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beam probesとは 意味・読み方・使い方
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「beam probes」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 26件
A plurality of probes are provided in a focused ion beam device and voltage is freely applied across the probes.例文帳に追加
収束イオンビーム装置内に複数のプローブを設け、プローブ間には自由に電圧を印加できる構成とする。 - 特許庁
A plurality of probes 4 are brought into contact with a sample 2, and while irradiating the sample 2 with an electron beam 1, current that flows through the probes 4 is measured, and signals from at least two probes 4 are input into a differential amplifier 6.例文帳に追加
複数の探針４を試料２に接触させ、試料２に電子線１を照射しつつ、探針４に流れる電流を測定し、少なくとも２本の探針４からの信号を差動増幅器６に入力する。 - 特許庁
The plurality of probes are brought into contact with a sample, and while irradiating the sample with an electron beam, a current is measured that flows through the probes, and signals from at least two probes are input into a differential amplifier.例文帳に追加
本発明では、複数の探針を試料に接触させ、試料に電子線を照射しつつ、探針に流れる電流を測定し、少なくとも２本の探針からの信号を差動増幅器に入力する。 - 特許庁
A plurality of probes are brought into contact with a sample, and while irradiating an electron beam to the sample, a current is measured that flows through the probes, and signals from at least two probes are inputted into a differential amplifier.例文帳に追加
本発明では、複数の探針を試料に接触させ、試料に電子線を照射しつつ、探針に流れる電流を測定し、少なくとも２本の探針からの信号を差動増幅器に入力する。 - 特許庁
The probes are brought into contact with the contact plug of a semiconductor device, a deposition gas is introduced into the device, the contact position of the probes is irradiated with a focused ion beam to bond the probes to the contact plug to form a current introducing terminal.例文帳に追加
プローブは半導体デバイスのコンタクトプラグに接触させ、デポジションガスを装置内に導入し、プローブの接触位置に収束イオンビームを照射することで、プローブをコンタクトプラグに接着し、電流導入端子とする。 - 特許庁
The height of the defect being machined by electron beam or gas ion beam etching is measured with one probe in the independently actuatable probes to detect an end point.例文帳に追加
独立に駆動できる探針のうち1本の探針で、電子ビームまたはガスイオンビームエッチングで加工中の欠陥の高さを測定して終点検出を行う。 - 特許庁
To provide an inspection device for semiconductor capable of making the size small with necessary strength held in a beam and forming many probes.例文帳に追加
梁に必要な強度を保持した状態で小型化ができ、多数のプローブを形成可能な半導体検査装置を実現する。 - 特許庁
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「beam probes」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 26件
By having the conventional array probe divided in two and array probes 201 and 203 and array probes 202 and 204 shifted in the direction along a guide rail 10, angle beam probes 211 and 212 used for the measurement of the angle of refraction of an ultrasonic wave incident into a specimen can be arranged side by side, between the array probes 203 and 204.例文帳に追加
従来のアレイ探触子を二つに分割し、アレイ探触子２０_1と２０_3、アレイ探触子２０_2と２０_4を、ガイドレール１０に沿った方向にずらして配置することにより、被検体に入射する超音波の屈折角の測定に用いる斜角探触子２１_1及び２１_2を、アレイ探触子２０_3、２０_4の間にこれらと並べて配置することができる。 - 特許庁
A transmitting/receiving part 14 controls probes 11, 12 to form an ultrasonic beam 40 intersecting the bone 52 and obtains a received signal.例文帳に追加
送受信部１４は、各プローブ（１１，１２）を制御することにより、骨５２と交差する超音波ビーム４０を形成して受信信号を取得する。 - 特許庁
Each of probes 8 transmits and receives an ultrasonic wave between the same and the bone in the body of an examinee to form an ultrasonic beam in a cross section of the minor axis of the bone 42.例文帳に追加
各プローブ８は、被検者体内の骨に対して超音波を送受波して骨短軸断面４２内において超音波ビームを形成する。 - 特許庁
Accordingly, with necessary strength held in the beam, the device can be made small, and the inspection apparatus for semiconductor capable of forming many probes can be provided.例文帳に追加
したがって、梁に必要な強度を保持した状態で小型化ができ、多数のプローブを形成可能な半導体検査装置を実現することができる。 - 特許庁
A sample inspection device for outputting absorption current images 13 and 15 by interlocking an absorption current output from two probes 4 into scanning an electron beam 1 at the time of scanning an electron beam adopts the following configuration.例文帳に追加
電子線の走査時に２本の探針４から出力される吸収電流を、電子線１の走査に連動させて吸収電流像１３，１５を出力する試料検査装置に、以下の仕組みを採用する。 - 特許庁
To provide defect inspection apparatus having a GUI for simply controlling a plurality of probes in a defect inspection apparatus in which the plurality of probes for measuring electrical properties of samples containing fine circuit wiring patterns are combined with a charged particle beam apparatus.例文帳に追加
微細な回路配線パターンを含む試料の電気特性を測定する複数のプローブと荷電粒子線装置とを組み合わせた不良検査装置において、複数のプローブを単純に制御するためのＧＵＩを有する不良検査装置を提供する。 - 特許庁
Placing two feeding probes feeding a radial waveguide path displaces a beam direction with respect to a direction of a normal of an antenna face to maximize a radar cross section, in such a way that the center positions of the two feeding probes have an offset by a prescribed amount from the center point of the radial waveguide path.例文帳に追加
ラジアル導波路に給電を行う２本の給電プローブの中心位置をラジアル導波路の中心点から所定量オフセットして配置することにより、レーダ断面積が最大となるアンテナ面の法線方向に対しビーム方向を変位させた。 - 特許庁
A flaw measuring means 16 corrects the ultrasonic beam path length by adding the ultrasonic beam path length by the surface shape of the inspection object 11, and compares it with an ultrasonic beam path length in the case where the inspection object portion between the two ultrasonic probes 12a, 12b has no flaw, to thereby measure the flaw size.例文帳に追加
きず測定手段１６は、被検査体１１の面形状による超音波ビーム路程を加味して超音波ビーム路程を補正し、２個の超音波探触子１２ａ、１２ｂ間の被検査体部位にきずがない場合の超音波ビーム路程とを比較し、きずの大きさを測定する。 - 特許庁
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