「processing defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a reticle repair method which can exactly and easily detect the end point of repair processing in repair processing of the pattern defect of a reticle.例文帳に追加

レチクルのパターン欠陥を修正加工する際に的確且つ容易に修正加工の終点を検出できるレチクルリペア方法を提供する。 - 特許庁

By this method, an error caused by a defect signal formed in a period of HS-HE is reducible to the utmost since a defect processing signal G for improving the detected defect signal is arranged so as to be generated for a period longer than that of the detection signal of the defect.例文帳に追加

本発明では、検出されたディフェクト信号を改善するためのディフェクト処理信号Ｇを、ディフェクトの検出信号Ｄの期間より長い期間だけ生成するようにしたので、ＨＳ〜ＨＥの期間でなるディフェクト信号によるエラーを極力低減することができる。 - 特許庁

A defect image processing device performs image matching by normalized cross correlation between the layout image 52 obtained from the design data and an image obtained by removing a defect region part from the defect image 53, and displays a layout image and defect image 54 as a matching result on a device.例文帳に追加

欠陥画像処理装置は、設計データから得られるレイアウト画像５２と、欠陥画像５３から欠陥領域部分を除去した画像と、を正規化相互相関により画像マッチングし、そのマッチング結果として、レイアウト画像＆欠陥画像５４を表示装置に表示する。 - 特許庁

To easily determine whether a defect left on a mask substrate after cleaning processing is carried out on the mask substrate is caused by the cleaning processing process or an internal defect of the mask substrate itself.例文帳に追加

マスク基板に対して洗浄加工を行なった場合の洗浄加工後にマスク基板に残る欠陥が洗浄加工プロセスによるものなのか、マスク基板自体の内部欠陥によるものなかを容易に判定する。 - 特許庁

A known standard defect 9 is provided in a sample 2, the defect appearing on a surface of the sample 2 is detected, and prescribed processing recipe evaluation information that varies in response to difference in a processing recipe used in the prescribed production process is acquired, based on a detection result of the standard defect 9.例文帳に追加

試料２に既知の標準欠陥９を設けて、試料２の表面に現れる欠陥を検出し、所定の製造プロセスで使用された処理レシピの相違に応じて変化する所定の処理レシピ評価情報を、標準欠陥９の検出結果に基づいて取得する。 - 特許庁

In each arithmetic processing part 41-43, the photographic data are image-processed for 100 lines to perform specifying a detection range, elicitation by binarization of the image data with a defect threshold, bleb processing for taking, the elicited defect images, when they are vertically and laterally continued, as a mass of bleb, and defect determination and defect kind determination based on the area of bleb.例文帳に追加

各演算処理部４１〜４３で１００ライン毎に画像処理して、検出範囲の特定、欠陥しきい値による画像データの２値化による顕在化、顕在化された欠陥画像が上下左右で連続しているときにこれを１かたまりのブレブとするブレブ処理、ブレブの面積に基づく欠陥判別及び欠陥種別判別を行う。 - 特許庁

A control mechanism 103 performs signal processing relative to the intensity of a reflected wave signal obtained from defect DE-V, defect DE-H or the like, when scanning at an optional angle with the ultrasonic wave, to thereby detect a defect and measure a length.例文帳に追加

制御機構１０３は、超音波を任意の角度で走査したとき、欠陥ＤＥ—Ｖおよび欠陥ＤＥ—Ｈ等から得られる反射波信号の強度を、信号処理を行うことで欠陥の検出および長さ測定を行う。 - 特許庁

The reticle is transferred into a pattern defect correcting device and only the black defect on the reticle is extracted and, for example, the defect coordinate data obtained during the reticle pattern inspection and the coordinates within the defective device are opposed, by which a processing size is defined.例文帳に追加

レチクルをパターン欠的修正装置内に搬送し、レチクル上の黒欠陥のみを抽出し、例えば、レチクルパターン検査時に得た欠陥座標データと欠陥装置内の座標とを相対させて、加工サイズを定義する。 - 特許庁

