damage prediction methodとは 意味・読み方・使い方

METHOD OF DETERMINING PRESENCE/ABSENCE OF DAMAGE BY TROPICAL CYCLONE, TROPICAL CYCLONE DAMAGE PREDICTION METHOD, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

熱帯性低気圧被害有無の判別方法および熱帯性低気圧被害予測方法および装置 - 特許庁

PREDICTION METHOD FOR STARCH DAMAGE DEGREE OF RICE POWDER AND EVALUATION METHOD FOR PROCESSING SUITABILITY例文帳に追加

米粉の澱粉損傷度の予測方法及び加工適性の評価方法 - 特許庁

ION RADIATION DAMAGE PREDICTION METHOD, ION RADIATION DAMAGE SIMULATOR, ION RADIATION APPARATUS AND ION RADIATION METHOD例文帳に追加

イオン照射ダメージの予測方法とイオン照射ダメージのシミュレータ、およびイオン照射装置とイオン照射方法 - 特許庁

To provide an earthquake damage predicting method, an earthquake damage prediction system, and an earthquake damage prediction chart for a foundation structure for predicting and evaluating a standard of earthquake damage simply and quantitatively.例文帳に追加

地震被害の目安を簡便かつ定量的に予測評価することができる基礎構造の地震被害予測方法、地震被害予測システムおよび地震被害予測チャートを提供する。 - 特許庁

To provide a method of determining the presence/absence of damage by a tropical cyclone, a tropical cyclone damage prediction method, and a device for it, capable of determining the presence/absence of damage and predicting the scale of the damage more accurately.例文帳に追加

より正確に、被害のあるなしの判別、および被害の大きさの予測をすることのできる熱帯性低気圧被害有無の判別方法および熱帯性低気圧被害予測方法および装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a solder joint part life prediction method, life prediction device, and electronic apparatus for highly accurately evaluating the life of each solder joint part in consideration of rigidity deterioration to occur in each joint part by the progress of damage.例文帳に追加

個々のはんだ接合部に損傷が進行することにより発生する剛性の低下を考慮し、接合部の寿命をより高精度に評価を行うはんだ接合部の寿命予測方法、寿命予測装置及び電子機器を提供する。 - 特許庁

To calculate highly reliable life cycle costs for evaluation, based on the accurate deterioration prediction calculation results by predicting and calculating deterioration in concrete construction due to salt damage and the neutralization of concrete by using the finite element method.例文帳に追加

塩害やコンクリートの中性化によるコンクリート構造物の劣化を有限要素法を用いて予測計算し、正確な劣化予測計算の結果に基づいて、信頼性の高いライフサイクルコストを計算して評価すること。 - 特許庁

To provide an abnormality prediction control device and method for a semiconductor manufacturing facility capable of following the life and predicting the damage of the semiconductor manufacturing facility, reducing a down time of the facility and a time required for restoration, and preventing a large amount of abnormalities in products.例文帳に追加

半導体製造設備の寿命追跡および損傷予測を行い、設備ダウンと修復の時間を削減し、製品の大量異常を予防することができる半導体製造設備における異常予測制御装置および方法を提供する。 - 特許庁