イオン注入装置１０１は、イオンビームＩＢを発生、引き出すイオン源１１、マグネット（電磁石）を有する質量分析器１２、イオンビームを加速する加速器１３、静電レンズ、Ｑレンズ（４極レンズ）等のビーム収束部１４、そして、イオン源１１と質量分析器１２１の間、好ましくは静電レンズ１４１の後段にイオンビームエミッタンス測定機構１５が設けられる。 - 特許庁

To provide a method of aligning a group of cylindrical electrodes in a geometrical alignment of a small sized quadrupole electrostatic lens, which can serve as a mass filter in a quadrupole mass spectrometer.例文帳に追加

この発明は、四重極質量分析計で質量フィルターとして作用することができる、小型の四重極静電レンズの幾何学的配列で円柱状電極の組を整列する方法を提供する。 - 特許庁

The nanoparticle component measuring device for measuring nanoparticles in an exhaust gas which is a measurement gas 11 includes an electrostatic classifier 12 for classifying a nanoparticle component in the measurement gas 11, a mass spectrometer 16 measuring the component of the classified nanoparticles and having a laser device 17, and a first inner standard gas supply part for supplying a first inner standard gas 14-1 into the measurement gas introduced into the electrostatic classifier 12.例文帳に追加

計測ガス１１である排ガス中のナノ粒子を計測するナノ粒子成分計測装置であって、計測ガス１１中のナノ粒子成分を分級する静電分級器１２と、前記分級したナノ粒子の成分を計測するレーザ装置１７を有する質量分析装置１６と、前記静電分級器１２に導入する計測ガス中に第１の内部標準ガス１４−１を供給する第１の内部標準ガス供給部とを具備してなる。 - 特許庁

例文

In this mass spectrometer, by previously detecting a current value of an ion pulse coming flying from an ion source with two ion detectors 13, 14 provided in two triple-convergence planes of an electrostatic sector electric field type TOFMS spectral part and feeding the detected value to a final ion detector 11, a gain of the final ion detector 11 is controlled to avoid saturation of the final ion detector 11.例文帳に追加

静電セクター電場型ＴＯＦＭＳ分光部の２つの三重収束面に設けられた２つのイオン検出器を用いて、イオン源から飛来するイオンパルスの電流値を予め検知し、検知された量を最終イオン検出器にフィードさせることにより、最終イオン検出器のゲインを制御し、最終イオン検出器の飽和を回避させるように構成した。 - 特許庁

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