datum surfacesとは 意味・読み方・使い方

The datum level has a right and a left turning surfaces 211, 213.例文帳に追加

その基準面にはそれぞれ左右まわし面２１１、２１３がある。 - 特許庁

The method includes steps for: interferometrically profiling a first surface of the test object with respect to a first datum surface; interferometrically profiling a second surface of the test object with respect to a second datum surface different from the first datum surface; providing a spatial relationship between the first and second datum surfaces; and calculating the geometric property based on the interferometrically profiled surfaces and the spatial relationship between the first and second datum surfaces.例文帳に追加

この方法は、第１基準面に対して、試験対象物の第１表面を干渉法によってプロファイルする工程と、第１基準面とは異なる第２基準面に対して、試験対象物の第２表面を干渉法によってプロファイルする工程と、第１基準面と第２基準面との間の空間的関係を提供する工程と、干渉法によってプロファイルした表面、並びに第１基準面と第２基準面との間の空間的関係に基づいて、試験対象物の幾何学的特性を計算する工程とを含む。 - 特許庁

Screws 30, 40 are turned only by using the right and left turning surfaces without the datum level therein coming direct contact with the screws 30, 40.例文帳に追加

その中の基準面は、ねじ３０、４０に直接接触しておらず、左右の回し面を利用するだけで、ねじを廻す。 - 特許庁

Both traction surfaces 17a, 17b are machined by fixing the inside peripheral surface 17f of an output disk 17 on a mandrel 40, and by utilizing the mandrel 40 as a rotation datum without unchucking the mandrel 40 in the machining process.例文帳に追加

出力ディスク１７の内周面１７ｆを芯金４０に固定し、芯金４０を加工時の回転基準として、途中でアンチャックすることなく両方のトラクション面１７ａ，１７ｂを加工する。 - 特許庁

To determine a geometric property of a test object based on a spatial relationship between first and second datum surfaces in addition to interferometrically profiling a first and second surface of the test object.例文帳に追加

試験対象物の第１及び第２表面を干渉法によってプロファイルすることに加えて、第１基準面と第２基準面との間の空間的関係に基づき、試験対象物の幾何学的特性を測定する。 - 特許庁

Datum point members 31-36 having high reflectance are provided on the upper surfaces of the first columnar member 12, a control-section enclosure 20 integrally fixed to the member 12, and a second columnar member 14 which can be rotated against the side face 2c of the enclosure 20 of a target 10.例文帳に追加

ターゲット１０の第１柱状部材１２、第１柱状部材１２と一体的な制御部筐体２０、および側面２０ｃに対して回動可能な第２柱状部材１４との上面に、光の反射率の高い基準点部材３１〜３６を設ける。 - 特許庁

In a method for mounting at least two memory devices on a PCB, at least one of the memory devices is mounted on at least one of the surfaces of the PCB so that the datum line of the memory device in the lengthwise direction has a predetermined inclination with respect to the lengthwise direction of the PCB.例文帳に追加

ＰＣＢにメモリ装置を少なくとも２個以上搭載する方法において、前記メモリ装置中で少なくとも一つを前記ＰＣＢの長手方向に対し前記メモリ装置の長手方向の基準線が所定の傾斜を有するように、前記ＰＣＢの少なくとも一面に搭載する。 - 特許庁