「processing defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

OPTICAL DISK DEFECT PROCESSING DEVICE例文帳に追加

光ディスク欠陥処理装置 - 特許庁

DEFECT PROCESSING ANALYZER AND METHOD例文帳に追加

不具合処理分析装置及び方法 - 特許庁

PROCESSING SYSTEM FOR DEFECT INFORMATION AND PROCESSING METHOD FOR DEFECT INFORMATION例文帳に追加

不具合情報の処理システム及び不具合情報の処理方法 - 特許庁

DEFECT IMAGE PROCESSING DEVICE, DEFECT IMAGE PROCESSING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEFECT CLASSIFICATION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEFECT CLASSIFICATION METHOD例文帳に追加

欠陥画像処理装置、欠陥画像処理方法、半導体欠陥分類装置および半導体欠陥分類方法 - 特許庁

To minimize defect occurrence and defect processing cost by performing defect processing corresponding to the importance of an article defect.例文帳に追加

物品不具合の重要度に応じた不具合処理を行うことにより、不具合発生や不具合処理費用の極小化を図る。 - 特許庁

DEFECT DETECTING OPTICAL SYSTEM AND SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE FOR MOUNTING DEFECT DETECTING IMAGE PROCESSING例文帳に追加

欠陥検出光学系および欠陥検出画像処理を搭載した表面欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT DATA PROCESSING METHOD AND DATA PROCESSING DEVICE例文帳に追加

欠陥データ処理方法、およびデータの処理装置 - 特許庁

DEFECT MARKER, DEFECT MARKING PROCESSING LINE, METHOD OF MARKING DEFECT, AND METHOD OF MANUFACTIRING DEFECT-MARKED COIL例文帳に追加

欠陥マーキング装置、欠陥マーキング処理ライン、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングされたコイルの製造方法 - 特許庁

SIGNAL PROCESSING DEVICE, DEFECT DETECTION DEVICE, SIGNAL PROCESSING METHOD, DEFECT DETECTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

信号処理装置、欠陥検出装置、信号処理方法、欠陥検出方法およびプログラム - 特許庁

A processing control part 38 omits the secondary defect detection processing when a large defect is detected by the primary defect detection processing before start of the secondary defect detection processing, or finishes the secondary defect detection processing in the middle when a large defect is detected by the primary defect detection processing after start of the secondary defect detection processing.例文帳に追加

処理制御部３８は、２次欠陥検出処理の開始前に１次欠陥検出処理で大欠陥が検出された場合に２次欠陥検出処理を省略する、または２次欠陥検出処理の開始後に１次欠陥検出処理で大欠陥が検出された場合に２次欠陥検出処理を途中で終了する。 - 特許庁

INFORMATION STORAGE MEDIUM STORING DEFECT MANAGEMENT INFORMATION, ALTERNATION PROCESSING METHOD OF DEFECT MANAGEMENT INFORMATION, AND APPARATUS PERFORMING ALTERNATION PROCESSING OF DEFECT MANAGEMENT INFORMATION例文帳に追加

欠陥管理情報を格納する情報記憶媒体、欠陥管理情報の交替処理方法、および欠陥管理情報の交替処理を行なう装置 - 特許庁

This defect detection method includes a defect emphatic processing process for performing defect emphatic processing to an imaged image, and a defect detection process for detecting a defect.例文帳に追加

欠陥検出方法は、撮像画像に対して欠陥強調処理を行う欠陥強調処理工程と、欠陥を検出する欠陥検出工程とを有している。 - 特許庁

To provide a defect review device capable of continuing defect review even if one image processing device is failed, concerning a defect review device for executing defect review or defect classification by using a plurality of image processing devices.例文帳に追加

複数台の画像処理装置を用いて欠陥レビューないし欠陥分類を実行する欠陥レビュー装置において、１台の画像処理装置が故障しても欠陥レビューを継続可能な欠陥レビュー装置を実現する。 - 特許庁

A defect detection and correction part 40 is composed so that defect detection processing has a plurality of defect detection modes and defect correction processing has a plurality of defect correction modes.例文帳に追加

欠陥検出修正部４０は、欠陥検出処理は複数の欠陥検出モードを有し、欠陥修正処理は複数の欠陥修正モードを有する。 - 特許庁

SECONDARY PROCESSING METHOD FOR CORRECTION POINT OF PHOTOMASK DEFECT例文帳に追加

フォトマスク欠陥修正個所の二次処理方法 - 特許庁

IMAGE SIGNAL PROCESSING APPARATUS AND DETECTION METHOD OF PIXEL DEFECT例文帳に追加

画像信号処理装置及び画素欠陥の検出方法 - 特許庁

IMAGING APPARATUS, AND DEFECT PIXEL PROCESSING METHOD例文帳に追加

撮像装置及び欠陥画素処理方法 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING CLEARING OF YARN DEFECT AND DEVICE FOR PROCESSING YARN例文帳に追加

糸欠点のクリアリング判定方法と糸処理装置 - 特許庁

DEFECT JUDGING SYSTEM AND SUBSTRATE PROCESSING SYSTEM例文帳に追加

欠陥判定システムおよび基板処理システム - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTION SYSTEM AND DATA PROCESSING METHOD例文帳に追加

