| 意味 | 例文 |
processing defectの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 846件
OPTICAL DISK DEFECT PROCESSING DEVICE例文帳に追加
光ディスク欠陥処理装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DATA PROCESSING METHOD例文帳に追加
欠陥検査データ処理方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION PROCESSING METHOD例文帳に追加
欠陥検査装置及び欠陥検査処理方法 - 特許庁
OBSERVED DEFECT SELECTING/PROCESSING METHOD, DEFECT OBSERVING METHOD, OBSERVED DEFECT SELECTING/PROCESSING SYSTEM, AND DEFECT OBSERVATION APPARATUS例文帳に追加
観察欠陥選択処理方法、欠陥観察方法、観察欠陥選択処理装置、欠陥観察装置 - 特許庁
PROCESSING SYSTEM FOR DEFECT INFORMATION AND PROCESSING METHOD FOR DEFECT INFORMATION例文帳に追加
不具合情報の処理システム及び不具合情報の処理方法 - 特許庁
DEFECT INTEGRATING PROCESSOR AND DEFECT INTEGRATING PROCESSING METHOD例文帳に追加
欠陥統合処理装置および欠陥統合処理方法 - 特許庁
DEFECT IMAGE PROCESSING DEVICE, DEFECT IMAGE PROCESSING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEFECT CLASSIFICATION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEFECT CLASSIFICATION METHOD例文帳に追加
欠陥画像処理装置、欠陥画像処理方法、半導体欠陥分類装置および半導体欠陥分類方法 - 特許庁
To minimize defect occurrence and defect processing cost by performing defect processing corresponding to the importance of an article defect.例文帳に追加
物品不具合の重要度に応じた不具合処理を行うことにより、不具合発生や不具合処理費用の極小化を図る。 - 特許庁
A defect detection and correction part 40 is composed so that defect detection processing has a plurality of defect detection modes and defect correction processing has a plurality of defect correction modes.例文帳に追加
欠陥検出修正部40は、欠陥検出処理は複数の欠陥検出モードを有し、欠陥修正処理は複数の欠陥修正モードを有する。 - 特許庁
IMAGE PROCESSING DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
画像処理装置及び欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT MARKER, DEFECT MARKING PROCESSING LINE, METHOD OF MARKING DEFECT, AND METHOD OF MANUFACTIRING DEFECT-MARKED COIL例文帳に追加
欠陥マーキング装置、欠陥マーキング処理ライン、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングされたコイルの製造方法 - 特許庁
DISK STORAGE DEVICE AND METHOD FOR PROCESSING DEFECT例文帳に追加
ディスク記憶装置及び欠陥処理方法 - 特許庁
DEFECT PREVENTION SYSTEM FOR PROCESSING DEVICE例文帳に追加
加工装置の不良発生未然防止システム - 特許庁
A processing control part 38 omits the secondary defect detection processing when a large defect is detected by the primary defect detection processing before start of the secondary defect detection processing, or finishes the secondary defect detection processing in the middle when a large defect is detected by the primary defect detection processing after start of the secondary defect detection processing.例文帳に追加
処理制御部38は、2次欠陥検出処理の開始前に1次欠陥検出処理で大欠陥が検出された場合に2次欠陥検出処理を省略する、または2次欠陥検出処理の開始後に1次欠陥検出処理で大欠陥が検出された場合に2次欠陥検出処理を途中で終了する。 - 特許庁
This defect detection method includes a defect emphatic processing process for performing defect emphatic processing to an imaged image, and a defect detection process for detecting a defect.例文帳に追加
欠陥検出方法は、撮像画像に対して欠陥強調処理を行う欠陥強調処理工程と、欠陥を検出する欠陥検出工程とを有している。 - 特許庁
DEFECT DETECTING OPTICAL SYSTEM AND SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE FOR MOUNTING DEFECT DETECTING IMAGE PROCESSING例文帳に追加
欠陥検出光学系および欠陥検出画像処理を搭載した表面欠陥検査装置 - 特許庁
SIGNAL PROCESSING DEVICE, DEFECT DETECTION DEVICE, SIGNAL PROCESSING METHOD, DEFECT DETECTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
信号処理装置、欠陥検出装置、信号処理方法、欠陥検出方法およびプログラム - 特許庁
SECONDARY PROCESSING METHOD FOR CORRECTION POINT OF PHOTOMASK DEFECT例文帳に追加
フォトマスク欠陥修正個所の二次処理方法 - 特許庁
ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTOR AND ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTING/PROCESSING PROGRAM例文帳に追加
