electromigration failureとは 意味・読み方・使い方

To predict void formation and disconnection failure by a numerical simulation using electromigration (EM) damage control parameters of metal wiring.例文帳に追加

金属配線のＥＭ損傷支配パラメータを用いた数値シミュレーションにより、ボイド形成および断線故障に関する予測を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit for detecting a degradation phenomenon in an electromigration under the actual operation condition, an detecting a sign of a failure.例文帳に追加

実際の動作条件下においてエレクトロマイグレーションの劣化現象を検知すると共に、故障の兆候を検知することが可能な半導体集積回路を提供することである。 - 特許庁

To provide a module capable of anticipating failure of a circuit board containing a junction part of an active element by detecting such fractures, corresponding to, for example, a junction part of a bonding material for connecting the active element and a circuit pattern, as caused by Kirkendall voids and electromigration.例文帳に追加

カーケンダルボイドやエレクトロマグレーションよる例えば能動素子と回路パターンを接続する接合材の接合部に対応する破断を検出して能動素子の接合部を含む回路基板の故障を予兆することが可能なモジュールを提供する。 - 特許庁