In an initial inspection, defect detection processing for the solid- state image pickup element is performed, a defect number is attached to the detected defective pixel, and defect information (a defective part and a defective level) is successively stored in a memory space block 10.例文帳に追加

初期検査時において、固体撮像素子の欠陥検出処理を行い、この検出された欠陥画素に欠陥番号を付して欠陥情報（欠陥個所、欠陥レベル）を順次メモリ空間ブロック１０に格納していく。 - 特許庁

The defect detection method comprises an image acquiring process for capturing the image of the object to be inspected having an identical sequence of pattern, and a defect emphasizing process for performing the defect emphasizing processing to the captured image.例文帳に追加

欠陥検出方法は、同一繰り返しパターンを有する被検査物を撮像して画像を取得する画像取得工程と、取得した画像に対して欠陥強調処理を行う欠陥強調処理工程とを有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor processing apparatus which eliminates a defect caused from a reaction product produced in a reaction pipe, and controls deterioration of processing performance; and to provide a semiconductor processing method.例文帳に追加

処理性能の低下を抑制しつつ、反応管内に生じた反応生成物による不具合を解消する半導体処理装置および半導体処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus, an image processing method, an image processing program, and a defect detection apparatus capable of detecting a circular part with high accuracy from a captured image of an inspection target.例文帳に追加

被検査物の撮像画像から円形状の部分を高精度に検出できる画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム、及び欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

An image processing part 30 for processing an electric signal output from an imaging element is composed of a plurality of processing blocks (1) to N such as defect pixel correction, optical black and white balance.例文帳に追加

撮像素子から出力される電気信号を処理するための画像処理部３０は、欠陥画素補正、オプティカルブラック、ホワイトバランスなど複数の処理ブロック 〜Ｎから構成される。 - 特許庁

To provide an image processing device and an image processing method that are used to determine a weld defect, that can accurately recognize the shape of a bead, and that can reduce an image processing load.例文帳に追加

溶接欠陥の判別に用いられ、ビードの形状を正確に認識可能であり、画像処理負荷を低減可能とする画像処理装置及び画像処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a rinse processing method whereby the condition for reducing the developing defect of an objective wafer is so grasped rapidly regardless of the objective wafer as to be able to perform its rinse processing after subjecting it to a developing processing.例文帳に追加

対象基板によらず現像欠陥の少なくなる条件を迅速に把握して現像処理後のリンス処理を行うことができるリンス処理方法を提供すること。 - 特許庁

To perform an optimize image processing by appropriately correcting a defect in shape information obtained from the image of an object.例文帳に追加

物体の画像から得られる形状の情報の欠陥を適切に補正して、最適な画像処理を行う。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus that forms an image by suppressing the occurrence of an image defect caused by screen processing.例文帳に追加

スクリーン処理に伴う画像欠陥の発生を抑えて画像形成を行う画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The image processing apparatus includes a defect determination circuit 14, a selector 15 and an SNR estimator 16.例文帳に追加

実施形態によれば、画像処理装置は、キズ判定回路１４と、セレクタ１５と、ＳＮＲ推定器１６と、を有する。 - 特許庁

The acquired images are automatically classified by an image processing section, and the results are added to a defect file to be output.例文帳に追加

取得した画像は、画像処理部で自動的に分類され、結果を欠陥ファイルに追加して出力される。 - 特許庁

To provide a solid-state imaging device and data processing apparatus the memory defect of which can be effectively detected.例文帳に追加

効果的にメモリ欠陥の検出を行うことができる固体撮像装置及びデータ処理装置を提供する。 - 特許庁

To reduce discontinuous residual noise which is conventionally a defect in a spectrum subtraction processing.例文帳に追加

スペクトル減算処理において従来欠点であった、不連続な残留雑音を削減することを目的とする。 - 特許庁

The image thus obtained undergoes image processing by an image processor 19, and defect information is transmitted to the computer 20.例文帳に追加

得られた画像は画像処理装置１９で信号処理を行い欠陥情報をコンピュータ２０に伝達する。 - 特許庁

The wall surface image is picked up by the image pickup device 6 and a defect determining process is carried out by the image processing device 7.例文帳に追加

