laser microscopyとは 意味・読み方・使い方

SCANNING LASER MICROSCOPY AND SCANNING LASER MICROSCOPE例文帳に追加

走査型レーザ顕微法及び走査型レーザ顕微鏡 - 特許庁

MODE-LOCKED LASER DEVICE, ULTRASHORT PULSE LIGHT SOURCE DEVICE, BROADBAND LIGHT SOURCE DEVICE, NON-LINEAR OPTICAL MICROSCOPY DEVICE, RECORDING DEVICE, AND OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY DEVICE例文帳に追加

モード同期レーザ装置、超短パルス光源装置、広帯域光源装置、非線形光学顕微装置、記録装置、及び光コヒーレンストモグラフィ装置 - 特許庁

To provide a multiphoton laser microscopy for achieving depth of visual field resolution that is comparable to one brought about by confocal laser scanning microscope, and also for reducing toxicity of both photobleaching and light.例文帳に追加

共焦点レーザ走査顕微鏡によりもたらされるものに匹敵する視野分解能の深度を与え、更に、光漂白及び光の有毒性を減少させる。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR PROVIDING TUNABLE OPTICAL PARAMETRIC OSCILLATOR LASER SYSTEM THAT PROVIDES DUAL FREQUENCY OUTPUT FOR NON-LINEAR VIBRATIONAL SPECTROSCOPY AND MICROSCOPY例文帳に追加

非線形振動分光法および顕微鏡法のための２周波出力を提供する同調可能な光パラメトリック発振器レーザシステムを提供するシステムおよび方法 - 特許庁

To provide a standard sample for evaluating silicon single crystal wafers containing octahedral BMD (bulk micro defects) in high density, of which the sizes can be found by LST (laser scattering tomography) and which can be measured by TEM (transmission electron microscopy) for size definition, its manufacturing method, and an evaluating method by using the correlation sample.例文帳に追加

ＬＳＴで欠陥サイズを求めることができ、かつサイズ定義に必要なＴＥＭで測定できる八面体のＢＭＤを高密度で含むシリコン単結晶ウェーハ評価用の標準サンプル、その製造方法及び標準サンプルを用いた評価方法を提供する。 - 特許庁