position interferenceとは 意味・読み方・使い方

A green light-emitting layer 15E is arranged including the position IB1 (a first-order interference position) near the first electrode 12 next to the nearest contact interference position IB0 out of the blue interference positions IB0, IB1, ....例文帳に追加

緑色発光層１５Ｅを、青色干渉位置ＩＢ０，ＩＢ１，…のうち最近接干渉位置ＩＢ０の次に第１電極１２に近い位置ＩＢ１（１次の干渉位置）を含んで配置する。 - 特許庁

The decision of the interference check between the tool and the workpiece in an interference checking unit 32 is performed on the basis of a command position after interpolation in an interpolation processing unit 31, and when interference occurs, the operation is stopped to prevent the occurrence of the interference with the tool.例文帳に追加

干渉チェック部３２での工具とワークとの干渉チェックの判断は、補間処理部３１での補間後の指令位置に基づいてなされ、干渉が発生する場合には、動作は停止して、工具と干渉発生を防止する。 - 特許庁

POSITION MEASUREMENT METHOD USING INTERFEROMETER, INTERFERENCE TYPE POSITION MEASUREMENT APPARATUS, ALGNER AND EXPOSURE METHOD例文帳に追加

干渉計を用いた位置測定方法、干渉式位置測定装置、露光装置及び露光方法 - 特許庁

When over-reaching interference is detected, a start position of a radio frame is delayed at random, or the start position of the radio frame is periodically delayed at random.例文帳に追加

あるいは、周期的に無線フレームの開始位置をランダムに遅延させる。 - 特許庁

The interference is gradually reduced from the maximum position P toward a bead toe 11, and a ratio Gt/Gc of the interference Gt at the bead toe 11 to the interference Gc at the maximum position P is 0-1.例文帳に追加

その最大位置Ｐからビードトウ１１に向けて締め代を次第に減少させ、ビードトウ１１における締め代Ｇｔ と最大位置Ｐにおける締め代Ｇｃ との比Ｇｔ ／Ｇｃ を０〜１とする。 - 特許庁

A blue light-emitting layer 13C is arranged including a nearest contact interference position IB0 (a zero-order interference position) nearest a first electrode 12 out of blue interference positions IB0, IB1, IB2, ....例文帳に追加

青色発光層１３Ｃを、青色干渉位置ＩＢ０，ＩＢ１，ＩＢ２，…のうち第１電極１２に最も近い最近接干渉位置ＩＢ０（０次の干渉位置）を含んで配置する。 - 特許庁

Since the interference light intensities at the aimed point and the peripheral point are measured, a position where the interference light intensity is sharply changed, namely a peak position of the interference light intensity can be easily detected.例文帳に追加

また、注目点とその近傍点との干渉光強度を測定するために、干渉光強度が急峻に変化する位置、つまり干渉光強度のピーク位置を検出し易くなる。 - 特許庁

Those interference signals from both optical heterodyne interference devices 30 and 40 enable to measure a grid pitch P (X) at a measuring position X.例文帳に追加

両光ヘテロダイン干渉装置３０、４０からの干渉信号により、測長位置Ｘにおける格子ピッチＰ（Ｘ）が計測できる。 - 特許庁