表面欠陥検出システム及びデータ処理方法 - 特許庁

OPTICAL DISK DEVICE AND DEFECT PROCESSING METHOD OF OPTICAL DISK例文帳に追加

光ディスク装置及び光ディスクの欠陥処理方法 - 特許庁

FEATURE DEFECT DETECTION DEVICE AND DOCUMENT PROCESSING DEVICE例文帳に追加

形体欠陥検出装置および帳票加工装置 - 特許庁

METHOD FOR SPECIFYING CAUSE OF DEFECT AND SUBSTRATE PROCESSING DEVICE例文帳に追加

不良原因特定方法及び基板処理装置 - 特許庁

OPTICAL DISK DRIVE AND DEFECT PROCESSING METHOD FOR OPTICAL DISK DRIVE例文帳に追加

光ディスク装置及び光ディスクの欠陥処理方法 - 特許庁

DISK STORAGE DEVICE AND METHOD FOR PROCESSING DEFECT例文帳に追加

ディスク記憶装置及び欠陥処理方法 - 特許庁

DEFECT PREVENTION SYSTEM FOR PROCESSING DEVICE例文帳に追加

加工装置の不良発生未然防止システム - 特許庁

DEFECT INFORMATION MANAGEMENT METHOD AND RECORDING MEDIUM PROCESSING DEVICE例文帳に追加

欠陥情報管理方法及び記録媒体処理装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD AND APPARATUS BY IMAGE PROCESSING例文帳に追加

画像処理による欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像処理装置及び欠陥検査装置 - 特許庁

OPTICAL DISK APPARATUS AND DEFECT PROCESSING METHOD FOR OPTICAL DISK例文帳に追加

光ディスク装置及び光ディスクの欠陥処理方法 - 特許庁

DEFECT AREA PROCESSING METHOD USING LINKING-TYPE INFORMATION例文帳に追加

リンキングタイプ情報を用いた欠陥領域処理方法 - 特許庁

An n-type defect layer being a lattice defect is formed by the proton irradiation and the low-temperature annealing processing.例文帳に追加

プロトン照射とその低温アニール処理により格子欠陥であるｎ型欠陥層を形成できる。 - 特許庁

SECONDARY PROCESSING METHOD FOR CORRECTED PART OF PHOTOMASK DEFECT BY CHARGE PARTICLE MASK DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加

荷電粒子マスク欠陥修正装置によるフォトマスク欠陥修正個所の二次処理方法 - 特許庁

ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTOR AND ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTION PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

物品欠陥情報検出装置及び物品欠陥情報検出処理プログラム - 特許庁

DEFECT RELIEVING CIRCUIT FOR STORAGE DEVICE FOR PROCESSING PICTURE, AND ITS DEFECT RELIEVING METHOD例文帳に追加

画像処理用記憶装置の欠陥救済回路およびその欠陥救済方法 - 特許庁

The image processing apparatus includes a defect determination circuit 14 which is defect determination means.例文帳に追加

実施形態によれば、画像処理装置は、キズ判定手段であるキズ判定回路１４を有する。 - 特許庁

ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTOR AND ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTING/PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

物品欠陥情報検出装置及び物品欠陥情報検出処理プログラム - 特許庁

In respective steps of a compiling procedure, a step for checking whether a defect is regenerated or not is prepared, and when the defect is regenerated, processing is returned to a step causing the generation of the defect and the processing is retried by a processing step including no defect.例文帳に追加

コンパイル手順の各ステップにおいて、不良が再現したかどうかを調べるステップを設け、不良が再現した場合、不良発生原因となったステップに戻り、不良を含まない処理ステップにて処理をやり直す。 - 特許庁

A primary defect detection part 36 executes primary defect detection processing for detecting existence of a large defect larger than the prescribed size on an inspection object.例文帳に追加

１次欠陥検出部３６は、検査対象物上の所定サイズ以上の大欠陥の有無を検出する１次欠陥検出処理を実行する。 - 特許庁

A processing unit detects a defect on a wafer surface, on the basis of image data, and stores the defect information in the defect information storage area.例文帳に追加

処理装置が、画像データに基づいて、ウエハ表面上の欠陥を検出し、欠陥の情報を、欠陥情報記憶部に記憶させる。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of detecting a defect independently, and calculating a characteristic quantity of the detected defect, and an image processing device therefor.例文帳に追加

単独で欠陥を検出し検出した欠陥の特徴量を算出することができる欠陥検査装置及びその画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect observation device which inputs a training defect and ideal output that is based on image processing of the training defect, and which can readily and rapidly set image processing parameters required for the classification of the defect type.例文帳に追加

教示欠陥および教示欠陥の画像処理による理想出力を入力し、欠陥種の分類に必要な画像処理パラメタの設定作業を容易かつ高速に行うことができる欠陥観察装置を提供する。 - 特許庁

The signal processing section 34 identifies a position of a defect caused at an exposure start position of the received image data by using a defect correction pulse 186a and applies defect correction processing to the pixel data at this position to output a normal image without a defect.例文帳に追加

信号処理部34では、供給される画像データの露出開始位置に生じる傷の位置を欠陥補正パルス186aで特定してこの位置の画素データに欠陥補正処理を施して欠陥のない正常な画像を出力する。 - 特許庁

After first defect inspection processing (step S11) for inspecting whether there is a defect on a wafer or not is performed, a defective chip is determined by the defect detected by the first defect inspection processing (steps S12, S13).例文帳に追加

ウェハ上に欠陥があるか否かを検査する第１の欠陥検査処理（ステップＳ１１）を実行した後、その第１の欠陥検査処理にて検出された欠陥により、不良チップを判定する（ステップＳ１２，Ｓ１３）。 - 特許庁

To provide a substrate processing apparatus and a substrate processing method which can prevent a defect in processing on a substrate.例文帳に追加

基板の処理不良を防止することができる基板処理装置および基板処理方法を提供する。 - 特許庁