electromigration damageとは 意味・読み方・使い方

To provide a wiring structure of a semiconductor device capable of preventing the damage to the wiring caused by electromigration.例文帳に追加

エレクトロマイグレーション（以下、ＥＭと称す）による配線損傷を防止することを可能にする半導体装置の配線構造を提供する。 - 特許庁

To predict void formation and disconnection failure by a numerical simulation using electromigration (EM) damage control parameters of metal wiring.例文帳に追加

金属配線のＥＭ損傷支配パラメータを用いた数値シミュレーションにより、ボイド形成および断線故障に関する予測を行う。 - 特許庁

Arranging the first conductive layer 69 and the second conductive layer 73, both of which are made of an aluminum alloy but are different from each other in a particle structure, under or over the second backup layer 71 reduces a probability of forming voids at the same point of the first conductive layer 69 and the second conductive layer 73, and prevents the damage to the wiring caused by electromigration.例文帳に追加

第２バックアップ層７１の下部と上部にアルミニウム合金で粒子構造が異なる第１伝導層６９と第２伝導層７３とを配置することにより、第１伝導層６９と第２伝導層７３の同一地点でボイドを形成する確率を少なくしてＥＭによる配線の損傷を防止する。 - 特許庁