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「processing defect」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 846件
OBSERVED DEFECT SELECTING/PROCESSING METHOD, DEFECT OBSERVING METHOD, OBSERVED DEFECT SELECTING/PROCESSING SYSTEM, AND DEFECT OBSERVATION APPARATUS例文帳に追加
観察欠陥選択処理方法、欠陥観察方法、観察欠陥選択処理装置、欠陥観察装置 - 特許庁
DEFECT INTEGRATING PROCESSOR AND DEFECT INTEGRATING PROCESSING METHOD例文帳に追加
欠陥統合処理装置および欠陥統合処理方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION PROCESSING METHOD例文帳に追加
欠陥検査装置及び欠陥検査処理方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DATA PROCESSING METHOD例文帳に追加
欠陥検査データ処理方法 - 特許庁
OPTICAL DISK DEFECT PROCESSING DEVICE例文帳に追加
光ディスク欠陥処理装置 - 特許庁
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「processing defect」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 846件
PROCESSING SYSTEM FOR DEFECT INFORMATION AND PROCESSING METHOD FOR DEFECT INFORMATION例文帳に追加
不具合情報の処理システム及び不具合情報の処理方法 - 特許庁
DEFECT IMAGE PROCESSING DEVICE, DEFECT IMAGE PROCESSING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEFECT CLASSIFICATION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEFECT CLASSIFICATION METHOD例文帳に追加
欠陥画像処理装置、欠陥画像処理方法、半導体欠陥分類装置および半導体欠陥分類方法 - 特許庁
To minimize defect occurrence and defect processing cost by performing defect processing corresponding to the importance of an article defect.例文帳に追加
物品不具合の重要度に応じた不具合処理を行うことにより、不具合発生や不具合処理費用の極小化を図る。 - 特許庁
DEFECT DETECTING OPTICAL SYSTEM AND SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE FOR MOUNTING DEFECT DETECTING IMAGE PROCESSING例文帳に追加
欠陥検出光学系および欠陥検出画像処理を搭載した表面欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT MARKER, DEFECT MARKING PROCESSING LINE, METHOD OF MARKING DEFECT, AND METHOD OF MANUFACTIRING DEFECT-MARKED COIL例文帳に追加
欠陥マーキング装置、欠陥マーキング処理ライン、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングされたコイルの製造方法 - 特許庁
SIGNAL PROCESSING DEVICE, DEFECT DETECTION DEVICE, SIGNAL PROCESSING METHOD, DEFECT DETECTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
信号処理装置、欠陥検出装置、信号処理方法、欠陥検出方法およびプログラム - 特許庁
A processing control part 38 omits the secondary defect detection processing when a large defect is detected by the primary defect detection processing before start of the secondary defect detection processing, or finishes the secondary defect detection processing in the middle when a large defect is detected by the primary defect detection processing after start of the secondary defect detection processing.例文帳に追加
処理制御部38は、2次欠陥検出処理の開始前に1次欠陥検出処理で大欠陥が検出された場合に2次欠陥検出処理を省略する、または2次欠陥検出処理の開始後に1次欠陥検出処理で大欠陥が検出された場合に2次欠陥検出処理を途中で終了する。 - 特許庁
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