物品欠陥情報検出装置及び物品欠陥情報検出処理プログラム - 特許庁
DEFECT RELIEVING CIRCUIT FOR STORAGE DEVICE FOR PROCESSING PICTURE, AND ITS DEFECT RELIEVING METHOD例文帳に追加
画像処理用記憶装置の欠陥救済回路およびその欠陥救済方法 - 特許庁
ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTOR AND ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTION PROCESSING PROGRAM例文帳に追加
物品欠陥情報検出装置及び物品欠陥情報検出処理プログラム - 特許庁
OPTICAL DISK DEVICE AND DEFECT PROCESSING METHOD OF OPTICAL DISK例文帳に追加
光ディスク装置及び光ディスクの欠陥処理方法 - 特許庁
METHOD FOR DETERMINING CLEARING OF YARN DEFECT AND DEVICE FOR PROCESSING YARN例文帳に追加
糸欠点のクリアリング判定方法と糸処理装置 - 特許庁
DEFECT INFORMATION MANAGEMENT METHOD AND RECORDING MEDIUM PROCESSING DEVICE例文帳に追加
欠陥情報管理方法及び記録媒体処理装置 - 特許庁
LEARNING TYPE DEFECT DISCRIMINATION PROCESSING SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
学習型欠陥弁別処理システム、方法及びプログラム - 特許庁
OPTICAL DISK DRIVE AND DEFECT PROCESSING METHOD FOR OPTICAL DISK DRIVE例文帳に追加
光ディスク装置及び光ディスクの欠陥処理方法 - 特許庁
METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR PROCESSING FILE SYSTEM DEFECT, AND MEDIUM例文帳に追加
ファイルシステム欠陥処理方法、装置、プログラム、及び媒体 - 特許庁
OPTICAL DISK APPARATUS AND DEFECT PROCESSING METHOD FOR OPTICAL DISK例文帳に追加
光ディスク装置及び光ディスクの欠陥処理方法 - 特許庁
DEFECT AREA PROCESSING METHOD USING LINKING-TYPE INFORMATION例文帳に追加
リンキングタイプ情報を用いた欠陥領域処理方法 - 特許庁
To provide a defect review device capable of continuing defect review even if one image processing device is failed, concerning a defect review device for executing defect review or defect classification by using a plurality of image processing devices.例文帳に追加
複数台の画像処理装置を用いて欠陥レビューないし欠陥分類を実行する欠陥レビュー装置において、1台の画像処理装置が故障しても欠陥レビューを継続可能な欠陥レビュー装置を実現する。 - 特許庁
INFORMATION STORAGE MEDIUM STORING DEFECT MANAGEMENT INFORMATION, ALTERNATION PROCESSING METHOD OF DEFECT MANAGEMENT INFORMATION, AND APPARATUS PERFORMING ALTERNATION PROCESSING OF DEFECT MANAGEMENT INFORMATION例文帳に追加
欠陥管理情報を格納する情報記憶媒体、欠陥管理情報の交替処理方法、および欠陥管理情報の交替処理を行なう装置 - 特許庁
COMMON DEFECT PROCESSING METHOD IN COLOR-FILTER PATTERN INSPECTION MACHINE例文帳に追加
カラーフィルタパターン検査機における共通欠陥処理方法 - 特許庁
IMAGE SIGNAL PROCESSING APPARATUS AND DETECTION METHOD OF PIXEL DEFECT例文帳に追加
画像信号処理装置及び画素欠陥の検出方法 - 特許庁
The image processing apparatus includes a defect determination circuit 14 which is defect determination means.例文帳に追加
実施形態によれば、画像処理装置は、キズ判定手段であるキズ判定回路14を有する。 - 特許庁
SECONDARY PROCESSING METHOD FOR CORRECTED PART OF PHOTOMASK DEFECT BY CHARGE PARTICLE MASK DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加
荷電粒子マスク欠陥修正装置によるフォトマスク欠陥修正個所の二次処理方法 - 特許庁
A data processing part 10 performs a defect analytical processing operation based on the two data.例文帳に追加
データ処理部10はこれら2つのデータに基づく不良解析処理を行う。 - 特許庁
To reduce an amount of processing data in detecting discharge defect.例文帳に追加
吐出不良検出における処理データの量を削減する。 - 特許庁
The processing element can identify a defect of the complex structure.例文帳に追加
処理要素は複合構造の欠陥を識別することができる。 - 特許庁
IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD FOR MONITORING IMAGE DEFECT SUPPRESSION PROCESSING例文帳に追加
画像形成装置及び画像欠陥抑制処理監視方法 - 特許庁
DETECTION SIGNAL PROCESSING METHOD FOR PERIODIC DEFECT, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
周期性欠陥の検出信号処理方法及びその装置 - 特許庁
Then, in a failure probability calculation processing 13 for each defect, the failure probability of each defect in the defect map data is calculated and the defect map data with the failure probability are prepared.例文帳に追加
次に、欠陥別不良確率算出処理13で、欠陥マップデータ中の各欠陥の不良確率を算出し、不良確率付き欠陥マップデータを作成する。 - 特許庁
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