technical Association of the Pulp and Paper Industry No.52.例文帳に追加
チップ型電子部品収納台紙用紙基材が、多紙層構造を有し、この基材の離解後のパルプが、JAPAN TAPPI No.52で規定されている光学的自動計測法でのパルプ繊維長試験方法により求められる繊維長分布係数が、1.20〜3.20以下である。 - 特許庁
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