digital circuit test systemとは 意味・読み方・使い方

To provide a digital line circuit testing system for a 2W multifunctional telephone set which makes a test for a digital line circuit for a 2W multifunctional telephone set to be unmanned and automated and shortens test time.例文帳に追加

２Ｗ多機能電話機用デジタルライン回路の試験の無人化、自動化、試験時間の短縮化を期す２Ｗ多機能電話機用デジタルライン回路試験方式を提供すること。 - 特許庁

A system 30 for testing a digital circuit by the scanning chain includes a tester 21, and the circuit 24 under the test as the whole or portion thereof.例文帳に追加

走査チェーンによってディジタル回路をテストするためのシステム３０は、テスター２１、およびその全てあるいは部分としてテスト中回路２４を含んでいる。 - 特許庁

To perform a quality decision test of ADC (analog-to-digital converter) without complicating the control system by dispensing with an additional external circuit.例文帳に追加

外付け回路の追加を不要にし、制御系を複雑化せずにＡＤＣの良否判定試験を行うことを可能とする。 - 特許庁

To provide an analog BIST (Built in self-test) circuit capable of controlling by a digital signal, reducing cost for a shipping test, and shortening a period for characteristic evaluation, and to provide an electronic system using the circuit.例文帳に追加

デジタル信号による制御を可能とし、出荷試験の費用削減および特性評価の期間を短縮することができるアナログＢＩＳＴ回路およびそれを用いた電子システムを提供する。 - 特許庁

The connection confirming test for the multibit in the A/D converter circuit can be performed with high accuracy and at low cost using logic tester, by inputting a digital expected value control signal from outside to the input of a latch circuit on the output side of an A/D converter circuit, and inputting this expected value control signal from the latch circuit into an internal system circuit so as to perform a connection test.例文帳に追加

この発明は、Ａ／Ｄコンバーター回路の出力側のラッチ回路の入力に外部からデジタルの期待値制御信号を入力して、この期待値制御信号をラッチ回路から内部のシステム回路に入力して結線テストを行うことによって、Ａ／Ｄコンバーター回路における多ビットの結線確認テストをロジックテスターにより高精度で且つ安価に行うことができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of rapidly and efficiently testing even a mixed signal integrated circuit having analog signals and digital signals mixed therein by modularizing various types of different test devices and combining a plurality of these devices with each other.例文帳に追加

各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせることにより、アナログ信号とデジタル信号の混在したミクストシグナル集積回路であってもその試験を迅速かつ効率よく試験できる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

The test system for semiconductor integrated circuit receiving test signals of a plurality of frequencies consists of a waveform generating section 106 of a DDS(Direct Digital Synthesizer; direct frequency synthesis) formula and a DAC107 and the like prepared in a latter part of the waveform generating section 106.例文帳に追加

複数の周波数のテスト信号を受ける半導体集積回路のテストシステムであって、ＤＤＳ（Ｄｉｒｅｃｔ Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｙｎｔｈｅｓｉｚｅｒ；直接周波数合成）方式の波形生成部１０６と、その波形生成部１０６の後段に設けられたＤＡＣ１０７などから構成される。 - 特許庁