この壁面像を撮像装置６で撮像して画像処理装置７で欠陥判定処理を行う。 - 特許庁

To provide a quartz glass ingot of ultra low contamination and defect levels for use in semiconductor processing applications.例文帳に追加

半導体加工用途で使用するための不純物レベル及び欠陥濃度の低い石英ガラスインゴットの提供。 - 特許庁

The parameter calculated in the processing process is set as a threshold for blot defect detection in a threshold setting process.例文帳に追加

閾値設定工程では、画像処理工程にて算出されたパラメータをシミ欠陥検出用閾値として設定する。 - 特許庁

To provide a signal processing apparatus such as an audio signal processing apparatus capable of efficient processing even on the occurrence of a defect or a biased operating rate or load in part of signal processing processors such as a part of DSPs.例文帳に追加

一部のＤＳＰ等の信号処理プロセッサに不具合や稼働率あるいは負荷の偏りが発生したような場合にも、効率的な処理を維持できる音声信号処理装置等の信号処理装置を得ること。 - 特許庁

To provide a video signal processing apparatus capable of obtaining excellent image quality without causing a defect to a video image even when the video signal processing apparatus continuously receives one-side fields such as a non-standard signal.例文帳に追加

非標準信号のような片側フィールドが連続して送られてきた場合でも映像破綻を来すことなく良好な画質を得る。 - 特許庁

To provide a repair-processing technique for casting defect in an aluminum alloy casting with which the processing time is shortened and this productivity is remarkably improved.例文帳に追加

処理時間を短縮してその生産性を大幅に改善したアルミニウム合金鋳物における鋳物欠陥の補修処理技術を提供する。 - 特許庁

A system control section 18 controls defect discrimination and interpolation processing of a signal processing section 36 of a digital camera 10 to compensate data with respect to a defective pixel.例文帳に追加

ディジタルカメラ10は、システム制御部18により信号処理部36に対する欠陥判定、補間処理の制御を受けて、欠陥画素に対するデータ補償を行う。 - 特許庁

An image processing device 4 detecting the defect of the panel 1 by processing the image data is installed.例文帳に追加

更に、カメラ３ａ及び３ｂからパネル１の画像データが入力され、この画像データを画像処理してパネル１の欠陥を検出する画像処理装置４を設ける。 - 特許庁

To prevent generation of processing defect in a substrate due to an increase of leak flow rate of He gas in a processing device for carrying out dry etching and plasma CVD film deposition.例文帳に追加

ドライエッチングやプラズマＣＶＤ膜堆積する処理装置において、Ｈｅガスのリーク流量増大による基板の処理不良が発生するのを防止する。 - 特許庁

To surely detect a defect of power source current at the standby time of a data processing section in a semiconductor memory having a memory array and the data processing section.例文帳に追加

メモリアレイおよびデータ処理部を有する半導体記憶装置としてデータ処理部の待機時電源電流不良を確実に検出可能にする。 - 特許庁

In an image processing device 4, two-dimensional fast Fourier transformation processing is executed by a two-dimensional fast Fourier transformation processing part 10, relative to an original image imaged by the image input device 3, and existence of a defect of the rolled film is discriminated by a defect discrimination part 15, based on the processing result of the two-dimensional fast Fourier transformation processing part 10.例文帳に追加

そして、画像処理装置４が、その２次元高速フーリエ変換処理部１０によって画像入力装置３により撮像された原画像に対して２次元高速フーリエ変換処理を行ない、欠陥判別部１５によって２次元高速フーリエ変換処理部１０の処理結果に基づいてロール状フィルムの欠陥の有無を判別する。 - 特許庁

Namely, when a predetermined number of defects are not removed from the substrate through the cleaning processing on the substrate, the possibility that a defect is present in the mask substrate is high, so detection processing for the defect in the substrate is carried out.例文帳に追加

すなわち、基板の洗浄加工処理によって基板から所定数の欠陥が除去されなかった場合には、マスク基板の内部に欠陥が存在する可能性が高いので、基板内部の欠陥の検出処理行い。 - 特許庁

The image processing device 1 detects defect pixels by performing image processing on image data, and performs quality determination on the inspection target based on a first inspection condition C1 set based on either the number or positions of defect pixels.例文帳に追加

画像処理装置１は、画像データを画像処理することで欠陥画素を検出し、欠陥画素数または位置の何れか一方に基づいて設定された第１の検査条件Ｃ１によって、検査対象物の良否判定を行う。 - 特許庁

To provide a lighting system for detecting a minute defect of several micrometer order in surface inspection of detecting a defect in the surface of an inspecting object by imaging processing.例文帳に追加

画像処理により検査対象物の表面の欠陥を検出する表面検査において、数μｍオーダの微小欠陥の検出を可能にする照明装置を提供する。 - 特許庁

At this time, the defect correction unit 17 corrects a defective pixel based on information for a location of the defective pixel stored at a defect memory 16, and outputs the result to a camera signal processing unit 18.例文帳に追加

このとき、欠陥補正部１７は、欠陥記憶部１６に記憶されている欠陥画素位置の情報に基づいて欠陥画素を補正し、カメラ信号処理部１８に出力する。 - 特許庁

To provide an optical recording apparatus which can perform correct recording operation by detecting a defect and an impact and performing proper processing in accordance with levels of the defect and the impact.例文帳に追加

ディフェクトや衝撃を検出して、そのレベルに応じた適切な処理を行うことにより、正しい記録動作を実現する光記録装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The defect detection unit 15 executes white defective pixel detection processing using the all black images and stores information for the pixel location of the defective pixel detected in the defect memory 16.例文帳に追加

欠陥検出部１５は、全黒画像を用いて白欠陥画素検出処理を実行し、検出された欠陥画素の画素位置の情報を欠陥記憶部１６に記憶させる。 - 特許庁

To provide a defect information management device capable of acquiring necessary and effective information accurately by processing information on a defect (failure) of an enormous amount of product appropriately.例文帳に追加

膨大な製品の不具合（故障）に関する情報を適切に加工し、必要かつ有効な情報を的確に取得することが可能な不具合情報管理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting pattern defect in which the processing quantity in the detection of defect by the comparison of a pattern to be inspected with a non-defective pattern is reduced to improve the inspection speed.例文帳に追加

検査対象パターンを良品パターンと比較して欠陥を検出するときの処理量を削減して検査速度の向上を図ったパターン欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

The transcribed surface includes the surface defect, and this method further includes formation of a film on the transcribed surface including the surface defect, and polishing processing relative to the surface of the formed film.例文帳に追加

上記被転写面は表面欠陥を含み、該表面欠陥を含む被転写面上に被膜を形成し、かつ形成された被膜表面に研磨処理を施すことを更に含む。 - 特許庁

In a defect detection processing part 7, the difference in pixel value units, between the inspection object image 6a and the reference image 6b decomposed into space elements, is determined based on the detection gradation threshold set in a defect discrimination condition file 8, and thereby defect is detected.例文帳に追加

欠陥検出処理部７においては、欠陥判別条件ファイル８に設定されている検出諧調閾値を基に、空間要素に分解した被検物体像６ａとリファレンス画像６ｂの画素値単位に相違を求め、欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide an automatic defect classifying device for small automatic defects inspecting device by shortening a processing time necessary for inspecting and classifying the defects, and by reducing human intervention to a minimum, and an automatic defect inspecting device having the automatic defect classifying device.例文帳に追加

小型で、欠陥検査及び分類を通した処理時間を短縮させ、人間の介在を最小限に抑える、自動欠陥検査装置用の自動欠陥分類装置及び自動欠陥分類装置を備える自動欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

The defect inspection device includes a signal processing device for imaging an image of a photomask in various illumination conditions, detecting a defect of the photomask by using an output signal from an A/D converter, and outputting a color image of the photomask including the detected defect.例文帳に追加

フォトマスクの画像を種々の照明条件のもとで撮像し、Ａ／Ｄ変換器からの出力信号を用いてフォトマスクの欠陥を検出し、検出された欠陥を含むフォトマスクのカラー画像を出力する信号処理装置とを具える。 - 特許庁